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2011年3月13日～3月18日，在美国亚特兰大举办的Pittcon 2011展会上， 日本电子JEOL推出其Spiral Tof-Tof 和 InTouch Scope SEM。 Spiral Tof-Tof Spiral Tof-Tof 有15m的飞行时间，比常规的MALDI TOF/TOF仪器超出一个数量级的时间，因此能够进行同位素前体离子的选择，选择的前体来自同一母离子，光谱分析结果更加简单。 JMS-S3000是日本电子配备独特的离子光学系统Spiral TOF的一款MALDI-TOF 质谱仪。它具有高分辨率和灵敏度，在科学研究中拥有公认的特殊性能，成为一款领先的分析工具，普遍适用于聚合物合成，材料科学和生物高分子领域研究。 日本电子 JMS-S3000 InTouch Scope SEM 日本电子InTouchScope可移动扫描电镜提供的成像和分析结果触手可及，......阅读全文
为期一周的Pittcon 2011展会于3月18日落下帷幕。Pittcon大会可谓是分析化学及光谱学领域内影响力最大的展览会，与分析仪器相关的各大厂商都派出了强大阵容参加此次展会。据主办方统计，此次展会共有978家参展商参加（其中新参展商108个)，展位2061个。来自中国的参展商就有超过16家
2014年12月13日，中国分析测试协会在北京湖北大厦召开了第七届理事会第四次会议。分析测试协会理事及代表、以及业内人士共计130余人与会。会议现场分析测试协会 张渝英秘书长 分析测试