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一、2011年全国材料科学电子显微学会议通知 随着电子显微学事业的飞跃发展，材料的电子显微表征技术日新月异。具有场发射枪的高空间分辨分析型TEM，使人们可以采用高分辨技术、微衍射、电子能谱、电子能量损失谱对纳米尺度的区域进行形貌、结构、成分分析。球差校正TEM又将点分辨率提高到0.08nm。利用环境扫描电镜，能在低真空下加热、冷却、加气、加液观察样品变化。配备EBSD附件的SEM可以方便地给出材料的晶粒尺寸、晶粒取向、织构等信息。STM的问世，实现了在实空间观察到原子排成晶格结构图像。AFM通过检测探针与样品的作用能在水平方向0.1nm，垂直方向0.01nm的分辨率表征样品三维形貌。先进的仪器设备，加上方方面面对科研事业大力支持，我国电子显微学领域的研究工作已开始步入世界相关学科前沿行列中。 伴随原位观察与材料性能测试的需求，应运而生的各种电镜样品台的出现和应用引起我国新一轮材料电子显微学研究高潮的到来。尤其对......阅读全文
目前，已经成功研制出的扫描电镜包括了：典型的扫描电镜、扫描透射电镜（STEM）､场发射扫描电镜（FESEM）、冷冻扫描电镜（Cryo-SEM），低压扫描电镜( LVSEM)、环境扫描电镜( ESEM）、扫描隧道显微镜（STM )、扫描探针显微镜( SPM )，原子力显微镜（AFM）等，以下介绍几