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相貌分析的主要内容是分析材料的几何形貌，材料的颗粒度，及颗粒度的分布以及形貌微区的成份和物相结构等方面。形貌分析方法主要有：光学显微镜(Opticalmicroscopy,OM)、扫描电子显微镜(Scanningelectron microscopy, SEM)、透射电子显微镜(Transmission electron microscopy, TEM)、扫描隧道显微镜(Scanning tunneling microscopy, STM)和原子力显微镜(Atomic force microscopy, AFM)SEM扫描电镜分析可以提供从数纳米到毫米范围内的形貌像，观察视野大，其分辩率一般为6纳米，对于场发射扫描电子显微镜，其空间分辩率可以达到0.5纳米量级。其提供的信息主要有材料的几何形貌，粉体的分散状态，纳米颗粒大小及分布以及特定形貌区域的元素组成和物相结构。扫描电镜对样品的要求比较低，无论是粉体样品还是大块样......阅读全文
材料的逆向分析是现行材料研发中的重要的手段，也是实现材料研发中的最经济、最有效的的研发手段。如何实现材料的逆向分析，从认识材料的分析仪器着手。 成分分析简介 成分分析技术主要用于对未知物、未知成分等进行分析，通过成分分析技术可以快速确定目标样品中的各种组成成分是什么，帮助您对样品进行定性定量
成分分析： 成分分析按照分析对象和要求可以分为 微量样品分析 和 痕量成分分析 两种类型。 按照分析的目的不同，又分为体相元素成分分析、表面成分分析和微区成分分析等方法。 体相元素成分分析是指体相元素组成及其杂质成分的分析，其方法包括原子吸收、原子发射ICP、质谱以及X射线荧光与X射线衍射分析方
近日，某环保材料公司的质量部找到我司，希望能够采购一台国产材料显微镜，可用于他们观察环保材料的数码显微镜。该环保材料为石膏类颗粒与微粉，要求观察到样品的整体形貌并做尺寸测量。在初期我们的技术人员推荐使用上海光学仪器厂的SG1200材料显微镜以及300W数码摄像头，通过反射照明来观
【摘要】详细介绍了低真空扫描电子显微镜的发展及其在质检和计量等工作中的应用情况，并对国家泵类产品质量监督检验中心引进的德国蔡司EVO 18型扫描电子显微镜的放大倍率进行了校正，结果表明，其放大倍率的误差小于0.5%，在质检及计量等工作中将发挥重大的作用。 【关键词】低真空扫描电镜；国家系类产品
扫描电子显微镜是高性能、功能强大的高分辨应用型扫描电子显微镜。扫描电子显微镜电镜采用多接口的大样品室和艺术级的物镜设计，提供高低真空成像功能，可对各种材料表面作分析，并且具有业界的X射线分析技术。革命性的的设计，确保在低电压条件下提供高分辨率的锐利图像，同时还可以进行准确的能谱分析。样品台为五轴全
导电原子力显微镜(CAFM)是传统原子力显微镜的衍生物，除了力敏感器和力探测器，扫描所用的针尖是导电的，附加一个灵敏电流表。导电原子力显微镜在获取样品表面形貌信息的同时，可以获得和形貌一一对应的局域电导信息。导电原子力显微镜简介 自应用以来，导电原子力显微镜主要用来对电学传输性质各向异性的固体材料
金相显微镜是金相实验室的仪器设备，特长就是能捕捉镜头下的任何细节，给你提供清晰真实的图像，让你对样品的观测更为准确。然而金相显微镜不仅可以将以上工作完成的出色，还能帮你提升工作能力！金相显微镜专为金相和材料检验而设计。适用于材料、生产控制检查、检查样品制备过程和金相教学。为用户提供优质的光学器件和
金相显微镜 金相显微镜是指通过光学放大，对材料显微组织、低倍组织和断口组织等进行分析研究和表征的光学显微镜。 金相显微镜通过观察可以明确材料显微组织的成像及其定性、定量表征，也可以帮助用户了解必要的样品制备、准备和取样方法。 金相显微镜通过观察也可以反映和表征出构成
金相显微镜断口分析技术早在十七世纪初，人们就开始使用金相显微镜从事金届材料断口分析，井取得了较显著的成就；尤其是对脆性解理断口和疲劳断口等形貌特征的观察与分析其成果更为注目。这象由原来应用肉眼或放大镜观察断口宏观形貌阶段，发展到以光学显微镜进行分析断口的显微形统的企相学阶段。1．金相显微镜观察方法在
原子力显微镜是通过探针与被测样品之间微弱的相互作用力来获得物质表面形貌的信息，因此，原子力显微镜除导电样品外，还能够观测非导电样品的表面结构，其应用领域更为广阔，除物理、化学、生物等领域外，原子力显微镜在微电子学、微机械学、新型材料、医学等领域都有着广泛的应用。 对比于现有的其它显微工具，
原子力显微镜是通过探针与被测样品之间微弱的相互作用力来获得物质表面形貌的信息，因此，原子力显微镜除导电样品外，还能够观测非导电样品的表面结构，其应用领域更为广阔，除物理、化学、生物等领域外，原子力显微镜在微电子学、微机械学、新型材料、医学等领域都有着广泛的应用。 对比于现有的其它显微工具，原子
扫描力显微镜是一种利用尖锐的微型探针在样品表面上方扫描来检测样品表面的一些性质，如形貌特征和表面电势等等。如图1所示，当针尖在样品表面扫描时，针尖与样品的相互作用力使得微悬臂发生形变。反馈系统根据检测器检测到的形变结果不断调整针尖和样品间的距离，从而保持针尖和
奥林巴斯OLYMPUS BX51金相显微镜技术讲堂奥林巴斯OLYMPUS BX51金相显微镜技术讲堂 奥林巴斯OLYMPUS BX51的一项重要内容就是金相检验。金相检验工作是理论和实践性部很强的工作，涉及到检验人员的理论水平、业务素质及实际操作能力，因此，金相检验的正确判定对于提高机械工
摩擦力显微镜（LFM）是在原子力显微镜（AFM）表面形貌成像基础上发展的新技术之一。材料表面中的不同组分很难在形貌图像中区分开来，而且污染物也有可能覆盖样品的真实表面。LFM恰好可以研究那些形貌上相对较难区分、而又具有相对不同摩擦特性的多组分材料表面。图1
2017年度北京市电子显微学年会在北京天文馆召开。 分析测试百科网讯2017年12月19日，2017年度北京市电子显微学年会在北京天文馆召开，本次会议年会由北京市电镜学会、北京理化分析测试技术学会主办，旨在推动北京及周边地区广大电子显微学的学术及技术水平，促进电子显微学工作者在材料科学，生命科
1． 粒度分析的概念 大部分固体材料均是由各种形状不同的颗粒构造而成，因此，细微颗粒材料的形状和大小对材料结构和性能具有重要的影响。尤其对于纳米材料，其颗粒大小和形状对材料的性能起着决定性的作用。因此，对纳米材料的颗粒大小、形状的表征和控制具有重要的意义
形貌分析的主要内容是分析材料的几何形貌，材料的颗粒度，及颗粒度的分布以及形貌微区的成份和物相结构等方面。形貌分析方法主要有：光学显微镜(Opticalmicroscopy,OM)、扫描电子显微镜(Scanningelectron microscopy, SEM)、透射电子显微镜(Transmissi
1．金相显微镜观察方法在材料科学中使用的金相显微镜，其基本原理是通过试样表面的反射光，观察物体的表面状态。由于材料表面的显微组织、晶体结构、化学成分、粗糙程度等不相同，因此光的反射情况不同而形成衬由如图3—5所示。光学显微镜的极限分辨本领受到可见光波长所限制，一般可由Payleigh判据结出，即：d
因为有了超级天文望远镜，我们可以拍下宇宙的永恒美丽； 因为有了照相机，我们可以记录大自然的千奇百怪和绚烂多彩；因为有了光学显微镜，我们揭开了微观世界神秘面纱的一角。然而，由于光波衍射现象的限制，传统光学显微镜的放大率不能无限提高，我们对纳米世界（<1微米，即百万分之一米）的真实面貌还了解较
一、原子力显微镜的概述 原子力显微镜（Atomic Force Microscope ，AFM），一种可用来研究包括导体、半导体和绝缘体在内的固体材料表面结构的分析仪器。它的横向分辨率可达0.15m，而纵向分辨率可达0.05m，AFM最大的特点是可以测量表面原子之间的力，AFM可测量的最小
样品物象的表征包括形貌、粒度和晶相三个方面。物相分析一般使用 X－射线粉末衍射仪（XRD）和电子显微镜。形貌和粒度可通过扫描电镜（SEM）和透射电镜（TEM）直接观测到粒子的大小和形状。但由于电镜只能观测局部区域，可能产生较大的统计误差。晶粒（注意粒子的大小和晶粒的大小不是一个概念，在多数情况下
原子力显微镜的主要应用领域 在材料科学领域，原子力显微镜不但可以获得材料表面的3D形貌、表面粗糙度和高度等信息，而且可以获得材料表面物理性质分布的差异，例如摩擦力、阻抗分布、电势分布、介电常数，压电特性、磁学性质等。 &n
一、扫描电子显微镜（SEM）固体样品的微观形貌、结构，样品的微区成分分析，广泛应用于材料、生物、化学、环境等领域。（1）、粉末、微粒样品形态的测定；（2）、金属、陶瓷、细胞、聚合物和复合材料等材料的显微形貌分析；（3）、多孔材料、纤维、聚合物和复合材料等界面特性的研究；（4）、固体样品表面微区成分的
从研发中心到质量检查实验室到再用于在线过程控制的机器人驱动系统，这款徕卡显微镜专为分辨率需达到 0.1 nm 的各种高速测量应用而设计。下面我们来看看具体功能分析： 三套系统合为一体： 明场和暗场彩色数字式显微镜； 高分辨率的共焦成像和测量系统；
3、粒度分析的种类和适用范围 材料颗粒度分析的方法以有很多，现已研制并生产了200多种基于各种工作原理的分析测量装置，并且不断有新的颗粒粒度测量方法和测量仪器研制成功。虽然粒度分析的方法多种多样，基本上可归纳为以下几中方法。传统的颗粒测量方法有筛分法、显微镜法、沉降法、电感应法等，近年来发展的方法有
半导体显微镜是鉴定成品材料质量必不可少的仪器。半导体显微镜主要通过材料显微组织的定性，定量晶界组织等表征识别来对材料工艺流程，物理特性，失效成因等综合因素做出科学的判断，并对金属细微结构以及非金属夹杂物的分布形貌等进行科学研究。 伴随着全球经济进入新常态，国内材料行业必定在供给侧改革的大趋势下迎
原子力显微镜是一种具有原子分辨率的表面形貌、电磁性能分析的重要仪器。原子力显微镜探针由于应用范围仅限于原子力显微镜，属于高科技仪器的耗材，应用领域不广，全世界的使用量也不多。原子力显微镜探针的分类 原子力显微镜探针基本都是由MEMS技术加工Si或者Si3N4
晶粒（注意粒子的大小和晶粒的大小不是一个概念，在多数情况下纳米粒子是由多个完美排列的晶粒组成的）的晶相和大小，虽然也可通过更强的场发射透镜（HRTEM）得到，但是机器昂贵、操作复杂，所以实验室一般使用X射线粉末衍射仪。 XRD、TEM、AFM在表征粒径大小方面各有优势，我们将分别从原理和应用来
一种金属或合金的性能取决于其本身的两个属性：一个是它的化学成分，另一个是它内部的组织结构。所以，对金属材料的成分和组织结构进行精确表征是金属材料研究的基本要求，也是实现性能控制的前提。材料分析的内容主要包括形貌分析、物相分析、成分分析、热性能分析、电性能分析等。本文就金属材料的形貌分析、物相分析
扫描探针显微镜(SPM s )是用来探测表面性质的仪器家族,是由B inn ig 和Roh rer 等人最早于1982年发明[1]。虽然SPM 在目前可以测量许多表面的其它性质,但是揭示表面形貌一直是它的主要应用目的。SPM 是我们这个时代中最为有力的表面测量工具,其测量表面特征的尺寸可以从原子间距