558万！哈尔滨工业大学采购高分辨场发射扫描电镜
近日，哈尔滨工业大学招标采购高分辨场发射扫描电子显微镜系统，预算金额558万元。 1. 招标条件 项目概况：高分辨场发射扫描电子显微镜系统 资金到位或资金来源落实情况：国拨资金558万元人民币，资金已落实 项目已具备招标条件的说明：项目已批复 2. 招标内容： 招标项目编号：HITZB-2022000044（0610-2241IH071068） 招标项目名称：哈尔滨工业大学高分辨场发射扫描电子显微镜系统 项目实施地点：中国黑龙江省 招标产品列表（主要设备）：序号产品名称数量简要技术规格备注1高分辨场发射扫描电子显微镜系统1套详见附件合同签订后9个月内 3. 投标人资格要求： 3.1符合《中华人民共和国政府采购法》第22条规定的投标人； 3.2本次招标项目的资质要求： ⑴对于国外、境外投标人，根据该国（地区）的法律在经营所在地注册的有关证件、所投产品的合法来源证明（经销协议或生产商授权函）（代理商作为......阅读全文
场发射扫描电子显微镜
场发射扫描电子显微镜(FESEM)是电子显微镜的一种。 该仪器具有超高分辨率，能做各种固态样品表面形貌的二次电子像、反射电子象观察及图像处理。该仪器利用二次电子成像原理，在镀膜或不镀膜的基础上，低电压下通过在纳米尺度上观察生物样品如组织、细胞、微生物以及生物大分子等，获得忠实原貌的立体感极强的
场发射扫描电子显微镜应用范围
场发射扫描电子显微镜，广泛用于生物学、医学、金属材料、高分子材料、化工原料、地质矿物、商品检验、产品生产质量控制、宝石鉴定、考古和文物鉴定及公安刑侦物证分析。可以观察和检测非均相有机材料、无机材料及在上述微米、纳米级样品的表面特征。该仪器的最大特点是具备超高分辨扫描图像观察能力，尤其是采用最新数
场发射扫描电子显微镜的简介
场发射扫描电子显微镜具有超高分辨率，具有高性能X射线能谱仪，能同时进行样品表层的微区点线面元素的定性、半定量及定量分析，具有形貌、化学组分综合分析能力，能做各种固态样品表面形貌的二次电子象、反射电子象观察及图像处理。 场发射扫描电子显微镜（FESEM）具有超高分辨率，能做各种固态样品表面形貌
场发射扫描电子显微镜应用范围
场发射扫描电子显微镜应用范围 1、金属、陶瓷、高分子、矿物、水泥、半导体、纸张、塑料、食品、生物等材料的显微形貌、晶体结构和相组织的观察和分析。 2、各种材料微区化学成分的定性和半定量检测。 3、粉末、微粒纳米样品形态和粒度的测定。 4、复合材料界面特性的研究。 场发射扫描电子显微镜具有高
场发射扫描电子显微镜的功能介绍
场发射扫描电子显微镜（FESEM）是电子显微镜的一种。该仪器具有超高分辨率，能做各种固态样品表面形貌的二次电子像、反射电子象观察及图像处理。该仪器利用二次电子成像原理，在镀膜或不镀膜的基础上，低电压下通过在纳米尺度上观察生物样品如组织、细胞、微生物以及生物大分子等，获得忠实原貌的立体感极强的样品表面
场发射扫描电子显微镜技术参数
场发射扫描电子显微镜可对金属、陶瓷、矿物、岩石、生物等样品以及各种固体材料进行观察和分析研究。具有超高分辨率，能做各种固态样品表面形貌的二次电子象、反射电子象观察及图像处理。本文主要为大家介绍一下场发射扫描电子显微镜技术参数、主要用途及应用范围。 SIGMA500场发射扫描电子显微镜技术参数 分
场发射扫描电子显微镜的应用范围
场发射扫描电子显微镜，广泛用于生物学、医学、金属材料、高分子材料、化工原料、地质矿物、商品检验、产品生产质量控制、宝石鉴定、考古和文物鉴定及公安刑侦物证分析。可以观察和检测非均相有机材料、无机材料及在上述微米、纳米级样品的表面特征。该仪器的最大特点是具备超高分辨扫描图像观察能力，尤其是采用最新数字化
详解场发射扫描电子显微镜实验步骤！
场发射扫描电子显微镜（FESEM）是电子显微镜的一种。该仪器具有超高分辨率，能做各种固态样品表面形貌的二次电子像、反射电子象观察及图像处理。该仪器利用二次电子成像原理，在镀膜或不镀膜的基础上，低电压下通过在纳米尺度上观察生物样品如组织、细胞、微生物以及生物大分子等，获得忠实原貌的立体感极强的样品
场发射扫描电镜
用运载火箭发射航天器，不是任何时候都可以进行，有年份、月份、日期和时刻的选择。比如，哈雷彗星以76年为周期回归，哈雷彗星探测器应选在其回自太阳的几个连续年份中发射；火星与地球的会合周期为780天，火星探测器应在火星与地球会合前后连续的几个月份中发射；有些航天器必须在某个月内连续的几天中发射；由于工作
场发射扫描电子显微镜的维护保养方法
（1）检查光阑对中。在更换试样、调整加速电压和探测器类型时需检查光阑是否对中。具体操作方法是打开调焦摇摆功能，查看高倍数下电子图像是否上下左右摆动，若摆动则调节光阑对中按钮，直至图像仅出现上下摆动。（2）检查像散情况。像散是电子光学系统中所形成的磁场或静电场不能满足轴对称要求时产生的。图像聚焦和消像
场发射扫描电子显微镜的功－能介绍
场发射扫描电子显微镜（FESEM）是电子显微镜的一种。该仪器具有超高分辨率，能做各种固态样品表面形貌的二次电子像、反射电子象观察及图像处理。该仪器利用二次电子成像原理，在镀膜或不镀膜的基础上，低电压下通过在纳米尺度上观察生物样品如组织、细胞、微生物以及生物大分子等，获得忠实原貌的立体感极强的样品表面
场发射扫描电子显微镜送检样品的要求
送检样品必须为干燥固体、块状、片状、纤维状及粉末状均可。 应有一定的化学、物理稳定性，在真空中及电子束轰击下不会挥发或变形； 无磁性、放射性和腐蚀性。 含水分较多的生物软组织的样品制备，要求用户自己进行临界点干燥之前的固定、清洗、脱水及用醋酸(异)戊酯置换等处理，最后进行临界点干燥处理。
场发射扫描电子显微镜主要用途
场发射扫描电子显微镜主要用途 场发射扫描电子显微镜，广泛用于生物学、医学、金属材料、高分子材料、化工原料、地质矿物、商品检验、产品生产质量控制、宝石鉴定、考古和文物鉴定及公安刑侦物证分析。可以观察和检测非均相有机材料、无机材料及在上述微米、纳米级样品的表面特征。该仪器的最大特点是具备超高分辨扫描图
场发射扫描电子显微镜技术参数等简介
技术参数 1、分辨率 2、放大倍数 3、加速电压 4、低压范围 5、探针电流 6、样品室 7、样品台 8、倾斜角 主要用途 适用于对金属、陶瓷、半导体、矿物、生物、高分子、复合材料和纳米级一维、二维和三维材料的表面形貌进行观察（二次电子像、背散射电子像）； 可进行微区的点、线、面成分分析；
场发射扫描电子显微镜的操作检查附件设施
（1）检查样品台状态。样品载台在操作过程中由于高频次的机械运动，可能出现样品载台被卡住、位置记忆乱码等错误，所以需要对样品载台定期进行初始化。定期做好观察维护的方法如下：将高压关掉，破真空后，打开样品仓，转动X，Y，Z 轴，连续旋转R轴、倾斜角T轴，观察样品载台在移动范围内的运行状态、顺畅程度、声音
场发射扫描电子显微镜的操作注意事项
场发射扫描电子显微镜的日常维护中，操作人员应定期检查仪器设备的环境条件、光学系统、真空系统及附件设施，确保仪器在最佳工作状态下使用。试样的前处理好坏对场发射扫描电子显微镜的维护保养也有一定的影响，要保持试样清洁、干燥和具有良好的导电性、导热性，从加速电压、焦距、探测器模式等多方面正确处理特性各异的试
场发射扫描电子显微镜的操作检查真空系统
电镜中的真空系统一般由真空泵、管道、真空阀门和真空测量装置组成。高真空度可减少电子与气体分子的碰撞，增加灯丝寿命，所以必须高度关注真空系统，定期记录系统真空和枪真空数值，或是打开真空监控器（Gun Monitor）实时监控真空值。对于ULTRA PLUS扫描电子显微镜，需保证系统真空值不小于5.0×
场发射扫描电子显微镜与普通扫描电镜相比有哪些区别
二次电子象分辨率：1.5nm 加速电压：0～30kV 放大倍数：10-50万倍连续可调工作距离：5～连续可调倾斜：-5°～45° x射线能谱仪： 分辨率：133eV 分析范围：B-U 附件信息： 镀金镀炭仪 ISIS图像处理系统背散射探头 场发射，由于分辨率高，为的研究提供了可
场发射枪扫描电子显微镜的主要用途
主要用途： 适用于 金属、 陶瓷、 半导体、 矿物、 生物、 高分子、 复合材料和 纳米级一维、二维和三维材料的表面形貌进行观察（二次电子像、背散射电子像）； 可进行微区的点、线、面成分分析； 指定元素在形貌上成象； 晶体材料的晶体取向及微区取向分析、结构分析、正反极图、欧拉空间分析等； 图象定
场发射扫描电子显微镜的产品特点和应用范围
场发射扫描电子显微镜，广泛用于生物学、医学、金属材料、高分子材料、化工原料、地质矿物、商品检验、产品生产质量控制、宝石鉴定、考古和文物鉴定及公安刑侦物证分析。可以观察和检测非均相有机材料、无机材料及在上述微米、纳米级样品的表面特征。该仪器的最大特点是具备超高分辨扫描图像观察能力，尤其是采用最新数字化
场发射扫描电子显微镜的指标信息和附件信息
指标信息 二次电子图像（SEI） 分辨率1.5nm 背散射电子图像（BEI) 分辨率3.0nm X射线能谱仪（EDS） 分辨率128ev 分析范围B5～U92 电子背散射衍射（EBSP）空间分辨率 0.5μm 采集时间 20ms～2s/每菊池图 数字图像采集系统 分辨率512×384p
热场发射环境扫描电镜
热场发射环境扫描电镜是一种用于物理学、化学、材料科学、生物学领域的分析仪器，于2005年9月15日启用。 技术指标 Quanta 400 FEG场发射扫描电子显微镜是表面分析重要的表征工具之一，具有灵活先进的自动化操作系统。具有三种成像真空模式--高真空模式、低真空模式和ESEMTM模式，可
场发射扫描电镜基本构造
场发射扫描电子显微镜大致包括以下几个部分： 电子源：也称电子枪，产生连续不断的稳定的电子流。普通扫描电镜的电子枪由阴极（灯丝）、栅极和阳极组成。阴极采用能加热的钨丝，栅极围在阴极周围。被加热了的钨丝释放出电子，并在阳极和阴极之间施加高压，形成加速电场，从而使电子得到能量——高速飞向（在高真空镜
新型热场发射扫描电子显微镜JSM7900F上市
—新一代高性能分析工具，兼具超高分辨率和简易操作性的FE-SEM— 日本电子株式会社 （社长 栗原 権右衛門）宣布：新型热场发射扫描电子显微镜JSM-7900F于2017年5月开始全球销售。 开发背景 纳米技术、金属、半导体、陶瓷及医学生物学等各种各样领域里，扫描电子显微镜被活用，而且它的
日立新型场发射扫描电子显微镜Regulus®系列上市
－分辨率・倍率的提升和新功能的搭载，从而获得更高质量的图像－ 2017年5月31日，日本株式会社日立高新技术（TSE:8036，日立高新技术）于5月30日开始发售场发射扫描电子显微镜（FE-SEM）的全新品牌 "Regulus®系列"。 "Regulus系列"是日立高新技术的FE-SEM的全新品牌
打破国外垄断－场发射枪扫描电子显微镜专项通过验收
日前，国家重大科学仪器设备开发专项“场发射枪扫描电子显微镜开发和应用”项目在北京通过科技部验收，这标志着这一纳米研究领域的高端科学仪器实现了国产化。 该项目由中国科学院下属企业北京中科科仪股份有限公司承担研制工作。在项目技术综合验收会上，科技部验收专家组现场听取了项目完成情况汇报，观看了项目
国家重点专项场发射枪扫描电子显微镜通过验收
12月6日，由北京中科科仪股份有限公司承担的国家重大科学仪器设备开发专项“场发射枪扫描电子显微镜开发和应用”项目技术综合验收会在北京外国专家大厦召开，科技部专家组成员、项目牵头单位、合作和应用单位代表参加了本次会议。 会上，验收专家组现场听取了中科科仪项目负责人张永明所做的完成情况汇报，观看了
场发射扫描电子显微镜（FESEM）对检测样品的要求说明
1、样品中不得含有水、有机小分子等易挥发、易分解成分。 2、样品尽量小，最大尺寸：高15mm，直径30mm。 3、多孔或易潮解样品，需提前真空干燥处理。 4、粉末样品中不能含有铁、钴、镍等具有磁性成分，且不易被磁化。超声分散，滴在铝箔上，干燥后送样。 5、需观察样品断面时，断面自己制备。
场发射扫描电子显微镜的操作检查光学系统
电子光学系统是由电子枪、电磁透镜、扫描线圈组成的，也是扫描电子显微镜的核心部分。为保证电子束沿这些部件的轴线穿行，必须调节这些部件合轴，即光阑对中。而电镜初学者往往一味地进行调焦、变倍操作，可是得到的图像仍不清楚，于是怀疑电镜出现故障。下面将就从光阑对中、物镜消像散、查看电子束束流和灯丝寿命情况这几
冷热场发射扫描电镜的区别
1、适用范围不同。冷场发射扫描电镜是一种用于材料科学、化学领域的分析仪器，而热场发射扫描电镜是一种用于物理学、材料科学、能源科学技术领域的分析仪器。热场发射扫描电镜使用范围更广。2、技术指标不同。冷场发射扫描电镜：辨率：1.0nm (15kV)，2.0nm (1kV)，1.4nm(1KV)入射电子减