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锑元素氢化物发生及原子荧光光谱分析的影响因素

Sb 与 As 属同族元素,基本化学性质非常类似,但 Sb 的形态与 As 相比则要少很多,最为常见的形态仅有 sb(V) 和sb(III) 两种,其 HG 能力也与 As 类似,Sb(III) 高于 Sb(V),所以 HG 之前也需要进行预还原,使用的预还原试剂也类似。对于常规测量,使用最广的预还原体系还是硫脲+抗坏血酸,预还原时间以 30min 以上为宜。除此之外,SbH3 的生成受室温影响较大,室温低于15°C时其生成速度及稳定性均有大幅下降,故最好在实验室安装空调,保证正常室温以利 Sb 元素的测定。......阅读全文

锑元素氢化物发生及原子荧光光谱分析的影响因素

Sb 与 As 属同族元素,基本化学性质非常类似,但 Sb 的形态与 As 相比则要少很多,最为常见的形态仅有 sb(V) 和sb(III) 两种,其 HG 能力也与 As 类似,Sb(III) 高于 Sb(V),所以 HG 之前也需要进行预还原,使用的预还原试剂也类似。对于常规测量,使用最广的预还

碑(As)元素氢化物发生及原子荧光光谱分析的影响因素

As 是 HG-NDAFS 检测中使用最广的元素,其氢化物发生随反应条件变化较小,虽然提高酸度可以略微增加 As 的测量灵敏度,但这种影响一般不大;HG-NDAFS 测 As 的干扰主要来自于贵金属,这些干扰可以被硫脲较好地掩蔽掉。HG-NDAFS 测 As 最大的问题来自于实际样品中 As 的多种

碲(Te)元素氢化物发生及原子荧光光谱分析的影响因素

Te 的情形与 Se 类似,但由于其重要性远低于 Se,所以 Te 的形态较少引起关注;但测定 Te 也存在较为严重的干扰,需要在高酸度下测量,以避免过渡金属或贵金属离子的干扰;最后 Te 也需 要用与 Se 类似的方法将 Te(VI)预还原为 Te(IV),以实现 HG 反应。

锗(Ge)元素氢化物发生及原子荧光光谱分析的影响因素

Ge 的氯化物极易挥发,溶样时特别注意不要引入氯离子,最 好采用 HNO3 + H3PO4 溶样,最后赶尽 HNO3,至出现 H3PO4  白烟,避免 HNO3 带来的负干扰,同时确保某些食品(尤其是保健食品)中的有机错消解完全。此外,消解温度应严格控制,以免 Ge 挥发损失。在 HGAFS 检测过

锡(Sn)元素氢化物发生及原子荧光光谱分析的影响因素

锡在强酸中形成氢化物的酸度范围很窄,但加入部分弱酸或在弱酸介质中氢化物发生时,酸度范围可以显著变宽,如下图所示,在 HCl 中加入少量 L-半胱氨酸后,酸度范围大幅变宽,使得测量得以更好地完成,除 L-半胱氨酸以外,酒石酸、乙酸、硫基乙酸都能起到类似作用。锡也受到其他过渡金属元素的干扰,特别是铜、镍

铋(Bi)元素氢化物发生及原子荧光光谱分析的影响因素

铋与锑同族,原子半径又较为相近,故其氢化物发生条件与锑类似;而且铋的高价化合物不稳定,其氢化物发生比锑更为简单。

硒(Se)元素氢化物发生及原子荧光光谱分析的影响因素

Se 也是一种形态非常丰富的元素,并且 Se 在生物体中具有较高的重要性,是一种非常重要的抗氧化剂。其常见形态有 Se(IV)、 Se(VI)、硒脲(SeU)和多种硒代氨基酸,包括硒代胱氨酸(Se- Cys)、硒代蛋氨酸(SeMet)、甲基硒代胱氨酸(SeMeCys)。所以 Se 的测量存在与 As

原子荧光光度计检定中的问题简析

    原子荧光光谱分析方法(AFS)是 20 世纪 60 年代中期提出并发展起来的光谱分析技术,是介于原子发射光谱法(AES)和原子吸收光谱法(AAS)之间的光谱分析技术,兼有原子吸收和原子发射两种技术的优点,是光谱之后发展起来的一种痕量和超痕量测试方法。    该方法具有灵敏度高、重现性好、线性

实验室分析方法--原子荧光光谱分析的发展趋势

原子荧光光谱分析法从产生至今,一直在不断地完善和发展中。各种新方法、新技术不断出现,为原子荧光光谱分析的内容带来了根本性的变化,在分析化学领域中的地位也日益提高。 green field[106]曾对原子荧光光谱法的进展及展望进行了评述。可以预计,随着科学技术的不断进步和发展,原子荧光光谱分析会得到

应用原子荧光光度计测锑需要注意事项

随着科学技术的发展,锑(Sb)现已被广泛用于生产各种阻燃剂、合金、陶瓷、玻璃、颜料、半导体元件、医药及化工等产品。另一方面锑对人体及环境生物具有毒性作用,锑及其化合物已经被许多国家列为重点污染物。因此产品中的锑含量必须控制在一个安全的范围内才可以让锑更好的为我们服务。所以锑含量的检测对于锑的应用有着