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平均粒度仪是一种利用空气透过法来测量粉末的平均粒径的仪器。该仪器在我国最早研制的企业是丹东市热工仪表厂于1977年研制成功并投入生产的。主要研制人是罗锡亨高级工程师，至到93年成立了丹东市环境分析仪器厂，把以前WLP-202平均粒度测定仪用户使用的问题改进为WLP-205平均粒度测定仪，在99年时增加了YXQ-100压力校正器升级为WLP-208平均粒度测定仪，后期转为丹东华宇仪器有限公司。 Fisher Sub-Sieve Sizer 仪器最早于1943年在美国fisher公司生产，直到2008年该美国fisher公司停止生产该仪器。国内市场生产的平均粒度仪主要是丹东华宇仪器有限公司的产品，主要型号有WLP-202、205、208、216等等，在07年丹东华宇仪器有限公司针对于国外用户需要又增加了WLP-205A平均粒度测定仪、WLP-208A平均粒度测定仪，这二款都扩大了测量范围。......阅读全文
平均粒度仪是一种利用空气透过法来测量粉末的平均粒径的仪器。该仪器在我国最早研制的企业是丹东市热工仪表厂于1977年研制成功并投入生产的。主要研制人是罗锡亨高级工程师，至到93年成立了丹东市环境分析仪器厂，把以前WLP-202平均粒度测定仪用户使用的问题改进为WLP-205平均粒度测定仪，在99年
平均粒度仪是一种利用空气透过法来测量粉末的平均粒径的仪器。是利用空气泵打出一定量的气体，通过一定的气体流量流经粉末层所有颗粒表面，最后由U形压力计及流量阻力系数，而在仪器上直接显示粉料的平均粒径来。广泛应用于磁性材料粉末，硬质合金粉末、陶瓷建材粉末、难熔金属粉末、荧光粉、国防工业粉末，另外测定速度
平均粒度仪是一种利用空气透过法来测量粉末的平均粒径的仪器。该仪器在我国最早研制的企业是丹东市热工仪表厂于1977年研制成功并投入生产的。主要研制人是罗锡亨高级工程师，至到93年成立了丹东市环境分析仪器厂，把以前WLP-202平均粒度测定仪用户使用的问题改进为WLP-205平均粒度测定仪，在99年时
平均粒度仪是一种利用空气透过法来测量粉末的平均粒径的仪器。是利用空气泵打出一定量的气体，通过一定的气体流量流经粉末层所有颗粒表面，最后由U形压力计及流量阻力系数，而在仪器上直接显示粉料的平均粒径来。广泛应用于磁性材料粉末，硬质合金粉末、陶瓷建材粉末、难熔金属粉末、荧光粉、国防工业粉末，另外测定速
由于是空气透过法，对于粉末有结团、结块的不存在分散的问题尤为适用。 广泛应用于磁性材料粉末，硬质合金粉末、陶瓷建材粉末、难熔金属粉末、荧光粉、国防工业粉末，另外测定速度快、重复性好是该仪器的最大特点。
是利用空气泵打出一定量的气体，通过一定的气体流量流经粉末层所有颗粒表面，最后由U形压力计及流量阻力系数，而在仪器上直接显示粉料的平均粒径来。
测量范围：0.2-50微米、50-100微米 孔隙度范围：0.25-0.40、0.40-0.80、0.80-0.95 精度：±3% 重复性：±3% 电源：220V±22V 重量：18KG 外形尺寸：735×415×245mm3 其计算公式如下： K—形状系数 ε—孔隙度 η
该仪器兼容了WLP-205、208型平均粒度测定仪各项功能及技术指标，在此基础上增加了计算机及其系统软件支持，主机体积缩小1/2，测试精度更准确（减少人为视觉误差，人为的估计误差），缩短了测试时间，同时增加了比表面积测量，测试报告可在电脑上直读取，打印和保留在电脑里。
[1]激光粒度仪一般是由激光器、透镜、光电接收器阵列、信号转换与传输系统、样品分散系统、数据处理系统等组成。激光器发出的激光束，经滤波、扩束、准直后变成一束平行光，在该平行光束没有照射到颗粒的情况下，光束经过透镜后将其汇聚到焦点上。当通过某种特定的方式把颗粒均匀地放置到平行光束路径中时，激光束
应用范围 由于是空气透过法，对于粉末有结团、结块的不存在分散的问题尤为适用。 广泛应用于 磁性材料粉末，硬质合金粉末、陶瓷建材粉末、难熔金属粉末、荧光粉、国防工业粉末，另外测定速度快、重复性好是该仪器的最大特点。 仪器原理 是利用空气泵打出一定量的气体，通过一定的气体流量流经粉末层所有颗