本文利用扫描电子显微镜(SEM)、X射线能谱仪(EDS)及图像处理系统对三元尼龙 聚甲基丙烯酸甲酯共混体系相结构进行了能谱微区分析,研究了一种利用钾元素标志尼龙相的方法,得到了共混物断面钾元素的面分布图。结果表明:X射线能谱微区分析方法可用于准确定性共混聚合物的相归属,为研究共混聚合物的相结构和相容性提供了一种新方法。