一文了解微区XRF，及基于SEM的微区XRF技术
X射线荧光（XRF）是一种用于测定材料元素和涂层系统特性的分析方法，具有悠久的历史，在许多实验室都有应用。传统上，XRF分析大面积或体积的样品。在制备过程中，往往需要对样品材料进行变形和破坏，即制备过程是破坏性的。但很多样品需要在无损的情况下进行检测。这意味着需要将完整的样品放置在仪器中，不可能通过均质或抛光来获得平坦的样品区域。在这种情况下，可以使用微区X 射线荧光 (μ-XRF)，因为这种方法只对小面积的样品进行研究。 微 X 射线荧光 (μ-XRF)也称为空间分辨 X 射线荧光技术，在50多年前首次被描述。从那时起，尽管它在一些工业和学术应用领域相当普遍，但多年来一直是一项针对特定客户群的专用技术。早期论文指出了μ-XRF技术的分析优势，这些优势至今仍然适用，例如可以对较大样品中的特定小区域进行非破坏性样品分析，从而更好地描述化学性质不均匀的材料。此外，由于几乎不需要样品制备，该技术还具有快速、主要和痕量元素灵敏度高......阅读全文
XRF
能量色散X荧光光谱仪，简称XRF，是一种物理的元素分析方法，具有快速、无损、多种元素同时分析、分析成本低等特殊技术优势，在电子、电器、珠宝、玩具、服装、皮革、食品、建材、冶金、地矿、塑料、石油、化工、医药等行业广泛应用。可应用于：1、欧盟RoHS指令限定有害元素检测： 铅Pb、汞Hg、镉Cd、六价铬
SEM结构
结构1．镜筒镜筒包括电子枪、聚光镜、物镜及扫描系统。其作用是产生很细的电子束（直径约几个nm），并且使该电子束在样品表面扫描，同时激发出各种信号。2．电子信号的收集与处理系统在样品室中，扫描电子束与样品发生相互作用后产生多种信号，其中包括二次电子、背散射电子、X射线、吸收电子、俄歇（Auger）电子
SEM特点
特点（一） 能够直接观察样品表面的结构，样品的尺寸可大至120mm×80mm×50mm。（二） 样品制备过程简单，不用切成薄片。（三） 样品可以在样品室中作三度空间的平移和旋转，因此，可以从各种角度对样品进行观察。（四） 景深大，图象富有立体感。扫描电镜的景深较光学显微镜大几百倍，比透射电镜大几十倍
美国IXRF公司来天美安装及培训能谱
2010年12月14-16日，美国IXRF公司副总裁Rich Lamb先生和Kenny Witherspoon先生来天美北京电镜应用实验室安装IXRF能谱并培训相关人员。该能谱为10mm2的电制冷型，能量分辨率为126ev，将放在天美电镜应用实验室做演示。目前，天美公
XRF测试
XRF测试若干问题： XRF中文称为X射线荧光光谱仪，它包括能量色散型X射线荧光光谱仪（EDXRF）和波长色散型X射线荧光光谱仪(WDXRF)，WDXRF在精度和准确度方面要比EDXRF好，价格也较高。目前市场上使用较多的是EDXRF。无论是哪种X射线荧光光谱仪，它都是利用荧光散射的原理探测样品中是
SEM相关应用
扫描电镜是一种多功能的仪器、具有很多优越的性能、是用途最为广泛的一种仪器．它可以进行如下基本分析： 1、观察纳米材料：其具有很高的分辨率，可以观察组成材料的颗粒或微晶尺寸在0.1-100nm范围内，在保持表面洁净的条件下加压成型而得到的固体材料。2、材料断口的分析：其景深大，图象富立体感，具有三维形
SEM工作程序
工作程序（1）开启试样室进气阀控制开关（CHAMB VENT），将试样放入试样室后将试样室进气阀控制开关（CHAMB VENT）关闭抽真空。（2）开启镜筒真空隔阀。（3）加高压（ACCELERATION POTENTIAL）至25KV.（4）加灯丝电流（FILAMENT）至7.5-8.（5）调节显示
SEM关机程序
关机程序（1）关灯丝电流（FILAMENT）。（2）关高压（ACCELERATION POTENTIAL）。（3）反时针调节显示器对比度（CONTRAST）、亮度（BRIGHTNESS）到底.（4）关闭镜筒真空隔阀。（5）关主机电源开关。（6）关真空开关。（7）20分钟后，关循环水和电子交流稳压器开
SEM真空系统
SEM真空系统 不同的灯丝，SEM真空系统的设计有所不同。在钨灯丝系统中，灯丝的真空度受到运行状态影响。例如，每次加载或卸载样品时，都会有空气进入真空柱，影响灯丝的使用寿命。观察不导电样品时，通常需要低真空，也会缩短灯丝寿命。对于CeB6系统，比如飞纳电镜，内置涡轮分子泵，采用分级真空系统，通过压差
SEM灯丝选择
01.电子源大小电子源大小为电子枪发射出电子后经韦氏帽汇聚后所形成的电子束斑，六硼化镧和六硼化铈灯丝明显小于钨灯丝，更有利于经过聚光镜和物镜汇聚后形成更小的电子束斑，从而得到更好的分辨率； 02.亮度亮度为灯丝单位面积内的电子流强度，亮度越高，越有利于得到更充足的信号，提高图片的信噪比和清晰度。六硼
SEM景－深
景 深景深是指焦点前后的一个距离范围，该范围内所有物点所成的图像符合分辨率要求，可以成清晰的图像；也即，景深是可以被看清的距离范围。扫描电子显微镜的景深比透射电子显微镜大10倍，比光学显微镜大几百倍。由于图像景深大，所得扫描电子像富有立体感。电子束的景深取决于临界分辨本领d0和电子束入射半角αc。其
SEM放大倍数
放大倍数扫描电镜的放大倍数可表示为M =Ac/As式中，Ac—荧光屏上图像的边长；As—电子束在样品上的扫描振幅。一般地，Ac 是固定的(通常为100 mm)，则可通过改变As 来改变放大倍数。目前，大多数商品扫描电镜放大倍数为20～20,000倍，介于光学显微镜和透射电镜之间，即扫描电镜弥补了光学
SEM衬－度
衬 度衬度包括：表面形貌衬度和原子序数衬度。表面形貌衬度由试样表面的不平整性引起。原子序数衬度指扫描电子束入射试祥时产生的背散射电子、吸收电子、X射线，对微区内原子序数的差异相当敏感。原子序数越大，图像越亮。二次电子受原子序数的影响较小。高分子中各组分之间的平均原子序数差别不大；所以只有—些特殊的高
波散XRF与能散XRF的区别
一．X射线荧光分析仪简介 X射线荧光分析仪是一种比较新型的可以对多元素进行快速同事测定的仪器。在X射线激发下，被测元素原子的内层电子发生能级跃迁而发出次级X射线（X-荧光）。波长和能量是从不同的角度来观察描述X射线所采用的两个物理量。波长色散型X射线荧光光谱仪（WD-XRF）。是用晶
XRF的优点
a) 分析速度高。测定用时与测定精密度有关，但一般都很短，2～5分钟就可以测完样品中的全部待测元素。 b) X射线荧光光谱跟样品的化学结合状态无关，而且跟固体、粉末、液体及晶质、非晶质等物质的状态也基本上没有关系。（气体密封在容器内也可分析）但是在高分辨率的精密测定中却可看到有波长变化等现象。
XRF的分析
a) X射线用于元素分析，是一种新的分析技术，但在经过二十多年的探索以后，现在已完全成熟，已成为一种广泛应用于冶金、地质、有色、建材、商检、环保、卫生等各个领域。 b) 每个元素的特征X射线的强度除与激发源的能量和强度有关外，还与这种元素在样品中的含量有关。 c) 根据各元素的特征X射线的强
XRF的分类
不同元素发出的特征X射线能量和波长各不相同，因此通过对X射线的能量或者波长的测量即可知道它是何种元素发出的，进行元素的定性分析。同时样品受激发后发射某一元素的特征X射 线强度跟这元素在样品中的含量有关，因此测出它的强度就能进行元素的定量分析。 因此，X射线荧光光谱仪有两种基本类型： 波长色
XRF技术讲解
X射线荧光光谱（XRF）技术是一项可用于确定各类材料成分构成的分析技术，已经成熟运用多年。其应用方向包括金属合金、矿物、石化产品等等。 X射线形成部分电磁波谱。其处于紫外线辐射的高能侧，使用千电子伏特表示能量高低，纳米表示波长。 XRF一般可用于分析从钠到铀的所有元素，其可识别浓度范围最低至
什么是XRF？
XRF：X射线荧光光谱分析（X Ray Fluorescence），通常把X射线照射在物质上而产生的次级X射线叫X射线荧光（X—Ray Fluorescence），而把用来照射的X射线叫原级X射线。所以X射线荧光仍是X射线。一台典型的X射线荧光（XRF）仪器由激发源（X射线管）和探测系统构成。X射线
什么是XRF
XRF:X射线荧光光谱分析(X Ray Fluorescence) 人们通常把X射线照射在物质上而产生的次级X射线叫X射线荧光（X—Ray Fluorescence），而把用来照射的X射线叫原级X射线。所以X射线荧光仍是X射线。 一台典型的X射线荧光（XRF）仪器由激发源（X射线管）和探
XRF的原理
X射线是电磁波谱中的某特定波长范围内的电磁波，其特性通常用能量（单位：千电子伏特，keV）和波长（单位：nm）描述。 X射线荧光是原子内产生变化所致的现象。一个稳定的原子结构由原子核及核外电子组成。其核外电子都以各自特有的能量在各自的固定轨道上运行，内层电子（如K层）在足够能量的X射线照射下脱
XRF是什么
XRF是什么??XRF测试及XRF原理,本内容深入探讨了XRF的相关内容，并做了整体的讲解分析。1.什么是XRF?XRF:X射线荧光光谱分析(X Ray Fluorescence)人们通常把X射线照射在物质上而产生的次级X射线叫X射线荧光（X—Ray Fluorescence），而把用来照射的X射线
XRF的优点
分析速度高。测定用时与测定精密度有关，但一般都很短，2-5分钟就可以测完样品中的全部元素。非破坏性。在测定中不会引起化学状态的改变，也不会出现试样飞散现象。同一试样可反复多次测量，结果重现性好。分析精密度高。制样简单，固体、粉末、液体样品等都可以进行分析。测试元素范围大，WDX可在ppm-100%浓
XRF检测原理
原理 （XRF）仪器由激发源（X射线管）和探测系统构成。X射线管产生入射X 射线（一次射线），激励被测样品。样品中的每一种元素会放射出的二次X射线，并且不同的元素所放出的二次射线具有特定的能量特性。探测系统测量这些放射出来的二次射线的能量及数量。然后，仪器软件将控测系统所收集的信息转换成样品中的各种
SEM相关应用二
6、在大视场、低放大倍数下观察样品，用扫描电镜观察试样的视场大：大视场、低倍数观察样品的形貌对有些领域是很必要的，如刑事侦察和考古。 7、进行从高倍到低倍的连续观察：扫描电镜的放大倍数范围很宽（从5到20万倍连续可调），且一次聚焦好后即可从高倍到低倍、从低倍到高倍连续观察，不用重新聚焦，这对进行分析
SEM解决方案
解决方案 随着用户数量的增长，phenom飞纳电镜不同的应用也在增长。除了纳米纤维，其他方面的应用案例如下： 1. 活体实验之后的药物释放系统成像2. 反应物颗粒形貌3. 摩擦和划痕测试-包含残渣水平-关于涂层、合成树脂和玻璃4. 处理和应用对于Dyneema纱线和胶带形貌的影响5. 复合材料内部填
SEM图像分析软件
SEM图片是电子扫面的图片，把微观世界放大到几千甚至上万倍，这个图片是需要你结合自身的知识背景加以专业的判断才能得出的结论的，而不是有什么软件会告诉你什么图片能说明啥。
SEM－和AFM对比
SEM 和AFM 是两种类型的显微镜,它们最根本的区别在于它们操作的环境不同。SEM 需要真空环境中进行,而AFM 是在空气中或液体环境中操作。环境问题有时对解决具体样品显得尤为重要。首先,我们经常遇到的是像生物材料这一类含水试样的研究问题。这两种技术通过不同的方法互为补偿,SEM 需要环境室,而A
sem如何调清晰
关键是聚焦，高倍聚焦，低倍成像。再就是调节对比度亮度得到一幅清晰的图像。 如果比较了解电镜的话，还要调节像散，对中等等之类的。SEM想清楚这个要自己多试条件，不同的电压、扫描速度、工作距离都是会影响图片清晰度的，当然条件确认的情况下，就是要看你的技术咯，电子束对中，像散调节，wobble，最后就是f
WD－XRF与ED－XRF的优缺点
WD－XRF与ED－XRF的区别在于前者是用分光晶体将荧光光束进行色散，而后者则是借助高分辨率敏感半导体检测器与多道分析器将所得信号按光子能量进行分离来测定各元素含量。