发布时间:2022-09-25 15:42 原文链接: x射线荧光光谱测厚仪的技术指标介绍

  1、同时可以分析30种以上元素,五层镀层。

  2、分析含量一般为ppm到99.9% 。镀层厚度一般在50μm以内(每种材料有所不同)

  3、任意多个可选择的分析和识别模型。相互独立的基体效应校正模型。

  4、多变量非线性回收程序 适应范围为15℃至30℃。

  5、电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源。

  6、外观尺寸: 576(W)×495(D)×545(H) mm 样品室尺寸:500(W)×350(D)×140(H) mm

  7、重量:90kg