美国开发高精密铜源X射线仪
美国国家标准技术研究院（NIST）利用其开发的最新先进机器形成并精确测量了X射线频谱。该设备开发与制造费时20年，将帮助科学家制造世界上最精确的材料，可应用在基础设施和药物上，同时也确保世界上不同实验室之间材料测量的可靠性，新的专业精密仪器需要大量的机械创新和理论建模。 NIST新设备形成的X射线——铜K-α线与无数其它X射线没有本质区别，是通过铜靶发射电子产生，但不同的是，经过多年的工程和计算已经构建一个可以非常精确地扫描样品周边整体的工具。此外，该设备还配备了一个X射线摄像机，提供比传统检测仪器更加丰富的信息，并提供样本一致性对标自检测，减少系统的不确定性。该机器在地下实验室中制造，具有严格控制的稳定，能开展极端精确的测量。该仪器最大的成就之一是功能强大的测角仪。 新机器将使研究人员可以将晶格间距的测量与国际单位制中的计量仪定义相关联，与国际单位制计量仪之间的比较，使得质量保证在最小和最精确的水平上。研究人员的......阅读全文
铜镀银X射线无损测厚仪
铜镀银X射线无损测厚仪，荧光X-射线微小面积镀层厚度测量仪的特征◆可测量电镀、蒸镀、离子镀等各种金属镀层的厚度◆可通过CCD摄像机来观察及选择任意的微小面积以进行微小面积镀层厚度的测量，避免直接接触或破坏被测物。◆薄膜FP法软件是标准配置，可同时对多层镀层及合金镀层厚度和成分进行测量。此外，也适用于
美国开发高精密铜源X射线仪
美国国家标准技术研究院（NIST）利用其开发的最新先进机器形成并精确测量了X射线频谱。该设备开发与制造费时20年，将帮助科学家制造世界上最精确的材料，可应用在基础设施和药物上，同时也确保世界上不同实验室之间材料测量的可靠性，新的专业精密仪器需要大量的机械创新和理论建模。 NIST新设备形成
铜上镀镍镀金X射线无损测厚仪
铜上镀镍镀金X射线无损测厚仪产品应用产业产品应用例IC封装导线架，BGA，BCC，Flip-Chip,散热片Sn-Pb/xx,Ag/xx,Au/Ni/xx,Au/Ni-P/xx,Ni-P/xx,Cr/xx,Sn/xx,Au/Pd/Ni/Cu.Solder Bump…导线架导线架Ag/xxPCB F
X射线能谱和FTIR分析铜胁迫对玉米幼苗的影响
应用X射线能谱和傅里叶变换-衰减全反射红外光谱(FTIR-ATR)分析方法结合一些生理指标的变化及幼苗叶片下表皮扫描电镜观察,研究一定浓度(0、200、400、800、1000mg.kg-1)Cu2+胁迫对玉米幼苗的影响。结果表明,随着Cu2+浓度增高,叶绿素含量呈下降趋势,抗氧化酶(SOD、CAT
软X射线源上X射线能谱与X射线能量的测量
本文介绍了国内首次利用针孔透射光栅谱仪对金属等离子体Ｚ箍缩Ｘ射线源能谱的测量结果及数据处理方法。同时用量热计对该源的单脉冲Ｘ射线能量进行了测量并讨论了其结果。
X射线诊断
X射线应用于医学诊断[6]，主要依据X射线的穿透作用、差别吸收、感光作用和荧光作用。由于X射线穿过人体时，受到不同程度的吸收，如骨骼吸收的X射线量比肌肉吸收的量要多，那么通过人体后的X射线量就不一样，这样便携带了人体各部密度分布的信息，在荧光屏上或摄影胶片上引起的荧光作用或感光作用的强弱就有较大
X射线治疗
X射线应用于治疗[7]，主要依据其生物效应，应用不同能量的X射线对人体病灶部分的细胞组织进行照射时，即可使被照射的细胞组织受到破坏或抑制，从而达到对某些疾病，特别是肿瘤的治疗目的。
X射线光谱
1914年，英国物理学家莫塞莱（Henry Moseley,1887-1915）用布拉格X射线光谱仪研究不同元素的X射线，取得了重大成果。莫塞莱发现，以不同元素作为产生X射线的靶时，所产生的特征X射线的波长不同。他把各种元素按所产生的特征X射线的波长排列后，发现其次序与元素周期表中的次序一致，他称这
X射线散射
美国物理学家康普顿（Arthur Holy Compton，1892～1962）在大学生时期就跟随其兄卡尔·康普顿开始X射线的研究。后来他到了卡文迪什实验室，主要从事g射线的实验研究。他用精湛的实验技术精确测定了γ射线的波长，并确定γ射线在散射后波长会变得更长。但他没能从理论上解释这个实验事实。他到
X 射线激光
X 射线激光指的是 XFEL （x-ray free-electron laser），X 射线自由电子激光。而这种激光，是将自由电子激光技术（FEL）产生的激光，拓展到 X 射线范围内而产生的一种 X 射线激光。这种激光的强度可达传统方法产生的激光亮度的十亿倍，因此可让较小晶体产生出足够强的衍射图样