X射线荧光光谱定性定量分析方法

样品制备
进行X射线荧光光谱分析的样品，可以是固态，也可以是水溶液。无论什么样品，样品制备的情况对测定误差影响很大。对金属样品要注意成份偏析产生的误差；化学组成相同，热处理过程不同的样品，得到的计数率也不同；成份不均匀的金属试样要重熔，快速冷却后车成圆片；对表面不平的样品要打磨抛光；对于粉末样品，要研磨至300目-400目，然后压成圆片，也可以放入样品槽中测定。对于固体样品如果不能得到均匀平整的表面，则可以把试样用酸溶解，再沉淀成盐类进行测定。对于液态样品可以滴在滤纸上，用红外灯蒸干水份后测定，也可以密封在样品槽中。总之，所测样品不能含有水、油和挥发性成份，更不能含有腐蚀性溶剂。如果不能破坏待测样品，而该待测样品的表面又不平整（比如说贵金属首饰），利用天瑞公司独有的修正算法测量及计算，也可以达到令人满意的效果。  定性分析
不同元素的荧光X射线具有各自的特定波长或能量，因此根据荧光X射线的波长或能量可以确定元素的组成。如果是波长色散型光谱仪，对于一定晶面间距的晶体，由检测器转动的2θ角可以求出X射线的波长λ，从而确定元素成份。对于能量色散型光谱仪，可以由通道来判别能量，从而确定是何种元素及成份。事实上，在定性分析时，可以靠天瑞公司的自动定性识别算法自动识别谱线，给出定性结果。但是如果元素含量过低或存在元素间的谱线干扰时，仍需人工鉴别。首先识别出X光管靶材的特征X射线和强峰的伴随线，然后根据能量标注剩余谱线。在分析未知谱线时，要同时考虑到样品的来源，性质等因素，以便综合判断。 含量定量分析
X射线荧光光谱法进行定量分析的依据是元素的荧光X射线强度Ii与试样中该元素的含量Ci成正比： Ii=Is*Ci
式中，Is为Ci=100%时，该元素的荧光X射线的强度。根据式(1-1)，可以采用标准曲线法，增量法，内标法等进行定量分析。但是这些方法都要使标准样品的组成与试样的组成尽可能相同或相似，否则试样的基体效应或共存元素的影响，会给测定结果造成很大的偏差。所谓基体效应是指样品的基本化学组成和物理化学状态的变化对X射线荧光强度所造成的影响。化学组成的变化，会影响样品对一次X射线和X射线荧光的吸收，也会改变荧光增强效应。例如，在测定不锈钢中Fe和Ni等元素时，由于一次X射线的激发会产生NiKα荧光X射线，NiKα在样品中可能被Fe吸收，使Fe激发产生FeKα，测定Ni时，因为Fe的吸收效应使结果偏低，测定Fe时，由于荧光增强效应使结果偏高。这时需要用各种算法进行修正，经过多年的潜心研究和技术积累，天瑞仪器公司已经有了多种非常有效的修正算法，足以应对复杂多变的样品基体，并且在实际应用中为客户解决了一个又一个难题。 
厚度定量分析 ⑴单层薄膜厚度：
X射线荧光光谱法进行厚度定量分析的依据是厚度为t的薄膜元素的荧光X射线强度It与无限厚（实际达到饱和厚度即可）薄膜元素的荧光X射线强度I∞有如下关系： It/I∞=1-e(k*t)
式中，k为与薄膜有关的一个常数 ⑵多层薄膜厚度：
多层薄膜的厚度定量分析跟单层薄膜是类似的，但是需要考虑外层薄膜对内层薄膜荧光的吸收作用，算法更加复杂，在这里就不详细说明了。