X射线荧光光谱分析技术发展研讨会在京举行

　　分析测试百科网讯 2016年4月12日，PANalytical Day 2016 X射线荧光光谱分析技术发展研讨会在北京举行。本次会议由北京市理化分析测试中心、北京理化分析测试技术学会以及荷兰帕纳科公司联合主办，会议吸引了100余业内专家、学者以及仪器使用人员等参加。分析测试百科网全程参与了此次会议。

会议现场

　　理化分析测试技术学会秘书长 桂三刚

　　北京光谱学会理事 余兴

　　帕纳科亚太区市场经理 Melissa Ho

　　理化分析测试技术学会秘书长桂三刚、北京光谱学会理事余兴以及帕纳科亚太区市场经理Melissa Ho分别为会议致辞。

　　帕纳科XRF产品经理 Christos Tsouris

　　帕纳科XRF产品经理Christos Tsouris带来了报告“SumXcore多核X射线分析技术及核心新技术的实验与应用”。

　　报告指出，关于X射线荧光光谱技术（XRF）现在被人们所熟知的有波长色散X射线荧光光谱（WDXRF）以及能量色散X射线荧光光谱（EDXRF）两种技术。其中，WDXRF是现在使用最多的，其是对分开的光波进行逐个扫描，一个波长对应一个元素；而EDXRF不含分光系统，无需分光，X射线荧光直接进入检测器，可以对所有波长同时进行扫描。这两种技术各有优缺点，采购时可根据各自的使用需求进行采购，主要考虑的因素有：元素范围、类型、灵敏度、分辨率以及检出限，除此以外其他因素还有：价格、运营成本、尺寸大小、便携性、辅助设备以及样品量等。

　　Christos Tsouris还介绍了过去20年来XRF的发展情况。EDXRF在分辨率和灵敏度上取得了长足的进步——灵敏度从1998年的800ev发展到了2014年的145ev甚至更低，可分析元素也从Al到U发展到现在的C到U。WDXRF则在更紧凑以及平台解决方案方面取得了进步——将EDXRF、WDXRF以及XRD技术整合在一起（即SumXcore，多核X射线分析技术），形成了Zetium光谱仪。

　　Zetium光谱仪

　　Zetium光谱仪通过采用SumXcore，将波普核和能谱核组合在一个平台上，可并行运行，从而最大程度地增加分析灵活性并提升性能：

　　通过SumXcore的同步光谱分析将测量时间缩短50%；

　　较传统WDXRF更快地获取目标精度；

　　通过SumXcore更快获取元素周期表上元素的最低检出限；

　　跟踪可影响过程元素分析的意外元素而不增加测量时间；

　　收集每个样品全光谱图而不影响准确度；

　　波普和能谱可各自独立分析；

　　在一个平台上同时符合波普和能谱两种规范；

　　预防性维护工具；

　　强大的备份分析。

　　另外，Zetium光谱仪配置的分析软件Virtual Analyst即“分析精灵”，大大简化了样品分析工作，其具有无标样分析、石化产品的单一校准、痕量分析、无标多层膜分析以及类型标准化等可选软件模块，还有Pro-Trace、WROXI、CEMOXI、低合金钢等可选应用模块，可将用户的问题直接转化为解决方案。

　　帕纳科亚太实验室经理 薛石雷

　　帕纳科亚太实验室经理薛石雷介绍了台式能量色散X射线荧光光谱技术发展与应用分析。

　　薛石雷指出在过去的近20年中，EDXRF技术取得了很大的进步。帕纳科公司的Epsilon3^XLE用于轻元素检测可低至C；其使用了新型光管，SDD^Ultra新探测器，元素范围可从C到Am；可应用于所有样品类型；操作简单；易于安装；可应用于任一工业领域，如：铸铁样品中的C分析，水泥熔片样品中的Na₂O分析，聚合物中的Na分析等领域。

　　Epsilon1

　　 Epsilon3X

　　薛石雷还介绍了Epsilon1专用台式EDXRF。该仪器节能低功率，可用于实验室和移动现场测试，内置触屏式计算机，重量轻，体积小，无运行成本，工厂预校正。Epsilon1具有燃油中的S分析、润滑油分析、奶粉分析以及研究专用型、地质/矿业专用型等专用模式。定量分析范围可从Na到Am中的所有元素，浓度范围从%低至ppm。其软件与Epsilon3相似，具有标准模式和高级模式。触屏计算机易操作，分析结果可自动显示。

　　会后，参会人员前往北京市理化分析测试中心观看了仪器演示。

　　演示现场

　　薛石雷以及实验室工作人员为大家演示了台式能量色散X射线荧光光谱仪Epsilon1进行水泥样品无标定量和镀层厚度测量，Epsilon3X指纹识别硬币以及测C元素。

　　演示现场

　　Christos Tsouris则为大家演示了Zetium光谱仪测量硬币上的微小区域。