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利用电子探针分析方法可以探知材料样品的化学组成以及各元素的重量百分数。分析前要根据试验目的制备样品，样品表面要清洁。用波谱仪分析样品时要求样品平整，否则会降低测得的X射线强度。 1 点分析用于测定样品上某个指定点的化学成分。下图是用能谱仪得到的某钢定点分析结果。能谱仪中的多道分析器可使样品中所有元素的特征X射线信号同时检测和显示。不像波谱仪那样要做全部谱扫描，甚至还要更换分光晶体。2 线分析用于测定某种元素沿给定直线分布的情况。方法是将X射线谱仪（波谱仪或能谱仪）固定在所要测量的某元素特征X射线信号（波长或能量）的位置上，把电子束沿着指定的方向做直线轨迹扫描，便可得到该元素沿直线特征X射线强度的变化，从而反映了该元素沿直线的浓度分布情况。改变谱仪的位置，便可得到另一元素的X射线强度分布。下图为50CrNiMo钢中夹杂Al2O3的线分析像。可见，在Al2O3夹杂存在的地方，Al的X射线峰较强。3 面分析用于测定某种元素的面分布情况......阅读全文
2010年岛津公司电子探针(EPMA)用户会暨新品发布会 邀 请 函 尊贵的岛津电子探针用户： 为促进岛津公司的电子探针用户之间的相互沟通，就电子探针的分析原理、分析技术和分析方法进行广泛而深入的技术交流，并介绍岛津公司电子探针的最新产品EPMA-1720及其应用的最新技术
对于电子薄膜材料研究,薄膜的微观结构、成分和厚度是决定薄膜性能的一个关键因素。如何表征薄膜的微观结构、成分和厚度也一直是薄膜研究领域的一个重要课题,尤其是应用无损表征方法。扫描电子显微镜配备X射线能谱仪分析技术（电子探针能谱）能够观察微观形貌和分析薄膜的微区成分的同时,根据电子束的穿透深度可测量薄膜
介绍了扫描电子显微镜的工作原理和特点,特别是近几年发展起来的环境扫描电镜(ES2EM)及其附带分析部件如能谱仪、EBSD装置等的原理、特点和功能,并结合钢铁材料研究展望了其应用前景。 1、扫描电镜原理 扫描电镜(ScanningElectronMicro
电子探针仪，学名应该是扫描隧道显微镜（scanning tunnel microscopy，STM）,它的工作原理是用一个针尖在离样品表面极近的位置慢慢划过，样品和针尖上加有恒定电压，随着针尖和样品起伏不平的表面原子距离的改变，二者间的电流会有变化，记录这个电流的变化进行处理后，可以得到表面的形貌像
电子探针的照片不能直接用于鉴定金相组织和成分分布测试，下面细说。小编不是冶金材料专业，这儿搜了一个关于金相组织的概念。金相组织是指，金属组织中化学成分、晶体结构和物理性能相同的组成，其中包括固溶体、金属化合物及纯物质。这个概念说明同一金相组织包括三层含义：化学成份相同，晶体结构相同和物理性能相同。物
本专题涉及epma 制样的标准有12条。（链接） 国际标准分类中，epma 制样涉及到分析化学、词汇、陶瓷。 在中国标准分类中，epma 制样涉及到基础标准与通用方法、基础标准与通用方法、电子光学与其他物理光学仪器、化学、特种陶瓷。 国家质检总局，关于epma 制样的标准 GB/T 21
工作原理分析由莫塞莱定律可知，各种元素的特征X射线都具有各自确定的波长，并满足以下关系：通过探测这些不同波长的X射线来确定样品中所含有的元素，这就是电子探针定性分析的依据。而将被测样品与标准样品中元素Y的衍射强度进行对比，即:就能进行电子探针的定量分析。 当然利用电子束激发的X射线进行元
国际标准分类中，epma 制样涉及到分析化学、词汇、陶瓷。在中国标准分类中，epma 制样涉及到基础标准与通用方法、基础标准与通用方法、电子光学与其他物理光学仪器、化学、特种陶瓷。国家质检总局，关于epma 制样的标准GB/T 21636-2008 微束分析.电子探针显微分析(EPMA)术语国际标准
导读电子探针作为显微形貌观察和微区成分分析一体化的分析仪器，具有不损坏样品、分析方式多样（点、线、面及状态分析）、简单快速、准确度高等特点，被广泛应用在材料学、地质学等研究领域。超轻元素是指原子序数小于10的元素（Be、B、C、N、O、F），一直是电子探针分析中的难点和重点。目前，超轻元素分析测试，
电子探针是通过加速和聚焦的极窄的电子束为探针，激发试样中的某一微小区域，使其发出特征X射线，由仪器配备的四道波谱仪、一道能谱仪、一个阴极发光成像系统接收并测定该X射线的波长和强度，即可对该微区的元素作定量或定性分析。将其与电镜功能相结合，能有效的把显微组织和元素成分联系起来，成为目前研究亚微观结构和
研究光子扫描隧道显微镜（PSTM）探针的研制和PSTM探针在distearyl3，3’-thiodipropionate自组装分子膜STM研究中的应用。PSTM探针是既能传输电子又能传输光子的多功能扫描探针。它能够应用到STM上通过传输电子获得和金属探针一样效果，又能应用
电子探针X射线显微分析仪（EPM），简称电子探针，是一种现代成分分析仪器。由于它可以获得矿物微米量级微区内的化学成分，并且无需分离和破坏样品，费用也不高，尤其是对于那些含量少、颗粒微小以及成分不均匀样品的成分分析，提供了有效的分析方法，因此目前在矿物成分研究中应用最广。它除了可以给出一个微区的成分外
2013年12月24日， 2013年度北京市电子显微学年会在北京天文馆隆重召开，来自科研院所、高等院校、仪器耗材厂商的200余位电子显微学专家学者、技术工程师，参加了此次电子显微学年会。大会当日下午，来自中国地质科学院的周剑雄老师，布鲁克公司的刘军涛先生、牛津公司的孟丽君女士、北京建筑
前,世界上仍然使用着很多模拟图像系统的旧型电子探针和扫描电镜,仅国内就有数百台。它们的主机性能仍然良好,但使用单色CRT显示,没有图 像处理能力,图像质量不高,灰度分辨率不超过40级。基于这一缺陷,我们在地质矿产部科学技术司的资助下,研制了电子探针和扫描电镜的模拟图像系统与微形 计算机的接口,以实现
目前，已经成功研制出的扫描电镜包括：典型的扫描电镜、扫描透射电镜（STEM）､场发射扫描电镜（FESEM）、冷冻扫描电镜（Cryo-SEM），低压扫描电镜( LVSEM)、环境扫描电镜( ESEM）、扫描隧道显微镜（STM )、扫描探针显微镜( SPM )，原子力显微镜（AFM）等，以下介绍几种
目前，已经成功研制出的扫描电镜包括：典型的扫描电镜、扫描透射电镜（STEM）､场发射扫描电镜（FESEM）、冷冻扫描电镜（Cryo-SEM），低压扫描电镜( LVSEM)、环境扫描电镜( ESEM）、扫描隧道显微镜（STM )、扫描探针显微镜( SPM )，原子力显微镜（AFM）等，以下介绍几种
目前，已经成功研制出的扫描电镜包括了：典型的扫描电镜、扫描透射电镜（STEM）､场发射扫描电镜（FESEM）、冷冻扫描电镜（Cryo-SEM），低压扫描电镜( LVSEM)、环境扫描电镜( ESEM）、扫描隧道显微镜（STM )、扫描探针显微镜( SPM )，原子力显微镜（AFM）等，以下介绍几
生物显微镜扫描电镜是六十年代发展起来的一种精密电子学仪器。利用它可以观察块状样品的表面形态，从而得出有关样品立体结构的概念。扫描电镜的工作原理可以借助于图3—1来说明。它由三部分构成：（一）电子光学系统，包括电子枪，磁透镜相扫描线圈等。它能产生符合一定要求的电子束，（二）样品室，这是电子束与样品相互
奥林巴斯生物显微镜从原理上讲，奥林巴斯生物显微镜的扫描电镜的照明系统与透射电镜中的相似。但不同的是扫描电镜有一些独特地要求，例如经聚光镜作用后到达样品处的电子束应是直径很细的电子探针；电子束能作扫描运动；末级聚光镜的结构应便于信号的收集等。奥林巴斯生物显微镜的扫描电镜电子枪的高压不及透射电镜中那样高
分析测试百科网讯 2015年10月28日，在BCEIA2015期间，仪器厂商纷纷借此机会推出自己的新品，召开技术说明会等，岛津作为本次大会的参展商参加了本次展会，并展出了色谱、质谱和光谱等产品，并于10月28日召开了技术说明会，介绍了三个方面的新技术，也借此机会向大家介绍了岛津这在三方
扫描电镜（SEM）是介于透射电镜和光学显微镜之间的一种微观形貌观察手段，可直接利用样品表面材料的物质性能进行微观成像。扫描电镜的优点是： ①有较高的放大倍数，20-200000倍之间连续可调； ②有很大的景深，视野大，成像富有立体感，可直接观察各种试样凹凸不平表面的细微结构； ③试样制备简
元素分析的基础 X射线的产生 当电子射入物质后，从物质表面会发射出各种电子、光子及X射线等电磁波。如图49所示，由于入射电子的作用，内层电子处于激发态，外层电子向内跃迁填补有空位的轨道时，会产生等同于能量差的X射线，这就是特征X射线。 由于X射线具有元素特有的能量（波长
元素分析的基础 X射线的产生当电子射入物质后，从物质表面会发射出各种电子、光子及X射线等电磁波。如图49所示，由于入射电子的作用，内层电子处于激发态，外层电子向内跃迁填补有空位的轨道时，会产生等同于能量差的X射线，这就是特征X射线。 由于X射线具有元素特有的能量（波长），通过对X
以聚焦的高速电子来激发出试样表面组成元素的特征X射线,对微区成分进行定性或定量分析的一种材料物理试验,又称电子探针X射线显微分析。电子探针分析的原理是：以动能为10～30千电子伏的细聚焦电子束轰击试样表面，击出表面组成元素的原子内层电子，使原子电离，此时外层电子迅速填补空位而释放能量，从而产生特征X
电子探针显微分析是一种在材料表面几微米范围内的微区分析方法，它是一种显微结构的分析，能将微区化学成分与显微结构结合起来。采用该方法分析元素范围广泛、定量准确且不损坏试样。来自德国联邦材料研究与审核机构(BAM)的Vasile-Dan Hodoroaba博士介绍了ESMA 法在材料表面分析方
电子探针所分析的元素范围从硼(B)——铀(Ｕ)，因为电子探针成份分析是利用元素的特 征 X 射线，而氢和氦原子只有 K 层电子，不能产生特征 X 射线， 所以无法进行电子探针 成分分析。锂(Li)和铍(Be)虽然能产生 X 射线，但产生的特征 X 射线波长太长，通常无法进 行检测，少数电子探针
本文介绍影响扫描电镜图像质量的因素及其对图像质量的影响，分别从加速电压、扫描速度和信噪比、束斑直径、探针电流、消像散校正、工作距离以及反差对比等分析图像质量的变化原因，提出提高图像质量的方法。 扫描电子显微镜是（Scanning Electron Micr
本文介绍影响扫描电镜图像质量的因素及其对图像质量的影响，分别从加速电压、扫描速度和信噪比、束斑直径、探针电流、消像散校正、工作距离以及反差对比等分析图像质量的变化原因，提出提高图像质量的方法。 扫描电子显微镜是（Scanning Elec
扫描电子显微镜是（Scanning Electron Microscope,SEM）是20 世纪30 年代中期发展起来的一种多功能的电子显微分析仪器。SEM以其样品制备简单、图像视野大、景深长、图像立体感强，且能接收和分析电子与样品相互作用后产生的大部分信息，因而在
扫描电子显微镜是（Scanning Electron Microscope,SEM）是20 世纪30 年代中期发展起来的一种多功能的电子显微分析仪器。SEM以其样品制备简单、图像视野大、景深长、图像立体感强，且能接收和分析电子与样品相互作用后产生的大部分信息，因而在科研和工业等各