XRF在矿物加工领域中的应用
5.1 XRF在矿物加工领域中的应用 X射线荧光（XRF)分析技术主要用于元素成份分析，具有现场快速、无损和多元素同时分析的特点。目前，该技术已广泛应用于地质、环境、工业产品、半成品及原料的质量检测，特别是在矿冶领域中，对矿石品位的检测有着良好的经济和社会效益。 近年来，随着新一代基于高分辨率电致冷半导体探测器XRF分析技术的研究与推广，以新一代高分辨率XRF分析仪，同时快速测定铁钛矿中钛、铁的品位，特别是测定高含量矿石样品的品位有着较好的效果。但在XRF分析中，由于基体效应、密度效应、水分效应、不均匀效应等因素(特别是基体效应)会给元素含量分析带来影响，因此，在激发源、测量装置逐步完善的前提下，基体效应校正就成为获取可靠元素含量数据的关键。 5.2 举例说明XRF在矿物加工领域中的应用 X射线荧光光谱分析法在钨矿检测中具有准确性好，精密度高的优点。在选矿厂浮选生产过程中，XRF主要用于在线监测矿浆......阅读全文
XRF在矿物加工领域中的应用
5.1 XRF在矿物加工领域中的应用 X射线荧光（XRF)分析技术主要用于元素成份分析，具有现场快速、无损和多元素同时分析的特点。目前，该技术已广泛应用于地质、环境、工业产品、半成品及原料的质量检测，特别是在矿冶领域中，对矿石品位的检测有着良好的经济和社会效益。 近年来，随着新一代基于高分辨率电致冷
XRF破译矿物成分
本文以国家标准物质作为参照物，采用熔融制样X 射线荧光光谱法进行镁砂及其矿物原料（镁石、菱镁矿）中SiO2、Al2O3、CaO、MgO、Fe2O3、MnO、P2O5 含量测定。讨论了熔融制样采用的熔剂体系、样品与熔剂的稀释比例、融熔制样的温度和时间对制样精度及测量准确度的影响。探讨了镁
XRF测定镁砂及其矿物原料中主次成分
本文以国家标准物质作为参照物，采用熔融制样X 射线荧光光谱法进行镁砂及其矿物原料(镁石、菱镁矿)中SiO2、Al2O3、CaO、MgO、Fe2O3、MnO、P2O5 含量测定。讨论了熔融制样采用的熔剂体系、样品与熔剂的稀释比例、融熔制样的温度和时间对制样精度及测量准确度的影响。探讨了镁石、菱镁
矿物分析能用XRD或者XRF测量各个元素含量吗
XRD可以用来半定量分析，XRF经过标样校正后可以定量测元素含量
缅怀！著名矿物加工专家陈清如院士逝世！
陈清如院士1926年12月出生于浙江省杭州市，1953年6月加入中国共产党。1952年毕业于唐山交通大学矿冶系，1952年7月起先后在唐山交通大学、中国矿业大学任教。1983年晋升为教授，1991年起享受政府特殊津贴，1995年5月当选为中国工程院院士。 陈清如院士是我国矿物加工学科的奠基者和
澳新拟批准白矿物油作为谷物中粉尘抑制的加工助剂
2019年10月4日，澳新食品标准局（FSANZ）发布97-19通知，其中A1189号申请请求允许食品添加剂白矿物油（White mineral oil） 作为谷物中粉尘抑制的加工助剂。 据了解，目标谷物包括但不限于小麦、玉米、大豆、大麦、大米、黑麦、燕麦、高粱、油菜和羽扇豆“，其限量与美国保
XRF
能量色散X荧光光谱仪，简称XRF，是一种物理的元素分析方法，具有快速、无损、多种元素同时分析、分析成本低等特殊技术优势，在电子、电器、珠宝、玩具、服装、皮革、食品、建材、冶金、地矿、塑料、石油、化工、医药等行业广泛应用。可应用于：1、欧盟RoHS指令限定有害元素检测： 铅Pb、汞Hg、镉Cd、六价铬
两院院士王淀佐获国际矿物加工大会终身成就奖
第25届国际矿物加工大会于2010年9月6日至10日在澳大利亚布里斯班举行。在8日晚的会议上，大会按照惯例颁发了终身成就奖。中国科学院、中国工程院两院院士教授荣获国际矿物加工大会终身成就奖。该奖旨在奖励在世界范围内为矿物加工业做出杰出贡献的科学家。 王淀佐院士是首位获得该奖的中
如何利用矿物的力学性质鉴别矿物
矿物在受到刻划、敲打等外力作用下表现出来的特性，称矿物的力学性质。有解理、断口和硬度。 （一）解理和断口矿物在受到外力打击后，沿一定方向有规律地裂成光滑平面的性质叫解理。如打击后只裂成不规则的表面，就叫断口。解理分成五个等级： 极完全解理晶体可裂成薄片，解理面光滑平整，如云母等。完全解理晶体
XRF测试
XRF测试若干问题： XRF中文称为X射线荧光光谱仪，它包括能量色散型X射线荧光光谱仪（EDXRF）和波长色散型X射线荧光光谱仪(WDXRF)，WDXRF在精度和准确度方面要比EDXRF好，价格也较高。目前市场上使用较多的是EDXRF。无论是哪种X射线荧光光谱仪，它都是利用荧光散射的原理探测样品中是
矿物加工专家陈清如逝世－共和国今年已痛失15位两院院士
陈清如，1926年12月3日出生于浙江省杭州市， 1948年至1952年就读于唐山交通大学，1959年至1960年到莫斯科矿业学院进修，先后在唐山交通大学、中国矿业大学工作。1995年当选为中国工程院院士。 陈清如是我国著名的矿物加工专家、教育家，矿物加工学科的奠基者和开拓者之一，长期致力于选
波散XRF与能散XRF的区别
一．X射线荧光分析仪简介 X射线荧光分析仪是一种比较新型的可以对多元素进行快速同事测定的仪器。在X射线激发下，被测元素原子的内层电子发生能级跃迁而发出次级X射线（X-荧光）。波长和能量是从不同的角度来观察描述X射线所采用的两个物理量。波长色散型X射线荧光光谱仪（WD-XRF）。是用晶
提高矿物浮选产量
最常见的选矿方法是泡沫浮选法。控制pH值对于最大程度提高矿物产量、减少化学物质使用量以及改变ζ 电势至关重要。我们名为《pH、ζ 电势与泡沫》的白皮书详细阐述了 pH值 对于泡沫浮选法效率的重要性以及智能电极管理技术如何进一步提高效率。泡沫浮选法或许是应用最广泛的选矿与富集方法。添加捕收剂和调整剂对
XRF的优点
a) 分析速度高。测定用时与测定精密度有关，但一般都很短，2～5分钟就可以测完样品中的全部待测元素。 b) X射线荧光光谱跟样品的化学结合状态无关，而且跟固体、粉末、液体及晶质、非晶质等物质的状态也基本上没有关系。（气体密封在容器内也可分析）但是在高分辨率的精密测定中却可看到有波长变化等现象。
XRF的分类
不同元素发出的特征X射线能量和波长各不相同，因此通过对X射线的能量或者波长的测量即可知道它是何种元素发出的，进行元素的定性分析。同时样品受激发后发射某一元素的特征X射 线强度跟这元素在样品中的含量有关，因此测出它的强度就能进行元素的定量分析。 因此，X射线荧光光谱仪有两种基本类型： 波长色
什么是XRF？
XRF：X射线荧光光谱分析（X Ray Fluorescence），通常把X射线照射在物质上而产生的次级X射线叫X射线荧光（X—Ray Fluorescence），而把用来照射的X射线叫原级X射线。所以X射线荧光仍是X射线。一台典型的X射线荧光（XRF）仪器由激发源（X射线管）和探测系统构成。X射线
什么是XRF
XRF:X射线荧光光谱分析(X Ray Fluorescence) 人们通常把X射线照射在物质上而产生的次级X射线叫X射线荧光（X—Ray Fluorescence），而把用来照射的X射线叫原级X射线。所以X射线荧光仍是X射线。 一台典型的X射线荧光（XRF）仪器由激发源（X射线管）和探
XRF的优点
分析速度高。测定用时与测定精密度有关，但一般都很短，2-5分钟就可以测完样品中的全部元素。非破坏性。在测定中不会引起化学状态的改变，也不会出现试样飞散现象。同一试样可反复多次测量，结果重现性好。分析精密度高。制样简单，固体、粉末、液体样品等都可以进行分析。测试元素范围大，WDX可在ppm-100%浓
XRF的原理
X射线是电磁波谱中的某特定波长范围内的电磁波，其特性通常用能量（单位：千电子伏特，keV）和波长（单位：nm）描述。 X射线荧光是原子内产生变化所致的现象。一个稳定的原子结构由原子核及核外电子组成。其核外电子都以各自特有的能量在各自的固定轨道上运行，内层电子（如K层）在足够能量的X射线照射下脱
XRF是什么
XRF是什么??XRF测试及XRF原理,本内容深入探讨了XRF的相关内容，并做了整体的讲解分析。1.什么是XRF?XRF:X射线荧光光谱分析(X Ray Fluorescence)人们通常把X射线照射在物质上而产生的次级X射线叫X射线荧光（X—Ray Fluorescence），而把用来照射的X射线
XRF检测原理
原理 （XRF）仪器由激发源（X射线管）和探测系统构成。X射线管产生入射X 射线（一次射线），激励被测样品。样品中的每一种元素会放射出的二次X射线，并且不同的元素所放出的二次射线具有特定的能量特性。探测系统测量这些放射出来的二次射线的能量及数量。然后，仪器软件将控测系统所收集的信息转换成样品中的各种
XRF技术讲解
X射线荧光光谱（XRF）技术是一项可用于确定各类材料成分构成的分析技术，已经成熟运用多年。其应用方向包括金属合金、矿物、石化产品等等。 X射线形成部分电磁波谱。其处于紫外线辐射的高能侧，使用千电子伏特表示能量高低，纳米表示波长。 XRF一般可用于分析从钠到铀的所有元素，其可识别浓度范围最低至
XRF的分析
a) X射线用于元素分析，是一种新的分析技术，但在经过二十多年的探索以后，现在已完全成熟，已成为一种广泛应用于冶金、地质、有色、建材、商检、环保、卫生等各个领域。 b) 每个元素的特征X射线的强度除与激发源的能量和强度有关外，还与这种元素在样品中的含量有关。 c) 根据各元素的特征X射线的强
WD－XRF与ED－XRF的优缺点
WD－XRF与ED－XRF的区别在于前者是用分光晶体将荧光光束进行色散，而后者则是借助高分辨率敏感半导体检测器与多道分析器将所得信号按光子能量进行分离来测定各元素含量。
WD－XRF与ED－XRF有什么区别
WD－XRF与ED－XRF的区别在于前者是用分光晶体将荧光光束进行色散，而后者则是借助高分辨率敏感半导体检测器与多道分析器将所得信号按光子能量进行分离来测定各元素含量。
《矿物材料学原理》出版
日前，由成都理工大学教授汪灵撰写、国家科学技术学术著作出版基金项目资助的学术专著《矿物材料学原理》由地质出版社出版发行。 该书是一部关于矿产资源高效开发利用的实用工具书，系统地研究和论述了矿物材料的组成结构、加工制备、物化性能、使用效能和矿物原料五要素及其相互关系和规律。全书106万字，插图3
XRF仪器选择宝典
能测RoHS指令的仪器很多，而且这些仪器无论是国产的还是进口的，都是属贵重仪器。如何选择不光是费用问题，更主要的使用问题。 对六种有害物质总量的定量检测： 一、 按日本商会欧盟分部的“依照RoHS指令的检测方法”。 该方法建议对来料先便携式（手持式）ROHS检测
XRF问题汇总（五）
41.我们公司最近刚购一台ARL9800X荧光议，长期稳定性一直都不能达到指标。测角仪和固定道的强度变化都很大。这都和那些因素有关呢？存在空间干扰吗？ (1) 稳定住室内温度，不要关闭仪器自身的恒温机构（即使关机），每次分析样品前作PHA调整以及阿尔法校正，采取上述措施后，情况可能会有所改善。 (2
XRF问题汇总（三）
21.X荧光光谱热电的仪器,检测口放一铜片的作用？ (1) 有的手持式的在头部装有一个校正的样品，同时在不用的时候也可以保护X射线发射源。 (2) 铜块作用一是作能量校正，二是在不测其它样品时挡住窗口起保护作用。 22.为什么X射线荧光测定压片样中的Sb含量时样片厚度有影响？ (1) 原子序数较低
什么是XRF测试
XRF：X射线荧光光谱分析（X Ray Fluorescence)。人们通常把X射线照射在物质上而产生的次级X射线叫X射线荧光（X—Ray Fluorescence），而把用来照射的X射线叫原级X射线。所以X射线荧光仍是X射线。一台典型的X射线荧光（XRF）仪器由激发源（X射线管）和探测系统构成。X