XRD可以测的是：
1、结晶度的测定
结晶度定义为结晶部分重量与总的试样重量之比的百分数。非晶态合金应用非常广泛，如软磁材料等，而结晶度直接影响材料的性能，因此结晶度的测定就显得尤为重要了。测定结晶度的方法很多，但不论哪种方法都是根据结晶相的衍射图谱面积与非晶相图谱面积决定。
2、精密测定点阵参数
精密测定点阵参数 常用于相图的固态溶解度曲线的测定。溶解度的变化往往引起点阵常数的变化；当达到溶解限后，溶质的继续增加引起新相的析出，不再引起点阵常数的变化。
这个转折点即为溶解限。另外点阵常数的精密测定可得到单位晶胞原子数，从而确定固溶体类型；还可以计算出密度、膨胀系数等有用的物理常数。
XRD峰值向左偏移通常是指向小角度偏移,意味着变大,常见是掺入了比主体大的杂原子出现“掺杂”，杂质原子会使晶胞参数变大或变小；如果左移,说明晶胞参数变大,晶面间距变大；制样时要尽量使样品和样品板相平,......
拿到图谱后，用分析软件打开（如jade),去本底，平滑，寻峰，手动添加和删减峰，物相鉴定（根据材料的具体成分进行元素的合理选择）,根据软件提供的标准图谱和自己的图谱比对，重合性好的可以作为一种物相。......
XRD峰值向左偏移通常是指向小角度偏移,意味着变大,常见是掺入了比主体大的杂原子.出现“掺杂”,杂质原子会使晶胞参数变大或变小；如果左移,说明晶胞参数变大,晶面间距变大；制样时要尽量使样品和样品板相平......
角度θ为布拉格角或称为bai掠射角。关于XRD的测量原理比du较复杂，zhi要知道晶体学和X射线知识。简单dao的来说（对粉末多晶）：当单色X射线照射到样品时，若其中一个晶粒的一组面网（hkl）取向和......
XRD结晶度是根据部分结晶聚合物的X射线衍射强度峰总面积中晶区部分贡献的百分数计算的结晶度。分析方法：已知波长的X射线来测量θ角du，从而计算出晶面间距d，这是用于X射线结构分析zhi；dao另一个是......
对于样品的准备工作，必须有足够的重视。常常由于急于要看到衍射图，或舍不得花必要的功夫而马虎地准备样品，这样常会给实验数据带入显著的误差甚至无法解释，造成混乱。准备衍射仪用的样品试片一般包括两个步骤：首......
XRD多以定性物相分析为主，但也可以进行定量分析。通过待测样品的X射线衍射谱图与标准物质的X射线衍射谱图进行对比,可以定性分析样品的物相组成；通过对样品衍射强度数据的分析计算,可以完成样品物相组成的定......
能谱仪(EDS,EnergyDispersiveSpectrometer)，是用来对材料微区成分元素种类与含量分析，配合扫描电子显微镜与透射电子显微镜的使用。EDS的分析结果里面会有原子比（atomi......
分析测试百科网讯2020年1月7日，工业和信息化部发布2019年第61号公告，正式批准《5G移动通信网核心网总体技术要求》等447项行业标准。其中通信行业标准32项、电子行业标准14项、化工行业标准1......
二氧化硅的化学式为SiO2。二氧化硅有晶态和无定形两种形态。晶态二氧化硅的熔点1723℃，沸点2230℃，不溶于水。除氟气和氢氟酸外，二氧化硅跟卤素、卤化氢和无机酸均不反应，但能溶于热的浓碱、熔融的强......