发布时间:2022-09-23 18:31 原文链接: X射线荧光光谱仪的理论基础X射线的本质

  X射线的本质是电磁辐射,具有波粒二像性。

  1)波动性

  X射线的波长范围:0.01~100

  用于元素分析的X射线光谱所使用的波长范围在0.01~11nm

  2)粒子性

  特征表现为以光子形式辐射和吸收时具有的一定的质量、能量和动量。

  表现形式为在与物质相互作用时交换能量。如光电效应、荧光辐射等。