发布时间:2010-03-24 00:00 原文链接: X'Pert3Powder多功能粉末X射线衍射仪

X'Pert3 Powder多功能粉末X射线衍射仪
X'Pert3 Powder多功能粉末X射线衍射仪
马尔文帕纳科
马尔文帕纳科

X'Pert3 Powder

新一代高性价比的多功能X射线衍射平台

X'Pert³ Powder 是帕纳科zei新基于全面更新的X'Pert平台开发的X射线衍射系统。随着zei新电控系统的就绪,符合zei新和zei严格的X射线安全规范,安全可靠的X'Pert³ Powder已为未来做好准备。该系统为高通量,高品质的物相鉴定和定量分析、残余应力分析、掠入射衍射、X射线反射、小角度X射线散射、对分布函数分析和非常温环境衍射,均提供了一个高性价比的解决方案。

仪器简介:

  X'Pert Powder,配置超能阵列探测器,速度与强度的理想组合,满足各种粉末应用要求,具有无限扩展性。


超高频X射线发生器

采用第二代陶瓷X光管专利技术,通过精密机械加工使阳极靶材三维高精度定位,用户在更换X光管后无需重新校准路

立式测角仪,采用DOPS直接光学位置编码专利技术


技术参数:

1. 功率:3kW

2. 测角仪重现性:0.0001度

3. 设备尺寸:1975×1132×1371 mm (H×D×W)


主要特点:

灵活——无论是工业生产控制还是深入的材料研究,均可根据单独的带药求进行定制。从未知物相鉴定和混合物定量,到诸如残余应力和晶粒择优取向的微观结构属性测定,系统的应用不受任何限制,在所有领域都体现出高性能。在常温或非环境温度条件下,均可对块状材料以及薄膜进行分析。

快速——得益于帕纳科荣获专利的光学部件和平台PreFIX-即预校准光路的安装方法,只需几分钟即可完成重新配置并执行不同类型的分析。

前瞻性——如果出现新的应用,只需增加必要的模块即可。开放式硬件设计结构确保了X'Pert Powder与将来X射线衍射方面的开发兼容。



  技术参数:

  1,功率:3kW

  2,测角仪重现性:0.0001度

  3,设备尺寸:1975×1132×1371 mm (H×D×W)


参考招标参数:

5包:X射线衍射仪

一、X射线光源

1.1 X射线发生器部分。

*1.1.1 zei大输出功率:3kW 。

1.1.2 额定电压:60kV。

1.1.3 额定电流:80mA。

1.2 X射线光管部分。

1.2.1 X射线光管:Cu靶,陶瓷X光管,2.2 kW,国际标准尺寸。

1.2.2焦斑大小:0.4 x 12 mm。

1.3 电流电压稳定度:优于±0.005% (外电压波动10%)时。

1.4 X射线防护:安全连锁机构、剂量符合国标;防护罩外任何一点的计量1mSv/h。

二、测角仪部分

2.1 测角仪:采用光学编码器技术与步进马达双重定位。

2.2 扫描方式:q/q测角仪,测角仪垂直放置。

2.3 2q转动范围:-10°~168°。

2.4 测角仪半径:≥200 mm,测角圆直径可连续改变。

2.5 可读zei小步长:0.0001°,角度重现性:0.0001°。

三、探测器部分

*3.1 zei大计数:≥2 x 106 cps。

3.2 背景:<0.1 cps。

*3.3 能量分辨率:≤8.5%,完全能够分辨Ka,Kb射线,测量时无需在光路上使用滤波片。

3.4 提供探测器必须同时适合常规物相分析也适合薄膜反射率测量,不需要更换其他探测器。

四、光路部分

4.1 所有光学附件均采用模块化设计,采用无工具安装、拆卸方式。

4.2 所有光学附件智能芯片识别、自动精确定位。

4.4 采用全光路自动狭缝系统:包括自动防散射狭缝、自动发散狭缝、自动接受狭缝。

五、自动进样装置

*5.1 提供大于6位(含6位)的自动进样器。

5.2 自动进样器同时满足反射和透射测量模式。

5.3 自动进样器可编程自动控制。

六、仪器控制和数据采集系统

6.1 双核主频3..0GHz以上,2G内存,160GHD,CD-RW,19寸液晶显示器,网卡。

6.2仪器控制和数据采集软件。

七、其它应用软件

7.1 物相检索软件:含原始数据直接检索功能。

7.2 物相定量分析:可编程定量分析软件。

7.3 无标样晶粒大小分析及微观应力分析。

7.4 粉末数据指标化、结构精修、从头结构解析以及无标样定量分析软件。

*7.5 数据库:配备正版数据库,可在线更新。

八、循环水冷系统:

满足相应系统连续满功率运行(国内供货)。

九、工作条件

9.1 电力供应:单相220V(±10%),50Hz。

9.2 工作温度:10°C-40°C。

9.3 相对湿度:≤75%。

9.4 仪器运行的持久性:能够满足长时间连续工作。

十、仪器及生产商必须满足的相关国际安全标准

10.1 质量标准:ISO9001 & EN29002认证。

10.2 欧洲安全标准:CE 认证。

10.3 射线防护标准:DIN 54113认证。

十一、售后服务

1、仪器厂家有专业完整的售后服务团队,确保仪器故障和及时修复。

2、仪器自安装之日起至少一年的质保期,质保期内厂家完全保证仪器的正常使用。

3、每套仪器保证安装是现场培训,不限人数,保证操作人员具有分析测试,日常维护和应用开发的能力。

4、生产厂家在国内设有持有证书的合法培训机构,每套仪器保证2人或更多人次到厂家培训。


参考招标参数:

河南师范大学 2016 化学优势学科第一批进口设备   招标编号:豫财招标采购-2017-981  

包 B 设备二、 X 射线粉末衍射仪招标参数  

本设备已做进口产品审批 

1.设备主要用途、功能以及特点: 

功能:仪器要能够支持化学学院对衍射仪的zei新需求,能代表目前衍射仪的zei高水平和zei新技术,仪器功能具有前瞻性。 研究对象包括:标准粉末样品、微量粉末样品、固体样品、薄膜样品,包括小角散射功能模块,薄膜分析功能模块,变温分析模块。 

2.技术参数及指标: 

2.1.  射线光源与光管 

*2.1.1 zei大输出功率:≥3kW 

*2.1.2 zei大电压:≥52kV 

*2.1.3 zei大电流:≥55mA 

2.1.4 安全防护: X 射线防护:安全连锁机构、剂量优于国标,辐射量小于 1 Sv/h。提

供 2 套独立的安全电路,符合 CE 及 DIN54113 认证。 

*2.1.5 超高频电压固态发生器, 高压稳定度:0.0006%  

2.2.  金属陶瓷 X 光管: 

2.2.1 靶材及功率:Cu 靶 2.2kW 

2.2.2 zei大电压:60kV 

2.2.3 zei大电流:≥50mA 

2.2.4 保证寿命:二年 

*2.2.5 材料:全金属陶瓷(可精密加工); 更换 X 光管后无需重新校准 

2.3.  测角仪: 

2.3.1 转动方式:Theta / Theta 模式 

2.3.2 定位方式: 光学编码盘,直接光学定位系统。光学编码盘直接安装在测角仪轴上 

2.3.3 驱动方式:直流马达驱动 

2.3.4 角度重现性:+/- 0.0001 度,zei小步长:0.0001 度 

2.3.5 测角仪半径:≥200 mm,测角圆直径可连续改变。 

2.4.  基本光学系统 

2.4.1 提供聚焦光路,平行光路两套入射光路系统,用于薄膜,测试的平行光与用于粉末测试的聚焦光采用软件控制自动切换,无需人工干预,瞬时完成,无需更换阵列探测器至 0 维探测器。重现性保证,聚焦光 theta=±0.001 度,平行光 theta=±0.0025 度,提供原版盖章彩页佐证。 

2.4.2 发散狭缝一套 

2.4.3 防反射狭缝一套 

2.4.4 索拉狭缝 0.04rad  

2.4.5 所有光学附件均采用模块化设计,安装、拆卸方便快捷。 

2.4.6 所有光学附件智能芯片识别、自动精确定位。 

2.5.样品装样装置 

2.5.1 标准粉末装样装置 

2.5.2 微量粉末装样装置 

2.5.3 固体样品装样装置 

2.5.4 小角散射装样装置 

2.6.  探测器 

*2.6.1. 子探测器数量:必须大于 250 阵列点数, 适合高分辨率、高速度物相分析,保

证每个子通道完好,随机带保证书,支持固定模式扫描以及原位分析,可用于验收,提

供原版盖章彩页佐证。 

2.6.2. 工作模式:电脑控制 0 维,1 维工作方式转换,支持定点测量模式,二维模式

(面探测器)测薄膜由聚焦光路到平行光路不需要切换探测器,软件控制实现 0 维模

式,并且保证重现性; 

2.6.3. 物相分析时测量范围:从 0.3°起 

*2.6.4. 探测器动态响应范围(cps):≥1 X 10 10  

2.6.5. 线性范围(cps/m2): ≥4 X 10 7  

2.6.6. 效率(对 Cu 靶):94% 

*2.6.7. zei大背景噪声: < 0.1cps 全探测器 

*2.6.8  验收精度:国际标准样品 NIST 1976 刚玉标样现场检测,全谱范围内所有峰的

角度偏差不超过±0.01 度(20 度到 140 度),随机带保证书 

2.6.9  能量色散阵列探测器:相对与常规点探测器强度提高 450 倍,比一维探测器提高

三倍,灵敏度提高一个数量级。 

2.6.10 能量分辨率:8.5% (680ev/8000ev)完全能够分辨 Ka, K β 射线,并去铜靶测试

铁钴镍样品产生的荧光,而无需任何单色器即可达到此分辨率。可完全去除 Kbeta, 提供

原版盖章彩页佐证 

2.7.薄膜分析模块: 

2.7.1 平板准直器; 

2.7.2 薄膜厚度分析软件 

*2.8. 小角散射模块: 

*2.8.3 小角散射分析软件 

*2.8.4 小角散射参考样品 

*2.8.5 小角散射样品装样装置 

*2.8.6 具备纳米粒度分布测定,纳米孔分布测定功能 

2.9  高温附件 

2.9.1 对样品进行变温条件下的物相变化等研究工作。  

2.9.2 温度范围:室温-1200 度;加热方式:环境加热 

2.9.3 序控制升温,分别可以在真空、空气、氧化和保护气氛下使用。 

2.9.4 样品台高度调整计算机控制。 

2.10 中低温附件 

2.10.1 zei低温度为液氮温度-180 度,zei高温度为 450 度。 

2.10.2 液氮自动填充,温度程序控制,精度 0.1 度。 

2.10.3 样品台高度调整计算机控制。 

2.11 计算机系统: 

计算机:计算机控制系统: 不低于:Windows 7 操作系统, Intel core i5-

4590CPU@3.30GHz, 8 GB RAM, 2 TB hard drive, 23“ LCD monitor, 键盘,鼠标,网卡。 

3.辅助设备: 

3.1.水冷系统: 分体式循环水冷系统,稳定性能好。 

工作要求:连续工作 

控温精度:优于±1℃ 

供水流量:满足发生器要求 

水的温度:可调 

具有过热保护系统。 

3.2 空气压缩机:无油静音空压机,220V;流量≥135L/min; 压力:0.6-0.8Mpa(可

调);储气罐:≥35L 

4.软件要求: 

*4.1.软件为 Win XP 或 Win 7 操作平台,可进行设备控制,数据采集,授权安装在 5 台

计算机上 

4.2.能进行下列图形处理方式:峰形拟合功能;合并、加减、移位任何数量的扫描数据;三种背景确定/扣除方式;能够剥离 Kα2;快速傅立叶变换或平滑多项式平滑处理,支持多数据自动背景处理。 

4.3.扫描校正:样品位移,温度或压力影响,步长内插;可以自动进行或手动进行。 

4.4.对原始数据进行自动物相鉴定及打印结果报告,RIR 参考强度法直接给出半定量结果;3 维图形显示功能。 

4.5.能进行全谱线形分析计算,晶粒尺寸和微应力计算 

4.6.能对多个上数据自动进行差异和归类分析,给出分析报告,能支持其他仪器数据类型 

4.7 软件能够进行结构精修 

5. 其他资质要求: 

*5.1 提供国家环保部门所颁发的辐射安全豁免许可证 

*5.2 制造厂家必须提供 ISO9001 和 ISO14001 认证证明. 

5.3 在中国国内具有完善维修服务体系,提供备件供应,具有保税库。 

5.4 投标产品应具有在中国国内有成熟的用户群,提供用户清单。 

注: *指标为产品关键指标。 


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