材料分析
俄歇电子能谱仪具有很高表面灵敏度 , 在材料表面分析测试方面有着不可替代的作用。通过正确测定和解释 AES 的特征能量、强度、峰位移、谱线形状和宽度等信息 , 能直接或间接地获得固体表面的组成、浓度、化学状态等多种信息 , 所以在国内外材料表面分析方面 AES 技术得到广泛运用 。......阅读全文
材料分析
俄歇电子能谱仪具有很高表面灵敏度 , 在材料表面分析测试方面有着不可替代的作用。通过正确测定和解释 AES 的特征能量、强度、峰位移、谱线形状和宽度等信息 , 能直接或间接地获得固体表面的组成、浓度、化学状态等多种信息 , 所以在国内外材料表面分析方面 AES 技术得到广泛运用 。
材料失效分析
由于材料成型过程中存在的缺陷或贮存和使用环境等方面的原因 , 使得材料或构件在贮存和使用过程中失去原来的使用性能。通过对失效材料或失效件结构或断面进行分析 , 可以了解失效的原因 ,为材料改进和构件设计提供技术支持 , 也可澄清因失效而引起的事故责任。运用俄歇电子能谱仪可以分析断口的化学成分和元素分
材料形貌分析
相貌分析的主要内容是分析材料的几何形貌，材料的颗粒度，及颗粒度的分布以及形貌微区的成份和物相结构等方面。形貌分析方法主要有：光学显微镜(Opticalmicroscopy,OM)、扫描电子显微镜(Scanningelectron microscopy, SEM)、透射电子显微镜(Transmis
材料质谱分析
主要包括电感耦合等离子体质谱ICP-MS和飞行时间二次离子质谱法TOF-SIMS（1） 电感耦合等离子体质谱(inductively coupled plasma mass spectrometry, ICP-MS)ICP-MS是利用电感耦合等离子体作为离子源的一种元素质谱分析方法；该离子源
材料能谱分析
主要包括X射线光电子能谱XPS和俄歇电子能谱法AES（1）X射线光电子能谱(X-ray Photoelectron Spectroscopy, XPS)X射线光电子能谱(XPS )就是用X射线照射样品表面，使其原子或分子的电子受激而发射出来，测量这些光电子的能量分布，从而获得所需的信息。随着
材料热分析测试？
热重分析(TGA)，热机械分析(TMA)，材料导热性能分析，动态热机械分析(DMA)，差示扫描量热分析(DSC分析)材料热分析：是在程序控制温度下，测量物质的物理性能随温度变化的技术。材料热分析目的：热分析通过测定物质加热或者冷却过程中物理性质的变化来研究物质性质及变化，或者对物质进行鉴别分形。物理
AFM纳米材料与粉体材料的分析
纳米材料与粉体材料的分析在材料科学中，无论无机材料或有机材料，在研究中都有要研究文献，材料是晶态还是非晶态。分子或原子的存在状态中间化物及各种相的变化，以便找出结构与性质之间的规律。在这些研究中AFM 可以使研究者，从分子或原子水平直接观察晶体或非晶体的形貌、缺陷、空位能、聚集能及各种力的相互作用
金属材料分析方法
一．金属成分分析传统方法 1.分光光度法 是基于Lam bert-Bee定律而对金属元素进行定量分析与表征的分析方法。在此法中会用到不同波长的光，并将其连续射入含有金属离子的溶液中，与此同时会得到不同波长所对应的吸收强度。通过绘出该金属离子的吸收光谱曲线，就可以对溶液中的金属离子进行定量分析，得到其
材料成分分析流程
成分分析流程通常如下：1、首先检测样品的理化指标（pH，粘度，酸值等）2、对样品进行分离提纯，得到各性状下的单一成分3、SEM+EDS，可以通过扫描电镜和能谱，获知形貌、粒径分布、元素半定量等，为后续分析做个参考4、FITR，红外光谱分析。通过红外，可以或者很多官能团结构或者直接获得样品成分5、进行
材料成分分析流程
如果样品没有上述4个问题，那么接下来分析过程中还会碰到如下问题：1、有效成分含量太低，在分离过程中获取不到或者被分离手段污染得不到相应成分。2、样品杂质含量太多，在检测过程中，杂质会对结果造成误判。3、样品中有同分异构体，这样的成分在检测手段上很难区分。4、样品中有螯合物或者聚合物，这样分析的结果很