低温下，风险因素主要来自负极侧的析锂及锂枝晶的生成。
常温下，风险因素主要来自极化（欧姆极化、电化学极化等）产热，或大倍率充/放电下的产热。
高温下，风险因素主要来自材料的失效，包括：SEI的分解，隔膜的收缩等。
