瑞利光谱五十载致敬改革开放四十年
瑞利光谱源自于“北京第二光学仪器厂”（后更名为“北京瑞利分析仪器有限公司”），产品先后创造多个“中国第一”曾被誉为中国光谱分析仪器的生产制造历史“丰碑”。 1997 年北京瑞利分析仪器有限公司与北京分析仪器厂合并，成立北京北分瑞利分析仪器(集团)有限责任公司。瑞利的光谱与北分的色谱合并互补构成了北分瑞利的全系列产品。 1968 年，在中央“狠抓一下雷达、光学仪器，要提高质量，减轻重量”的重要指示下，机械工业部决定组建研制国产物理光学仪器的专业厂。由原北京市仪器仪表工业局拨款五十万元，于 1968 年 12 月 26 日在原电机学校旧址成立北京第二光学仪器厂 即现在的北京瑞利分析仪器公司。 自此开启了瑞利的光谱之路，引领了当时光学仪器发展的黄金时代，实现了我国研发制造光学分析商品仪器从无到有的突破。 我国第一台大型真空光量计诞生在这里，第一批商用原子吸收和傅立叶变换红外光谱仪也从这里走向市场。经过五十年的卓越发展，瑞利......阅读全文
共振瑞利散射光谱在纳米检测、手性分析等领域前景光明
“七彩光谱 万象更新”主题，访重庆三峡学院杨季冬教授 光谱技术已迈过百年历史长河，中国的光谱分析技术亦可追溯到上个世纪50年代，今日中国的光谱技术已从国际上“跟跑”跃升到部分领域领跑的地位。在这背后，老中青科学家，克服了严峻的挑战、付出了辛勤的汗水。伴随着将在成都召开的第21届全国分子光谱学学
瑞利光谱五十载-致敬改革开放四十年
瑞利光谱源自于“北京第二光学仪器厂”（后更名为“北京瑞利分析仪器有限公司”），产品先后创造多个“中国第一”曾被誉为中国光谱分析仪器的生产制造历史“丰碑”。 1997 年北京瑞利分析仪器有限公司与北京分析仪器厂合并，成立北京北分瑞利分析仪器(集团)有限责任公司。瑞利的光谱与北分的色谱合并互补构成
拉曼光谱仪使用什么样的激光（瑞利）滤除装置？
拉曼光谱仪使用什么样的激光（瑞利）滤除装置？图：激光滤除装置分类拉曼光谱仪中使用的激光滤光装置主要有两类，如图3所示。Edge 滤光片是一种长波通光学滤光片，在吸收和透过光谱区域之间的带边极为陡峭，对激光线提供了非常有效的阻挡。拉曼光谱仪使用的陷波滤光片也是与特定的激光波长相匹配的，它有很锐利的
北分瑞利新春致辞
金虎长啸辞旧岁，玉兔献瑞迎新年。满怀着丰收的喜悦，我们送走了辉煌的2010年，迎来了崭新的2011年。征途如虹，岁月如歌，在这个美好的春天，北分瑞利全体职工向社会各界致以节日的祝贺! 辞旧迎新，回首过去，心中涌出无限感慨。2010年对于我公司来说，是频频取得成功、实现进一步发展的一年
瑞利干涉仪简介
一种分波面双光束干涉仪。1896年，瑞利研究制成，是杨氏双缝干涉实验装置的改型，用于测定流体的折射率。单色缝光源S位于透镜L1的前焦面，出射的平行光射到与S平行的狭缝S1和S2上，从双缝出来的光分别通过长度为l的玻璃管T1和T2，接着分别通过补偿板C1和C2，在透镜L2的后焦面上相遇，产生干涉条
BCEIA 2015 北分瑞利WQF-530傅立叶变换红外光谱仪
分析测试百科网讯 2015年10月27日，国内分析测试行业影响力最大的展会2015 BCEIA(bceia2015)在北京国家会议中心举办。作为业内规模和质量最高的盛会之一，本届展览会共有461家厂商参展，展出当今国内外分析测试领域的前沿技术和先进仪器设备。其中参展的分子光谱仪器众多，分析测试百
FRS滤波瑞利散射测量
FRS-滤波瑞利散射是多功能的激光无接触测量技术，它是通过测量分子的瑞利散射信号，得到一个激光平面上的压力场、密度场、温度场和速度场。 FRS的碘蒸气分子盒和滤镜，确保FRS系统可以在恶劣环境下实现其测量。碘蒸气分子盒和滤镜，可以消除壁面或者模型的激光反射光、流场中的大颗粒的米散射光、灰尘
北分瑞利：创新、整合、责任
分析测试百科网讯 谈到国产分析仪器，毫无疑问，北分瑞利是一面旗帜。在2015年4月23-25日，2015 CISILE中国国际科学仪器及实验室装备展览会期间，分析测试百科网采访了北京北分瑞利分析仪器（集团）有限责任公司（以下简称北分瑞利）副总经理孙宏泉先生。采访中，孙宏泉先生向我们说明
FRS滤波瑞利散射测量
FRS-滤波瑞利散射是多功能的激光无接触测量技术，它是通过测量分子的瑞利散射信号，得到一个激光平面上的压力场、密度场、温度场和速度场。FRS的碘蒸气分子盒和滤镜，确保FRS系统可以在恶劣环境下实现其测量。碘蒸气分子盒和滤镜，可以消除壁面或者模型的激光反射光、流场中的大颗粒的米散射光、灰尘的激光散射光
瑞利干涉仪原理概述
如图是瑞利干涉仪结构示意图。从线光源发射的光波经准直透镜射到两个光缝和上，和都平行于线光源。从和出射的光分别通过气室和，然后被透镜会聚，在透镜焦平面上形成干涉条纹。可以用放大镜来观察这些干涉条纹。在放大镜中还可看到另一组条纹，这组条纹是从和发出但通过气室下面光路的光波干涉而得的条纹(参看侧视图)