一文概述微区电化学测试系统的基本特点
一文概述微区电化学测试系统的基本特点 微区电化学测试系统是建立在电化学扫描探针的设计基础上的，进行超高测量分辨率及空间分辨率的非接触式微区形貌及电化学微区测试系统。采用模块化配置，现有(SECM) 扫描电化学显微镜、(SVET) 扫描振动电极测试、 (LEIS) 微区电化学阻抗测试等模块。随着探针测试的进行，改变探针的空间位置。然后将所记录的数据对探针位置作图，针对不同技术，该图可以呈现微区电化学电流，阻抗或者是表面形貌图。 微区电化学测试系统具体先进的压电马达和闭环定位系统，能够提供更长的工作距离（100毫米）以及更高可重复性（250纳米）；集成信号测量技术和锁相放大器强大的噪声区分能力，具有更高的分辨率（50纳米）和信号灵敏度；配置两台标准的电化学工作站，既可以连接作为双恒电位仪使用，又可以分开作为两套独立使用；抗震光学平台采用蜂巢状的内部设计和硬质钢表面，能够提供热稳定的水平表面。 微区电化学测试系统提......阅读全文
一文概述微区电化学测试系统的基本特点
一文概述微区电化学测试系统的基本特点 微区电化学测试系统是建立在电化学扫描探针的设计基础上的，进行超高测量分辨率及空间分辨率的非接触式微区形貌及电化学微区测试系统。采用模块化配置，现有(SECM) 扫描电化学显微镜、(SVET) 扫描振动电极测试、 (LEIS) 微区电化学阻抗测试等模块。随
一文概述微区电化学测试系统的基本特点
一文概述微区电化学测试系统的基本特点 微区电化学测试系统是建立在电化学扫描探针的设计基础上的，进行超高测量分辨率及空间分辨率的非接触式微区形貌及电化学微区测试系统。采用模块化配置，现有(SECM) 扫描电化学显微镜、(SVET) 扫描振动电极测试、 (LEIS) 微区电化学阻抗测试等模块。
一文概述微区电化学测试系统的基本特点
一文概述微区电化学测试系统的基本特点 微区电化学测试系统是建立在电化学扫描探针的设计基础上的，进行超高测量分辨率及空间分辨率的非接触式微区形貌及电化学微区测试系统。采用模块化配置，现有(SECM) 扫描电化学显微镜、(SVET) 扫描振动电极测试、 (LEIS) 微区电化学阻抗测试等模块。
一文读懂微区扫描电化学工作站
微区扫描电化学工作站是一个建立在电化学扫描探针的设计基础上的，进行超高测量分辨率及空间分辨率的非接触式微区形貌及电化学微区测试系统。扫描电化学工作站在扫描探针电化学领域中是一个全新的概念，以超高分辨率，非接触式，空间分析电化学测量的特点而设计。 微区扫描电化学工作站是集电化学分析方法于一体的电化学
一文读懂微区扫描电化学工作站
微区扫描电化学工作站是一个建立在电化学扫描探针的设计基础上的，进行超高测量分辨率及空间分辨率的非接触式微区形貌及电化学微区测试系统。扫描电化学工作站在扫描探针电化学领域中是一个全新的概念，以超高分辨率，非接触式，空间分析电化学测量的特点而设计。 微区扫描电化学工作站是集电化学分析方法于一体的电化学
多通道电化学测试系统组成及特点
多通道电化学测试系统是主要针对电池、燃料电池和超级电容器等储能装置设计制造的直流（DC）和阻抗（AC）特性研究的综合测试系统；同时基于该系统的高速、宽测量范围及高分辨率，也广泛应用于传感器、涂层、腐蚀及常规电化学测试与分析。此系统包括一个或多个1470E多通道恒电位/恒电流仪和多通道145x系列频率
多通道电化学测试系统组成及特点
1470E多通道电化学测试系统是主要针对电池、燃料电池和超级电容器等储能装置设计制造的直流（DC）和阻抗（AC）特性研究的综合测试系统；同时基于该系统的高速、宽测量范围及高分辨率，也广泛应用于传感器、涂层、腐蚀及常规电化学测试与分析。此系统包括一个或多个1470E多通道恒电位/恒电流仪和多通道145
多通道电化学测试系统组成及特点
多通道电化学测试系统的系统特点：1. 同步阻抗测量输力强145x系列FRA（选项）可以与1470E结合完成多个电池的同步阻抗测量。该系列产品采用了单一正弦相关性和多正弦/ FFT的阻抗分析技术，提供超高的测量速度、准确度和精度。1455 FRA 在10mHz至1MHz频率范围内提供高性能的阻抗测量；
微透析分析系统概述
微透析分析系统是一种用于基础医学领域的分析仪器，于2015年02月28日启用。 技术指标 将一种具有透析作用的微细探针置于采样的生物组织内, 利用一部非常精细的注射泵, 推送溶液至探针处, 以达到与组织内欲取出测量的低分子量物质, 进行透析交换。交换后的透析液被采集，通过高效液相或其它仪器做
微流控芯片检测系统的基本特点与优势
1.采用激光诱导荧光检测，能与玻璃、石英石、高聚物等芯片配套使用，它采用共聚焦光路，检测灵敏度高，为紫外/可见光检测器的100，000倍。2.样品消耗量少。样品和试剂的使用量少，检测效果佳。3.检测范围广，可以检测到发射光在500nm以上的波长4.三维调节台，检测点可根据不同芯片规格或检测要求，可以