一企业获得多项提升离子阱性能的专利

　　分析测试百科网讯 近日， Astrotech Corporation (NASDAQ: ASTC) 的子公司1st Detect Corporation因实现了在苛刻的环境中使用离子阱化学分析仪而获得了美国专利局（USPTO）批准的三项专利。至此，1st Detect Corporation具有已经颁发的16个美国专利和10个国际专利，而8个美国专利和12个国际专利则还有待确定。

　　1st Detect 公司是Astrotech Corporation (NASDAQ: ASTC)的子公司，是一家集开发、生产和销售性能强大、灵敏并精确的化学分析仪器厂商，所生产的产品大都销往食品、饮料、半导体、医药、健康、学术和环 境等领域，还包括国土安全局和军事中的易燃易爆和化学战争方面的检测领域。该公司的核心质谱技术，是源于与NASA的合作开发用于国际空间站的质谱技术。 该单元可以检测多种化学物质，包括来自爆炸的残留物和蒸汽物质、化学战剂、有毒化学物质、食品饮料污染和环境污染物等。所有的这些性能，并加上一个具有经 济的价格、方便运输和耐用的解决方案，使得它成为各种应用的理想工具。

　　该公司有多项关于质谱方面的专利技术，以下为1st Detect Corporation的部分专利：

　　No. 9,312,112美国专利：“样品真空室”，是有关将挥发性或者半挥发性样品引入质谱仪的方法。用拭子采样来进行收集和转移违禁品到化学分析仪进行威胁 侦测是安全部门广泛使用的手段。然而，通过加热拭子来实现气态物质的转移常常伴随着样品的热降解，因此，这限制了人们对热敏感化合物的检测。1st Detect 公司的专利提供了一种创新的方法，使用减压条件增加分析物的蒸气压而实现高效转移。

　　日本专利No. 5,895,034：“离子阱端盖电压控制”，这个专利是1st Detect公司关于离子阱技术的另一个重要创新。该技术对于小型化离子阱质谱仪来说，可以极大地提高质谱仪性能，使得检测的离子质量范围增大，同时检测 样品的浓度范围也增大。这使得1st Detect公司的小型离子阱质谱仪获得之前只在更大质谱系统才能获得的性能。

　　 Astrotech Corporation的董事长兼首席执行官Thomas B. Pickens III表示：“这些专利扩大了我们的专利组合，使得我们先进的分析技术可以在恶劣条件进行可靠的分析，并帮助公司打开市场”。同时，Thomas B. Pickens III还表示，已经有500强公司在对他们的半导体和食品行业的化学分析仪进行评估。