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X射线荧光岩屑识别技术研究

在石油钻井施工中,准确获取岩性资料是录井的基本任务,是及时建立地层剖面、准确评价油气层性质、正确预测下部地层的前提,也是指导钻井生产正常运行的最基础的工作。然而,目前PDC钻头的使用、空气钻井等钻井工程工艺发展,使常规的录井方法难以准确识别岩性,水平井地质导向给录井的岩性识别和地层划分提出了更高的要求。X射线荧光分析技术,可对样品中的元素进行定性和定量分析。本文在鄂尔多斯盆地北部上古生界沉积特征分析基础上,确定了X射线荧光录井的元素组合,分析岩屑中的元素包括Mg、Al、Si、Ca、Fe、Mn、K、Cl、S、Ti、P、Ba等12种元素,这些元素占地壳物质总量的99.48%以上,因此具有代表性。这些元素基本反映了石油地层中主要矿物的指示元素。本文对鄂尔多斯盆地塔巴庙区块26口井,近20000个岩屑样品进行了X射线荧光分析,并对分析结果进行了深入研究,结果表明,元素含量变化与岩性变化具有很强的相关性。X射线荧光分析技术可作为录井岩性识......阅读全文

X射线荧光岩屑识别技术研究

在石油钻井施工中,准确获取岩性资料是录井的基本任务,是及时建立地层剖面、准确评价油气层性质、正确预测下部地层的前提,也是指导钻井生产正常运行的最基础的工作。然而,目前PDC钻头的使用、空气钻井等钻井工程工艺发展,使常规的录井方法难以准确识别岩性,水平井地质导向给录井的岩性识别和地层划分提出了更高的要

教你如何识别X射线荧光光谱仪缩略术语

 X射线X射线(Xray)是电磁波谱中的某特定波长范围内的电磁波,由德国物理学家W.K.伦琴于1895年发现,故又称伦琴射线。其特性通常用能量(keV)或波长(nm)描述。λ(nm)=1.24E(keV)X射线是原子内层电子在高速运动电子的冲击下产生跃迁而发射的光辐射,其波长很短约介于0.001~2

质子激发X射线荧光分析的X 射线谱

  在质子X 射线荧光分析中所测得的X 射线谱是由连续本底谱和特征X 射线谱合成的叠加谱。样品中一般含有多种元素,各元素都发射一组特征X 射线谱,能量相同或相近的谱峰叠加在一起,直观辨认谱峰相当困难,需要通过复杂的数学处理来分解X 射线谱。解谱包括本底的扣除、谱的平滑处理、找峰和定峰位、求峰的半高宽

矿物X衍射全岩分析在地质勘探中的应用

石油钻井过程中的岩屑录井无论对油气勘探还是钻井工程都是极为重要的关键技术,岩屑录井所获得的实物信息是目前任何其它地质方法都难于取代的,随着石油钻井新工艺技术的飞速发展,如PDC钻头的应用以及气体钻井、大位移井、水平井等,由井底返出的岩屑已经十分细碎,甚至成粉末状,使得岩屑录井对地层岩性难于识辨,层位

X射线能谱重叠峰的识别

提出了一种通过谱线权重来正确识别X射线能谱重叠峰的新方法。应用该方法 ,成功地分析了Ti合金微区中能量差为 2 0eV的Ti和V的重叠峰。实验表明 ,该方法简便、可靠 ,并可适用于K Zn之间元素的分析 

x射线衍射、x荧光、直读光谱区别

1、X射线衍射仪是利用衍射原理,精确测定物质的晶体结构,织构及应力,精确的进行物相分析,定性分析,定量分析.广泛应用于冶金,石油,化工,科研,航空航天,教学,材料生产等领域.  X射线衍射仪是利用X射线衍射原理研究物质内部微观结构的一种大型分析仪器,广泛应用于各大、专院校,科研院所及厂矿企业.  基

X射线荧光光谱仪和X射线荧光能谱仪特点对比

X射线荧光光谱仪和X射线荧光能谱仪各有优缺点。前者分辨率高,对轻、重元素测定的适应性广。对高低含量的元素测定灵敏度均能满足要求。后者的X射线探测的几何效率可提高2~3数量级,灵敏度高。可以对能量范围很宽的X射线同时进行能量分辨(定性分析)和定量测定。对于能量小于2万电子伏特左右的能谱的分辨率差。

X射线荧光光谱仪X射线吸收的介绍

  当X射线穿过物质时,一方面受散射作用偏离原来的传播方向,另一方面还会经受光电吸收。光电吸收效应会产生X射线荧光和俄歇吸收,散射则包含了弹性和非弹性散射作用过程。  当一单色X射线穿过均匀物体时,其初始强度将由I0衰减至出射强度Ix,X射线的衰减符合指数衰减定律:  式中,μ为质量衰减系数;ρ为样

X射线荧光光谱仪X射线散射的介绍

  除光电吸收外,入射光子还可与原子碰撞,在各个方向上发生散射。散射作用分为两种,即相干散射和非相干散射。  相干散射:当X射线照射到样品上时,X射线便与样品中的原子相互作用,带电的电子和原子核就跟随着X射线电磁波的周期变化的电磁场而振动。因原子核的质量比电子大得多,原子核的振动可忽略不计,主要是原

X射线荧光光谱仪X射线的衍射介绍

  相干散射与干涉现象相互作用的结果可产生X射线的衍射。X射线衍射与晶格排列密切相关,可用于研究物质的结构。  其中一种用已知波长λ的X射线来照射晶体样品,测量衍射线的角度与强度,从而推断样品的结构,这就是X射线衍射结构分析(XRD)。  另一种是让样品中发射出来的特征X射线照射晶面间距d已知的晶体