558万！哈尔滨工业大学采购高分辨场发射扫描电镜
近日，哈尔滨工业大学招标采购高分辨场发射扫描电子显微镜系统，预算金额558万元。 1. 招标条件 项目概况：高分辨场发射扫描电子显微镜系统 资金到位或资金来源落实情况：国拨资金558万元人民币，资金已落实 项目已具备招标条件的说明：项目已批复 2. 招标内容： 招标项目编号：HITZB-2022000044（0610-2241IH071068） 招标项目名称：哈尔滨工业大学高分辨场发射扫描电子显微镜系统 项目实施地点：中国黑龙江省 招标产品列表（主要设备）：序号产品名称数量简要技术规格备注1高分辨场发射扫描电子显微镜系统1套详见附件合同签订后9个月内 3. 投标人资格要求： 3.1符合《中华人民共和国政府采购法》第22条规定的投标人； 3.2本次招标项目的资质要求： ⑴对于国外、境外投标人，根据该国（地区）的法律在经营所在地注册的有关证件、所投产品的合法来源证明（经销协议或生产商授权函）（代理商作为......阅读全文
场发射扫描电子显微镜
场发射扫描电子显微镜(FESEM)是电子显微镜的一种。 该仪器具有超高分辨率，能做各种固态样品表面形貌的二次电子像、反射电子象观察及图像处理。该仪器利用二次电子成像原理，在镀膜或不镀膜的基础上，低电压下通过在纳米尺度上观察生物样品如组织、细胞、微生物以及生物大分子等，获得忠实原貌的立体感极强的
场发射扫描电子显微镜应用范围
场发射扫描电子显微镜应用范围 1、金属、陶瓷、高分子、矿物、水泥、半导体、纸张、塑料、食品、生物等材料的显微形貌、晶体结构和相组织的观察和分析。 2、各种材料微区化学成分的定性和半定量检测。 3、粉末、微粒纳米样品形态和粒度的测定。 4、复合材料界面特性的研究。 场发射扫描电子显微镜具有高
场发射扫描电子显微镜的简介
场发射扫描电子显微镜具有超高分辨率，具有高性能X射线能谱仪，能同时进行样品表层的微区点线面元素的定性、半定量及定量分析，具有形貌、化学组分综合分析能力，能做各种固态样品表面形貌的二次电子象、反射电子象观察及图像处理。 场发射扫描电子显微镜（FESEM）具有超高分辨率，能做各种固态样品表面形貌
场发射扫描电子显微镜应用范围
场发射扫描电子显微镜，广泛用于生物学、医学、金属材料、高分子材料、化工原料、地质矿物、商品检验、产品生产质量控制、宝石鉴定、考古和文物鉴定及公安刑侦物证分析。可以观察和检测非均相有机材料、无机材料及在上述微米、纳米级样品的表面特征。该仪器的最大特点是具备超高分辨扫描图像观察能力，尤其是采用最新数
场发射扫描电子显微镜技术参数
场发射扫描电子显微镜可对金属、陶瓷、矿物、岩石、生物等样品以及各种固体材料进行观察和分析研究。具有超高分辨率，能做各种固态样品表面形貌的二次电子象、反射电子象观察及图像处理。本文主要为大家介绍一下场发射扫描电子显微镜技术参数、主要用途及应用范围。 SIGMA500场发射扫描电子显微镜技术参数 分
详解场发射扫描电子显微镜实验步骤！
场发射扫描电子显微镜（FESEM）是电子显微镜的一种。该仪器具有超高分辨率，能做各种固态样品表面形貌的二次电子像、反射电子象观察及图像处理。该仪器利用二次电子成像原理，在镀膜或不镀膜的基础上，低电压下通过在纳米尺度上观察生物样品如组织、细胞、微生物以及生物大分子等，获得忠实原貌的立体感极强的样品
场发射扫描电镜
用运载火箭发射航天器，不是任何时候都可以进行，有年份、月份、日期和时刻的选择。比如，哈雷彗星以76年为周期回归，哈雷彗星探测器应选在其回自太阳的几个连续年份中发射；火星与地球的会合周期为780天，火星探测器应在火星与地球会合前后连续的几个月份中发射；有些航天器必须在某个月内连续的几天中发射；由于工作
场发射扫描电子显微镜主要用途
场发射扫描电子显微镜主要用途 场发射扫描电子显微镜，广泛用于生物学、医学、金属材料、高分子材料、化工原料、地质矿物、商品检验、产品生产质量控制、宝石鉴定、考古和文物鉴定及公安刑侦物证分析。可以观察和检测非均相有机材料、无机材料及在上述微米、纳米级样品的表面特征。该仪器的最大特点是具备超高分辨扫描图
场发射扫描电子显微镜送检样品的要求
送检样品必须为干燥固体、块状、片状、纤维状及粉末状均可。 应有一定的化学、物理稳定性，在真空中及电子束轰击下不会挥发或变形； 无磁性、放射性和腐蚀性。 含水分较多的生物软组织的样品制备，要求用户自己进行临界点干燥之前的固定、清洗、脱水及用醋酸(异)戊酯置换等处理，最后进行临界点干燥处理。
场发射扫描电子显微镜技术参数等简介
技术参数 1、分辨率 2、放大倍数 3、加速电压 4、低压范围 5、探针电流 6、样品室 7、样品台 8、倾斜角 主要用途 适用于对金属、陶瓷、半导体、矿物、生物、高分子、复合材料和纳米级一维、二维和三维材料的表面形貌进行观察（二次电子像、背散射电子像）； 可进行微区的点、线、面成分分析；