2013年度北京市电子显微学年会隆重召开
2013年12月24日， 2013年度北京市电子显微学年会（电镜年会）在北京天文馆隆重召开，年会由北京市电镜学会和北京理化分析测试技术学会主办。本次会议以推动北京及周边省市广大电子显微学的学术及技术水平，促进电子显微学工作者在材料科学、生命科学等领域的应用、发展和交流为目的。来自科研院所、高等院校、仪器耗材厂商的200余位电子显微学专家学者、技术工程师，参加了此次电子显微学年会（电镜年会），共同探讨了电镜产品和电子显微学的新进展等广泛应用。2013年北京电子显微学年会（电镜年会）会议现场整个电子显微学年会（电镜年会）会场座无虚席北京市电镜学会理事长 郑维能教授 会议由北京市电镜学会理事长、首都师范大学郑维能教授等专家、老师主持，北京市电镜学会理事长郑教授首先对与会人员表示欢迎，随后指出，北京电子显微学年会（电镜年会）的召开是为了给广大电镜工作者提供学习和交流的平台......阅读全文
电镜技术大放光彩 看2018全国电子显微学学术年
分析测试百科网讯 2018年10月25日，继24日全国电子显微学学术年会隆重开幕后（详情请点击：汇全国显微学精英 2018全国电子显微学学术年会在蜀开幕），25日同样迎来令人激动人心的一天。在今日的大会上，参会学者将听到国内外多位宗师级学者带来的显微学盛宴。分析测试百科网与中国电子显微镜学会将共
全国电子显微学学术年会举行，国产电镜核心成果亮相
11月25日，由中国电子显微镜学会主办、南方科技大学承办的“2022年全国电子显微学学术年会”在东莞举行，大会以“‘动’析显微新世界”为主题，现场展示了显微学相关仪器理论、技术和实验方法的最新进展，以此促进电镜及其他显微学仪器的共享、运行、管理、开放共享、实验平台使用、改进与维修的交流等。大会为期5
电子显微学发展简史
最早的显微镜是16世纪末期在荷兰制造出来的。发明者是亚斯·詹森,荷兰眼镜商，或者另一位荷兰科学家汉斯·利珀希，他们用两片透镜制作了简易的显微镜，但并没有用这些仪器做过任何重要的观察。后来有两个人开始在科学上使用显微镜。第一个是意大利科学家伽利略。他通过显微镜观察到一种昆虫后，第一次对它的复眼进行了描
2016北京市电子显微学年会召开 探讨电镜技术应用新进展
分析测试百科网讯 2016年12月20日，2016年度北京市电子显微学年会在北京天文馆召开，会议旨在推动北京及周边省市广大电子显微学学术及技术水平，促进电子显微学工作者在材料科学、生命科学等领域的应用、发展和交流。来自电子显微学领域相关单位的200余人参加了此次会议。2016年度北京市电子显微学
见证中国电子显微学新时代 记2019电子显微学学术年会
分析测试百科网讯 2019年10月16日，2019年全国电子显微学学术年会在合肥隆重举行。本届年会主题是“中国电子显微学快速发展的新时代”，共开设了10个精彩分论坛，为中国电镜人带来一场学术盛宴。本次会议共有近1300余人出席、参与。分析测试百科网与中国电子显微镜学会共同为您带来年会精彩报导。北
全国电子显微学年会分会场：电镜与生命科学的激情碰撞
分析测试百科网讯 2018年全国电子显微学学术年会进入第三天，经过两天显微学宗师级学者精彩的大会报告后，今日迎来生命科学研究分会场报告。分析测试百科网与中国电子显微镜学会将共同全程跟踪报导本次年会盛况。生命科学研究分会场北京大学 陈浩东副研究员 今日会议报告首先由北京大学陈浩东副研究员带来，题
2013年度北京市电子显微学年会隆重召开
2013年12月24日， 2013年度北京市电子显微学年会（电镜年会）在北京天文馆隆重召开，年会由北京市电镜学会和北京理化分析测试技术学会主办。本次会议以推动北京及周边省市广大电子显微学的学术及技术水平，促进电子显微学工作者在材料科学、
2015北京市电子显微学研讨会成功举办 共讨电镜技术与应用
分析测试百科网讯 2015年7月18日，2015年度北京市电子显微学研讨会暨第十届全国实验室科学管理交流会在东北黑龙江省牡丹江市举办。本次会议由北京理化分析测试技术学会以及北京市电镜学会主办，旨在推动电子显微技术的进步和发展，提高广大电子显微技术工作者的学术及技术水平，促进电镜分析技术在国内生命
汇全国显微学精英 2018全国电子显微学学术年会在蜀开幕
分析测试百科网讯 2018年10月24日，2018年全国电子显微学学术年会在四川成都隆重举行，本次大会共有千余位专家学者以及200余位厂商代表参与。本次年会旨在了解电子显微学及相关仪器技术的前沿发展，交流基础研究与应用研究新进展。分析测试百科网与中国电子显微镜学会将共同全程跟踪报导本次年会的盛况
2011年全国材料科学电子显微学会议及征文(第一轮通知)
一、2011年全国材料科学电子显微学会议通知 随着电子显微学事业的飞跃发展，材料的电子显微表征技术日新月异。具有场发射枪的高空间分辨分析型TEM，使人们可以采用高分辨技术、微衍射、电子能谱、电子能量损失谱对纳米尺度的区域进行形貌、结构、成分分析。球差校正TEM又将点分辨率提高到0.0