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通过分子束外延法在经Mg预处理的蓝宝石衬底上制备了ZnO单晶薄膜,利用高分辨透射电镜、电子全息和X射线能谱对该薄膜的结构进行了细致的研究。结果表明,在蓝宝石衬底上预沉积一层很薄的Mg层,可以生长均匀Zn极性的ZnO外延薄膜。ZnO/MgO/蓝宝石的界面非常清晰锐利,同时在界面处可以观察到大约3个原子层的MgO。预沉积的Mg薄层对随后ZnO的极性选择起了关键性作用。......阅读全文
对于电子薄膜材料研究,薄膜的微观结构、成分和厚度是决定薄膜性能的一个关键因素。如何表征薄膜的微观结构、成分和厚度也一直是薄膜研究领域的一个重要课题,尤其是应用无损表征方法。扫描电子显微镜配备X射线能谱仪分析技术（电子探针能谱）能够观察微观形貌和分析薄膜的微区成分的同时,根据电子束的穿透深度可测量薄膜
电子探针微区分析(EPMA，XRMA)由于X射线激发深度较大而对薄层分析产生困难，无法准确确定分析结果是样品表面的成分还是样品体相的成分。本工作首先从理论上探讨了薄膜产生全反射的的条件，然后在通常的x射线微区分析设备上，采用外全反射角X射线能谱微分析方法，通过对硅衬底上不同膜厚的铝膜和铜膜的测定，探
上海交通大学分析测试中心 邹志强 来自上海交通大学分析测试中心邹志强老师做了《硅基底上外延生长的MnSi1.7 纳米线的STM、TEM和XPS研究》的报告。 利用STM对Mn的硅化物在Si（111）、Si（001）、Si（110）衬底上的反应外延生长进行了详细的研究，发现在大约500-600℃的
Ce02具有很高的氧储存／释放能力,担载金属的氧化铈催化剂广泛应用于汽车尾气净化、低温水-气变换和乙醇水汽重整等重要的催化反应体系中。以Ce02为载体的金属Ag和Ni催化剂除了在以上重要催化反应中表现出良好的催化活性外,还具有低成本和易制备的特点,因而获得广泛应用。因此从原子-分子水平上研究此类催化
第一章固体的光学性质作为材料的重要基本物理性质之一,一直是各个尺度材料性质的研究热点。固体的光学常数,一方面反映了材料对外界宏观电场的响应,联结了外场E和局域电场Eloc的数学关系。另一方面,固体光学常数在不同波段的响应特性包含了固体丰富的微观量子态信息,比如作用于红外区间的光子-声子、电子-电子声
集成电路器件特征尺寸急剧缩小对源漏材料与衬底的接触势垒提出了新的挑战。各种新型的低势垒材料和新型硅化物制备方式不断涌现。其中具有较低金属功函数的稀土金属（如Er、Yb等）已经被证明在N型衬底硅上可以形成非常低势垒的硅化物,是目前国内外关注较多下一代硅化物的备选材料。同时,随着High-k技术以及肖特
本文提出一个直接利用薄膜和衬底的X射线能谱来同时测定薄膜的成分和厚度的新方法,利用薄膜发出的各元素的标识X射线强度比确定其成分,利用NaCl衬底的Nak_α和Clk_α标识X射线的强度随膜厚增大而衰减的定量关系确定膜厚,本方法不需要纯元素的块状标样,对在NaCl衬底上沉积的Cu-Si合金薄膜的成分和
石墨烯具有优异的力学性能和电学性能，利用此新标准，可以有针对性的寻找衬底材料，使石墨烯更好的发挥其性能。 一般而言，石墨烯在和衬底材料接触后，往往会失去其原有的一些性能。来自利希研究中心的物理学家最近提出一种标准，根据此标准科学家们可以有针对性地寻找合适的石墨烯衬底材料。通过共同努力，他们能够
RoHS指令(《电气、电子设备中限制使用某些有害物质指令》)规定输往欧洲的电子产品及其组件均需对六种有毒成份:铅(Pb)、汞(Hg)、镉(Cd)、六价铬(Cr6+)、多溴联苯(PBBs)、多溴二苯醚(PBDEs)等有害物质加以限制。近几年该指令已在电子电器、质量检测、环保等相关行业广泛实施应用。在多
EXF镀层测厚仪主要用于测量金属材料的涂层厚度。但是，由于测量对象、测量方法、测量环境、仪器设备等因素引入了大量的测量误差，为了保证测量结果的准确性和可靠性，有必要进行不确定性分析。 EXF镀层测厚仪可同时测量磁性基材表面的非磁性涂层（如钢铁）（如油漆、陶瓷、铬等）和非磁性金属基材表面
物理与材料学领域 【1】2019年12月11日，中科院物理所张余洋、丁洪及高鸿钧共同通讯在Science 在线发表题为“Nearly quantized conductance plateau of vortex zero mode in an iron-based superconducto
2019年上半年很快就结束了，iNature盘点了中国学者在Cell，Nature及Science发表的成果，我们发现总共有86篇（截至2019年6月24日），具体介绍如下： 4-6月发表的文章 【1】2019年6月21日，西北工业大学王文，中科院昆明动物研究所/BGI 张国捷及丹麦哥本哈根
近藤效应来源于非磁金属中微量的磁性杂质散射。由于非磁性主体的传导电子与磁性杂质的局域磁矩相互作用，电阻率在低温下出现极小值。磁性杂质对电阻的贡献与温度成对数关系：Δρ = –clnT，其中T是温度，c是取决于主体金属及磁性杂质的种类和浓度的参数。当温度低于特征温度——近藤温度TK时，磁性杂质的自
纳米科技是当今国际上的一个热点。纳米测量学在纳米科技中起着信息采集和分析的不可替代的重要作用，纳米加工是纳米尺度制造业的核心，发展纳米测量学和纳米加工的一个重要方法就是电子束，离子束技术。近年来发展起来的聚焦离子束纳米加工系统用高强度聚焦离子束对材料进行纳米加工，结合扫描电子显微镜实时观察，开辟了从
X射线是19世纪末物理学的三大发现（X射线1895年、放射性1896年、电子1897年）之一，这一发现标志着现代物理学的诞生。由于X射线是波长介于紫外线和γ射线之间的电磁辐射，因而它具有很高的穿透本领，能穿透许多对可见光不透明的物质，基于此，可用来帮助人们进行医学诊断和治疗，或者用于工业等领域的非破
X射线管产生的X射线不是单一能量X射线,而是包含了多种不同能量的连续谱X射线,从物理学角度分析可知,能量不同的X射线对于各种物质吸收特性不尽相同,因而物质与不同能量X射线相互作用会呈现不同的物理性质。在X射线CT中,利用连续谱的X射线照射被检对象后,由于各种能量X射线的吸收特性不同,可能出现射线束硬
拉曼光谱的原理及应用 拉曼光谱由于近几年来以下几项技术的集中发展而有了更广泛的应用。这些技术是：CCD检测系统在近红外区域的高灵敏性，体积小而功率大的二极管激光器，与激发激光及信号过滤整合的光纤探头。这些产品连同高口径短焦距的分光光度计，提供了低荧光本底而高质量的拉曼光谱以及体积小、容易使用的
成分分析： 成分分析按照分析对象和要求可以分为 微量样品分析 和 痕量成分分析 两种类型。 按照分析的目的不同，又分为体相元素成分分析、表面成分分析和微区成分分析等方法。 体相元素成分分析是指体相元素组成及其杂质成分的分析，其方法包括原子吸收、原子发射ICP、质谱以及X射线荧光与X射线衍射分析方
材料的逆向分析是现行材料研发中的重要的手段，也是实现材料研发中的最经济、最有效的的研发手段。如何实现材料的逆向分析，从认识材料的分析仪器着手。 成分分析简介 成分分析技术主要用于对未知物、未知成分等进行分析，通过成分分析技术可以快速确定目标样品中的各种组成成分是什么，帮助您对样品进行定性定量
红外光谱的原理及应用 (一)红外吸收光谱的定义及产生 分子的振动能量比转动能量大，当发生振动能级跃迁时，不可避免地伴随有转动能级的跃迁，所以无法测量纯粹的振动光谱，而只能得到分子的振动-转动光谱，这种光谱称为红外吸收光谱 红外吸收光谱也是一种分子吸收光谱。当样品受到频率连续变化的红外光照射
金属-氧化物界面（Metal-oxide interface）在很多先进的应用材料中起着非常重要的作用,有时甚至起着决定性的作用,比如:功能金属陶瓷材料、氧化物弥散强化合金、金属的氧化物防护、催化剂等等。众所周知,材料的宏观性质是由其微观结构所决定的,因此,为了改善材料的宏观性能,有必要弄清楚材料的
X射线谱仪简介编辑X射线谱仪设计有20路探测器，是此次载荷中探测器路数最多的系统，为有效预防多路探测器之间相互干扰，在硬/软件设计中还专门设计了“隔离”探测器单元功能及对太阳监测器计数率的调阈指令，以提高探测器在轨长期工作的可靠性 [1] 。X射线谱仪指向月面，由16
在许多材料的研究与应用中，需要用到一些特殊的仪器来对各种材料从成分和结构等方面进行分析研究。 其中，X射线能谱仪(XPS)就是常用仪器之一。下面详细介绍一下X射线能谱仪的基本原理、结构、优缺点及应用。 X射线光电子能谱(XPS)也被称作化学分析用电子能谱(ESCA)。该方法
(三)X射线光电子能谱法的应用 (1)元素定性分析 各种元素都有它的特征的电子结合能，因此，在能谱图中就出现特征谱线，可以根据这些谱线在能谱图中的位置来鉴定周期表中除H和He以外的所有元素。通过对样品进行全扫描，在一次测定中就可以检出全部或大部分元素。 (2)元
一 X光电子能谱分析的基本原理 X光电子能谱分析的基本原理：一定能量的X光照射到样品表面，和待测物质发生作用，可以使待测物质原子中的电子脱离原子成为自由电子。该过程可用下式表示：hn=Ek+Eb+Er；其中：hn：X光子的能量；Ek：光电子的能量；Eb：电子的结合能；
8月16日，2018年国家自然科学基金评审结果揭晓。继17号发布了2018年国家优青项目各单位的立项情况后，分析测试百科网今天又整理国家重大科研仪器项目的立项情况和完整名单，结果供大家参考。 59家单位获得86个国家重大科研仪器项目 国家重大科研仪器研制项目面向科学前沿和国家需求，以科学目标
各地区各级质量技术监督局下属事业单位质量计量监督检测所有设置珠宝首饰检验室或贵金属检验室等，主要职责是对企业或个人送检及质量执法抽检样品的检测和评级认证。针对贵金属（金、铂、钯、银等）饰品、钻石分级、珠宝玉石（红宝石、蓝宝石、祖母绿、珍珠、翡翠等国家标准规定的所有珠宝玉石品种）及饰品和观赏石（岩
电子探针微区分析(EPMA,XRMA)由于X射线激发深度较大而对薄层分析产生困难,无法准确确定分析结果是样品表面的成分还是样品体相的成分。本工作在通常的X射线微区分析设备上,采用外全反射角X射线能谱微分析方法,通过对硅衬底上不同膜厚的铝膜和铜膜的测定,探索出一种区分膜成分和体相成分的新方法。结果表明
各地区各级质量技术监督局下属事业单位质量计量监督检测所有设置珠宝首饰检验室或贵金属检验室等，主要职责是对企业或个人送检及质量执法抽检样品的检测和评级认证。针对贵金属（金、铂、钯、银等）饰品、钻石分级、珠宝玉石（红宝石、蓝宝石、祖母绿、珍珠、翡翠等国家标准规定的所有珠宝玉石品种）及饰品和观赏石（岩
氮化镓（GaN）是一种III / V直接带隙半导体，作为第三代半导体材料的代表，随着其生长工艺的不断发展完善，现已广泛应用于光电器件领域，如激光器（LD）、发光二极管（LED）、高电子迁移率晶体管（HEMT）等。GaN基材料的良好抗辐射性能和环境稳定性，使得其在核探测领域具有很好的