1984年本文作者在参加了匹兹堡会议以后,曾在本刊发表的文章中预测X射线能谱仪已经进入了一个新的发展阶段。除了元素分析以外,能谱仪将不断地开发新的综合的显微分析功能,而图象处理和图象分析是其一个主要方面。自此以后,在中国于1985、1987和1989年召开了三届北京分析测试学术报告和展览会(BCEIA),会上所展示的能谱仪充分证实了上述预测。在这5年内各公司生产的能谱仪无不在图象处理和图象分析方面大下功夫,并不断于以扩展和提高
