据波通社网站4月24日报道，波兰雅盖隆大学的一个研究团队与来自西班牙、法国和新加坡的研究人员合作，开发了一种研究原子尺度微小物体中电子输运的新方法。
为了测量纳米尺度的电子输运，研究人员使用了扫描隧道显微镜（STM）和两个独立的带有极其精确的“锐化”Pt/Ir尖端的测量探针。目前，单样品STM显微镜主要用于获得具有原子分辨率的导电材料的电子结构图像。
研究人员展示了如何将STM双样本的功能扩展到对选定材料表面电子输运的详细研究，特别是他们描述了如何使用这样的工具以前所未有的精度测量通过原子“纳米线”的电子流动。该“纳米线”自然形成在适当制备的半导体晶体表面。
相关研究论文发表于《自然通讯》杂志上。
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