2018年扫描透射电子显微学国际研讨会在京召开

　　分析测试百科网讯 2018年5月10日至12日，2018年扫描透射电子显微学国际研讨会在北京召开。本次国际研讨会汇集一批国内外知名的电子显微学专家学者，共同探讨交流球差校正电子显微学研究领域的最新进展。报告内容涵盖最新电镜设备研发进展、新的成像及谱学技术开发、原子尺度结构及电子能量损失谱学分析、材料的原位结构表征、密度泛函理论与电镜实验的结合等前沿课题。本次会议得到中国科学院、国家自然科学基金委员会、赛默飞世尔科技有限公司、日本电子株式会社、nion、DENS的支持与赞助。

　　球差校正扫描透射电子显微镜（STEM）以其灵活多样的成像方式、亚埃高空间分辨率和高能量分辨率，现已发展成为在原子尺度探索功能材料结构与局域谱学物性不可或缺的研究手段。

　　分析测试百科网小编节选部分现场专家报告，与大家分享。

会议现场

海报展览

中科院金属所 陈春林

　　陈春林带来了题为“STEM Investigation of SrnNbnO3n+2 Compounds: Atomic/Electronic Structures and Phase Transformations”的报告。

湖南大学 陈江华

　　陈江华带来了题为 “Electron Microscopy for Aluminum Alloys as Light-Weight Industry Materials”的报告。

浙江大学 余倩

　　余倩带来了题为 “Mechanical Properties Characterization of Materials at Multiple Scale”的报告。

中科院金属所 郑士建

　　郑士建带来了题为“Interface Effects of Nanolayered Metallic Composites”的报告。