韩国_XRF2000L_荧光金属镀层测厚仪

产品介绍 
XRF-2000L荧光金属镀层测厚仪产品描述： 应用 :
测量镀金、涂层、薄膜、元素的成分或者是厚度，其可侦测元素的范围： Ti(22)~U(92 )。 行业 :
五金类、螺丝类、 PCB 类、连接器端子类行业、电镀类等。 特色 :
非破坏，非接触式检测分析，快速精準。
可测量高达六层的镀层 (五层厚度 + 底材 ) 并可同时分析多种元素。

相容Microsoft微软作业系统之测量软体，操作方便，直接可用Office软体编辑报告 。 全系列独特设计样品与光径自动对準系统。
标準配备: 溶液分析软体 ，可以分析电镀液成份与含量。 準直器口径多种选择，可根据样品大小来选择準值器的口径。 移动方式：全系列全自动载台电动控制，减少人为视差。 独特2D与3D或任意位置表面量测分析。
雷射对焦，配合彩色CCD擷取影像使用point and shot功能。
标準ROI软体 搭配内建多种专业报告格式，亦可将数据、图形、统计等作成完整报告 。 光学2 0X 影像放大功能，更能精确对位。 单位选择： mils 、 uin 、 mm 、 um 。
优於美製仪器的设计与零件可 靠度以及拥有价格与零件的最佳优势。 仪器正常使用保固期一年，强大的专业技术支援及良好的售后服务。 测试方法符合 ISO 3497 、 ASTM B568 及 DIN 50987。 
产品参数
XRF-2000L荧光金属镀层测厚仪参数： 可测元素范围：钛(Ti) – 铀(U)
可测量厚度范围：原子序22-25，0.1-0.8μm 26-40，0.05-35μm 43-52，0.1-100μm 72-82，0.05-5μm
X-射线管：油冷,超微细对焦 高压：0-50KV(程控) 准直器：
固定种类大小:可选0.1,0.2,0.3,0.4,1X0.4mm 自动种类大小:可选0.1,0.2,0.3,0.4,0.05X0.4mm