X荧光光谱仪的发展历史

在中国，很多厂家更加喜欢购买进口的仪器，这不仅仅是因为国民对进口的认同和对国产不信任，还因为X荧光光谱技术的发展历史，下面让我们一起来追溯X荧光光谱技术的发展。

X荧光光谱技术的发展

1959年我国从苏联引入了照相式X荧光光谱仪，这是中国第一次引进X荧光光谱分析仪。       1895年，德国物理学家伦琴发现了X射线。       1896年，法国物理学家乔治发现了X射线荧光。       1948年，弗里德曼和伯克斯研制了第一台商品性的波长色散X射线荧光光谱仪。

1969年，美国海军实验室研制出第一台真正意义上的EDXRF光谱仪。

从上面的X荧光光谱仪的初始发展过程来看，荧光光谱分析仪这项技术比较年轻，从发现X射线荧光到出现X射线荧光光谱分析仪都不过一百年，最后应用到各种领域中的时间也才几十年。同样，我国X荧光光谱分析也是光谱分析领域中较年轻的分析手段之一，1959年，我国请苏联专家来华在应化所举办了x光谱学习班，随后，我国不断开展X荧光光谱学习班，为之后中国X荧光光谱分析技术打好了基础。

1981年，我国X光谱分析工作者出版了自己编著的书籍，由此可见，在这些年中，我国研究X荧光光谱的学者们做了不少的工作。

从上，我们知道了很多厂家都喜欢购买进口光谱仪，还了解我国引进第一台X荧光光谱仪后的发展，明明前后研制的时间差不多，几年的差距为什么技术差别那么大，我们是否真正攻克了这项技术。

1959年，我国研制了第一台X荧光光谱分析仪，但是这是大型的X荧光光谱分析仪（我们现在购买的X荧光仪器都是手持式的，方便易携带）。当年有单位购买了国产的大型X荧光光谱仪后，不仅所发挥的作用不大，还经常发生故障，不能充分发挥作用，因此，我国X荧光光谱分析发展受到了影响，大部分工作还是用进口仪器完成。       在X荧光光谱仪的研制与投产上学者与研制者们集聚力量，对X荧光光谱技术进行分析，之后的成果斐然。北京师范大学在X荧光光谱分析在表面微区，微试样的分析中做出了开创性的工作。王燕，赵敏等学者对X荧光强度与含量的线性关系进行了分析，并对定量分析方法进行了模拟运算，总结了最优的计算方法。周云泷等学者通过计算机软件分析计算，对一些微量元素进行分析，达到较为满意的分析结果。之后的一些研究因篇幅原因不再一一概述，但之后越来越多的学者们都为X荧光光谱分析付出了努力。

中国研制的X荧光光谱仪也越来越小，便于携带，应用的场合也越来越多，现场与野外或大型不易切割的分析物都可选择使用X荧光光谱进行分析。现在的国产X荧光光谱仪是什么样的呢?可以随身携带，拥有多种多样的型号，可以测试水质，可以测试土壤，可以测试电子产品污染，可以测试金属或不知名物体，甚至是测试空气，目前也有许多厂家把目光瞄准了考古，通过对物品的元素分析来进行一些考古工作，虽对此在这方面的应用并不十分成熟，但相信，在接下来的发展中，中国X荧光光谱技术的应用会越来越好。