发布时间:2017-10-16 14:19 原文链接: HORIBA携新品MacroRAM台式一体化拉曼光谱仪亮相2017BCEIA

  分析测试百科网讯 2017年10月10日,第十七届北京分析测试学术报告会暨展览会(BCEIA2017)在北京国际会议中心开幕。HORIBA新品台式一体化拉曼光谱仪MacroRAM于本次展会完成国内首秀。此外HORIBA QM 8000系列荧光光谱仪等产品也在本次展会亮相。

HORIBA展台

HORIBA应用工程师 孙正飞

MacroRAM台式一体化拉曼光谱仪

  MacroRAM台式一体化拉曼光谱仪,适用工业测量需求,可用于固液样品拉曼信号测试分析。

  MacroRAM结构设计灵活紧凑,内部集成了平场像差校正光栅光谱仪和深度制冷背照射CCD探测器,保证仪器高灵敏度。且多种测试附件和远程探头可选,可在样品仓外测试较大和不规则样品,适应不同的测试需求。MacroRAM使用Labspec6软件,操作界面友好直观,功能强大,使用简便,安全可靠。

HORIBA应用工程师 周磊

  QM 8000系列荧光光谱仪

  HORIBA QM 8000系列荧光光谱仪采用开放式结构设计,客户可以自由组合多种光源、光栅、 PMT检测器以及各种附件,以此来优化初始配置,满足不同实验室的需求。其标配大空间设计QuadraCentric™样品室,可耦合各种荧光附件,具有优越的灵活性。

  QM 8000系列荧光光谱仪独有的氙灯光源设计,使其具有高灵敏度,超高光谱分辨率和优异的杂散光抑制比,可保证测量结果的准确性。不仅具有高安全性,甚至在能源消耗和低成本方面也有着巨大优势。这些特点使QM 8000系列荧光光谱仪成为荧光高级研究应用领域需求的理想选择。

  QM 8000系列荧光光谱仪具有多个独有创新设计,分别针对不同科研实验需求,从新视角揭示样品多种属性。开创性地将近红外磷光寿命技术覆盖全波长范围(250~5500nm),软件直读寿命信号;独有的单脉冲磷光寿命技术(SSTD),单次脉冲激发获得寿命衰减曲线,实现磷光寿命低至1μs,采集时间快至1s;独有的多种寿命耦合技术(Strobe和TCSPC),不受脉冲光源类型限制,适用于市面上大部分脉冲光源,如脉冲LED/laser,调Q/OPO Opolette激光器、氮&染料激光器、超连续激光器等,完美扩展激发光源波长范围210~2200nm;一款软件满足所有稳态和寿命测试需求,耦合定制化模块,独有的碳管特性分析模块和荧光能量共振转移(FRET)计算模块,满足科研应用需求;全部件软件控制,无需手动,整机操作简单;迄今为止,模块化荧光中占地最小 (92*72*31cm),充分缓解实验室仪器占用空间问题。

HORIBA应用工程师 鲁逸林

LabRAM HR Evolution

  HORIBA LabRAM HR Evolution拉曼光谱仪同时适用显微与大样品测量,具有先进的2D和3D共焦成像性能。真共焦显微光路保证快速、准确地获得最精细的光谱图像提供便捷的分析模块。LabRAM HR Evolution的高性能及简单便捷等特色使其成为拉曼光谱的顶级产品,可广泛用于拉曼分析、光致发光(PL)、针尖增强拉曼散射(TERS)以及与其他联用技术。目前HR Evolution已经广泛的应用于材料、制药、生物、半导体、艺术品、刑侦等领域。

  HR Evolution 成像方面的特点:

  超快速共焦成像

  DuoScanTM成像技术基于共焦成像模式,它利用高精度、超快速摆动的反射镜实现原位成像,可得到各种尺寸、形状的区域成像,从深紫外到近红外纳米精度的成像。

  SWIFTTM模块是将LabRAM HR Evolution的高光通量及优化的检测器-平台同步相结合,以实现超快速共焦拉曼成像。即使采集一个宏观尺度的高分辨成像也可在几秒内完成。

  SWIFT XS 在SWIFTTM的基础上,使用HORIBA最新的SynapseTM EMCCD来获取更快、灵敏度更高的共聚焦成像图,使采集速度高达1400张光谱/s,以进一步增强您的拉曼光谱成像功能!

  粗糙表面样品快速拉曼成像

  革命性的快速成像技术包EasyNavTM能够让我们的拉曼用户在导航样品的同时进行实时聚焦,可快速定位到感兴趣的目标区域,获取清晰、高质量的拉曼成像图。

  1、使用NavMapTM技术对样品进行快捷导航和定位

  2、使用NavSharpTM技术进行实时聚焦,在移动样品的同时获取清晰的显微图像

  3、使用ViewSharpTM技术构建3D表面形貌图,快速获取焦平面拉曼成像图

  产品优势:

  高空间和高光谱分辨率

  可覆盖紫外至近红外波段

  高度自动化,激发波长及激光自动切换

  超快速共焦成像

  可与其他测试技术联用

  超低波数检测

  可选择最佳的样品分析条件

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