该软件集成了一个包括各种基底和膜层材料的光学参数n和k值的数据库，该数据库涵盖了很多重要应用领域（如半导体和镀膜）的材料的参数。
AvaSoft-Thinfilm软件支持多通道和8个时间序列控制，可以用来测量膜层厚度和监控拟合质量。
AvaSoft-Thinfilm软件可以和AvaSoft-PROC过程控制软件和AvaSoft-XLS输出到Excel应用软件配合使用，方便地进行在线分析和控制。
订购信息
AvaSoft-Thinfilm 薄膜厚度测量独立软件，用于AvaThinfilm膜厚测量系统
