多晶X射线衍射仪，也称粉末衍射仪，通常用于测量粉末、多晶体金属或者高聚物块体材料等。主要由四个部分构成：1) X 射线发生器(产生X射线的装置);2) 测角仪(测量角度2θ的装置); 3) X射线探测器(测量X射线强度的计数装置); 4) X射线系统控制装置(数据采集系统和各种电气系统、保护系统等).
1、外框部分：外框、底座、前门定位装置，水平调整脚等。2、立柱部分：立柱、土字头、水准器等。3、横梁部分：横梁、刀盒、重心砣等。4、悬挂系统：吊耳、阻尼器、称盘等。5、制动系统：指针、光学读数系统。6......
X射线荧光(XRF)是当原级X射线照射样品时，受激原子内层电子产生能级跃迁所发射的特征二次X射线。该二次X射线的能量及强度可被探测，与样品内待测元素的含量相关，此为XRF光谱仪的理论依据。根据分光系统......
XRD峰值向左偏移通常是指向小角度偏移,意味着变大,常见是掺入了比主体大的杂原子出现“掺杂”，杂质原子会使晶胞参数变大或变小；如果左移,说明晶胞参数变大,晶面间距变大；制样时要尽量使样品和样品板相平,......
傅立叶变换红外光谱仪www.okcis.cn/hyk-k230203.html的典型光路系统，来自红外光源的辐射，经过凹面反射镜使成平行光后进入迈克尔逊干涉仪，离开干涉仪的脉动光束投射到一摆动的反射镜......
拿到图谱后，用分析软件打开（如jade),去本底，平滑，寻峰，手动添加和删减峰，物相鉴定（根据材料的具体成分进行元素的合理选择）,根据软件提供的标准图谱和自己的图谱比对，重合性好的可以作为一种物相。......
XRD峰值向左偏移通常是指向小角度偏移,意味着变大,常见是掺入了比主体大的杂原子.出现“掺杂”,杂质原子会使晶胞参数变大或变小；如果左移,说明晶胞参数变大,晶面间距变大；制样时要尽量使样品和样品板相平......
角度θ为布拉格角或称为bai掠射角。关于XRD的测量原理比du较复杂，zhi要知道晶体学和X射线知识。简单dao的来说（对粉末多晶）：当单色X射线照射到样品时，若其中一个晶粒的一组面网（hkl）取向和......
XRD结晶度是根据部分结晶聚合物的X射线衍射强度峰总面积中晶区部分贡献的百分数计算的结晶度。分析方法：已知波长的X射线来测量θ角du，从而计算出晶面间距d，这是用于X射线结构分析zhi；dao另一个是......
对于样品的准备工作，必须有足够的重视。常常由于急于要看到衍射图，或舍不得花必要的功夫而马虎地准备样品，这样常会给实验数据带入显著的误差甚至无法解释，造成混乱。准备衍射仪用的样品试片一般包括两个步骤：首......
XRD多以定性物相分析为主，但也可以进行定量分析。通过待测样品的X射线衍射谱图与标准物质的X射线衍射谱图进行对比,可以定性分析样品的物相组成；通过对样品衍射强度数据的分析计算,可以完成样品物相组成的定......