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Bruker拓展其小角X射线散射(SAXS)产品组合进行高通量纳米结构分析 佛罗里达州奥兰多，2012年3月12日——在Pittcon 2012上，Bruker公司宣布其X-ray衍射和散射产品组合进行高通量纳米分析的战略扩张，此发展策略基于Bruker公司最近收购了一项Kratky小角X-ray散射(SAXS)技术，该项技术之前由奥地利格拉茨的Hecus X射线系统有限公司开发。 MICRO™系列系统 通过把ImS™微焦点X-ray源和Bruker公司的VANTEC-1™探测器集成到Kratky MICRO™系列的SAXS摄像机中，使SAXS测量速度和样品通量的性能得到进一步提升。超过最好常规仪器2-3倍的增益因子数开辟了新的应用领域，这对于从弱散射材料或产品收集数据，测量速度和原射线束通量密度都是必不可少的。新的MICROCalix™系统甚至可以使研究人员在化学和药物开发的同时，执行SAX......阅读全文
2012年3月12日—在Pittcon 2012展会上，Bruker公司宣布推出几款用于研究、工业生产和应用市场的新产品，灵敏度、专一性和生产率大幅提高，为研究分析带来了信心，同时推动乐高分子领域和材料的研究应用。在Pittcon 2012展会期间Bruker公司推出的新产品包括：io
分析测试百科网讯 2016年2月26日，北京理化分析测试技术学会、布鲁克（北京）科技有限公司组织召开北京光谱技术交流会。布鲁克德国专家及国内的应用工程师，全面介绍了布鲁克光谱的X射线衍射/荧光新产品，新技术。来自科研院所、实验室的70余人参与了此次会议。光谱技术交流