中科院上海硅酸盐研究所——透射电镜分析

一、JEM-2100F场发射透射电子显微镜

　　仪器参数： 

　　超高分辨极靴 (UHR) 

　　点分辨率：0.19nm；线分辨率：0.14nm 

　　STEM (HAADF)分辨率：0.20nm 

　　最小束斑：0.2nm 

　　样品杆最大倾斜角 (X、Y):  ±25° 

　　Oxford能谱仪 (EDS)　　　　能量分辨率：~130eV (MnK线)

　　　　　　　　　　　　　　　元素范围：⁵B ~ ⁹²U 

　　设备功能： 

　　主要用于无机材料微观结构与组成的分析和研究，仪器的功能包括： 

　　电子衍射：选区衍射、微束衍射、会聚束衍射 

　　成像：衍衬像（明、暗场像）、高分辨像 (HREM)、扫描透射像 (明场像、环状暗场像) 

　　微区成分：EDS能谱的点、线和面分析 

　　原位表征：温场下的结构演变 (加热样品杆附件：室温~1000°C) 

　　应用范围 

　　材料范围：除磁性材料之外的任何无机材料，包括粉体、薄膜和块材；不适用于有机和生物材料 

　　表征范围：微观形貌、颗粒尺寸、微区组成、元素分布 

　　　　　　　晶体结构、相组成、结构缺陷、晶界结构和组成 

　　　　　　　结构相变原位研究

　　联系方式：

　　联系人：张琳琳

　　地址：上海市定西路1295号3号楼105室

　　电话：021-52413104

　　邮件：linzi5933@mail.sic.ac.cn

二、JEM-1400 120kV透射电子显微镜

　　仪器参数:

　　加速电压：60~120kV可调

　　点分辨率：0.38nm；线分辨率：0.20nm

　　样品最大倾斜角：?25?

　　Oxford能谱仪 (EDS)：80mm2探头；5B~92U；能量分辨率：127eV (Mn K?线)

　　三维重构：样品杆最大倾角?70?；三维重构软件包

　　设备功能:

　　主要用于无机、有机和生物材料的形貌和组成分析，仪器的功能包括：

　　电子衍射、形貌像、组成的EDS能谱分析、形貌的三维重构

　　应用范围:

　　材料范围：除强磁性材料之外的任何无机材料，包括粉体、薄膜和块材；有机和生物材料

　　表征范围：微观形貌、颗粒尺寸、化学组成、三维重构等

　　联系方式：

　　联系人：姚鹤良

　　地址：上海市定西路1295号3号楼104室

　　电话：021-52413104

　　邮件：hlyao@mail.sic.ac.cn

三、FEI Tecnai G2 F20场发射透射电子显微镜

　　仪器参数：

　　加速电压：200kV

　　高分辨极靴 (S-TWIN)

　　点分辨率：0.24nm；线分辨率：0.14nm

　　STEM (HAADF)分辨率：0.19nm

　　电子束能量色散：<0.7eV

　　最大束流：>100nA；1nm束斑最大束流：>0.5nA

　　样品最大倾斜角：?40?

　　EELS (Gatan Enfina)能量分辨率：0.7eV

　　EDAX能谱仪 (EDS)：5B~92U；能量分辨率：~130eV (Mn K?线)

　　设备功能：

　　主要用于无机材料微结构与微区组成的分析和研究，仪器的功能包括：

　　电子衍射：选区衍射、微束衍射、会聚束衍射

　　成像：衍衬像（明、暗场像）、高分辨像 (HREM)、扫描透射像（明场像、环状暗场像、Z-衬度像）

　　微区成分：EELS和EDS能谱的点、线和面分析

　　应用范围：

　　材料范围：除磁性材料之外的任何无机材料，包括粉体、薄膜和块材；不适用于有机和生物材料

　　表征范围：微观形貌、颗粒尺寸、微区组成、元素分布、元素价态和化学键、晶体结构、相组成、结构缺陷、晶界结构和组成等

　　联系方式：

　　联系人：张琳琳

　　地址：上海市定西路1295号3号楼105室

　　电话：021-52413104

　　邮件：linzi5933@mail.sic.ac.cn