XRF熔融制片方法的相关介绍

　　X射线荧光分析法是一种现代仪器分析方法，具有分析迅速、非破坏性分析、光谱不受化学状态的影响、分析精度高、分析范围广（4Be～92U）、定性定量分析、样品制备简单等优点。

　　仪器装置分为X射线发生装置、分光装置、计数记录装置。