Nanotracwave纳米粒度及Zeta电位分析仪特点

粒度分析范围:

0.8nm-6.5µm

重现性：

误差≤1%

Zeta电位测量范围：

-200mV~200mV

电导率：

0-200ms/cm

浓度范围：

ppb-40%

检测角度：

180°

分析时间：

30-120秒

准确性：

全量程米氏理论及非球形颗粒校正因子

测量精度:

无需预选，依据实际测量结果，自动生成单峰/多峰分布结果

理论设计温度：

0-90℃，可以进行程序升温或降温

兼容性：

兼容任何有机溶剂及大多数酸性或碱性溶液

测量原理：

粒度测量：动态光背散射技术和全量程米氏理论处理
 Zeta电位测量：膜电极设计与“Y”型探头形成微电场测量电泳迁移率
 分子量测量：水力直径或德拜曲线
 ZL技术：膜电极，微电场电势测量，“Y”型光纤探针设计，异相多普勒频移，可控参比方法，快速傅立叶转换算法，非球形颗粒校正因子

光学系统：

3mW780nm半导体固定位置激光器，通过梯度步进光纤直接照射样品，在固定位置用硅光二极管接受背散射光信号，无需校正光路

软件系统：

先进的Microtrac FLEX软件提供强大的数据处理能力，包括图形，数据输出/输入，个性化输出报告，及各种文字处理功能，如PDF格式输出, Internet共享数据，Microsoft  Access格式（OLE）等。体积，数量，面积及光强分布，包括积分/微分百分比和其他分析统计数据。数据的完整性符合21 CFR PART 11安全要求，包括口令保护，电子签名和指定授权等。

外部环境：

电源要求：90-240VAC，5A，50/60Hz
 环境要求：温度，10-40°C
 相对湿度：小于95%

配置：

有内置和外置光纤测量探头可选