X射线荧光全息术中入射能量对原子像的影响

摘要: 　X 射线荧光全息术是一种新型的显微成像技术,它能在原子水平上直接观察到晶体内部的三维结构。然而它所得到的原子像存在明显的孪生像现象。因此,采用多重能量的全息记录来消除孪生像。分别以单个和多个铁原子为模型,数值模拟了它们在4π立体角范围内、不同范围的入射能量的情况下记录的全息图。比较由这些全息图重构得到的原子像,发现入射能量范围越宽,其消除孪生像的效果越好,而且随着入射能量的提高,其原子像的分辨力也越高。