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斐索干涉仪是一种原理为等厚干涉，用以检测光学元件的面形、光学镜头的波面像差以及光学材料均匀性等的精密仪器。其测量精度一般为/10～/100,为检测用光源的平均波长。 干涉仪的一种类型。由斐索(H．Fi zeau1819—1896)研究而得名。光路见图1，点光源S的光线经准直后，近乎正入射地照射被观察透明物体，光线在物体上下表面间多次反射，并从反射方向S'处观察干涉条纹。光学工厂用这种千涉仪来检验透明平行平板的光学厚度的均匀性。......阅读全文
斐索干涉仪是一种原理为等厚干涉，用以检测光学元件的面形、光学镜头的波面像差以及光学材料均匀性等的精密仪器。其测量精度一般为/10～/100,为检测用光源的平均波长。 干涉仪的一种类型。由斐索(H．Fi zeau1819—1896)研究而得名。光路见图1，点光源S的光线经准直后，近乎正入射地照射
斐索干涉仪原理为等厚干涉，用以检测光学元件的面形、光学镜头的波面像差以及光学材料均匀性等的一种精密仪器。其测量精度一般为/10～/100,为检测用光源的平均波长。常用的波面干涉仪为泰曼干涉仪和斐索干涉仪。 斐索干涉仪有平面的和球面的两种，前者由分束器、准直物镜和标准平面所组成，后者由分束器、有
单色光源如氦氖激光器照明小孔H，形成一点光源。点光源射出的光束经分光镜G反射后，射向透镜L2，变成平行光束，然后垂直射向标准平晶P。一部分光被P上表面反射，另一部分光透过P射向被测件Q。被Q上表面反射的光束和被P上表面反射的光束进人观测系统后，会产生等厚干涉条纹，用以测量Q上表面的面形误差。若将
斐索干涉仪和迈克尔逊干涉仪最大的区别就是：在干涉仪中，参考光和传感光是沿着同一条光路行进的，因此称为共光路干涉仪。如果使用分光路的干涉仪，在两束光经过的光程较长时或者进行大口径元件的检’狈4时，两支光路上往往会受到不同的外界干扰(如机械振动、温度起伏等)，致使干涉条纹不稳定，甚至严重影响测量。而
在光学元件加工时，可使用这些仪器来检查和测量光学元件的光学表面的质量，如平面度及其局部缺陷与误差等。干涉仪的光源S可采用准单色光源(如汞光灯、钠光灯)，发出的光经半透半反射镜P和透镜L，投射到标准平晶Q与待测光学元件G的夹层处；在O处可观察到等厚干涉条纹，由这些条纹的微小弯曲形状来判断待测光学平
斐索干涉仪是一种原理为等厚干涉，用以检测光学元件的面形、光学镜头的波面像差以及光学材料均匀性等的精密仪器。其测量精度一般为/10～/100,为检测用光源的平均波长。 斐索干涉仪原理为等厚干涉，用以检测光学元件的面形、光学镜头的波面像差以及光学材料均匀性等的一种精密仪器。其测量精度一般为/1
干涉仪是很广泛的一类实验技术的总称， 其思想在于利用波的叠加性来获取波的相位信息， 从而获得实验所关心的物理量。干涉仪并不仅仅局限于光干涉仪。 干涉仪在天文学 (Thompson et al, 2001)， 光学， 工程测量， 海洋学， 地震学， 波谱分析， 量子物理实验， 遥感， 雷达等等精密
干涉仪是一种对光在两个不同表面反射后形成的干涉条纹进行分析的仪器。其基本原理就是通过不同光学元件形成参考光路和检测光路。 干涉仪是利用干涉原理测量光程之差从而测定有关物理量的光学仪器。两束相干光间光程差的任何变化会非常灵敏地导致干涉条纹的移动，而某一束相干光的光程变化是由它所通过的几何路程或介
一种分波面双光束干涉仪。1896年，瑞利研究制成，是杨氏双缝干涉实验装置的改型，用于测定流体的折射率。单色缝光源S位于透镜L1的前焦面，出射的平行光射到与S平行的狭缝S1和S2上，从双缝出来的光分别通过长度为l的玻璃管T1和T2，接着分别通过补偿板C1和C2，在透镜L2的后焦面上相遇，产生干涉条
又称双频干涉仪或交流干涉仪。是使用两种不同频率的单色光作为测量光束和参考光束。通过光电探测器的混频，输出差频信号（受光电探测器频响的限制，频差一般在 100兆赫以内）。被测物体的变化如位移、振动、转动、大气扰动等引起的光波相位变化或多普勒频移载于此差频上，经解调即可获得被测数据的仪器。