为什么扫描电镜（SEM）是表征纳米颗粒的实用技术

微观颗粒在各个领域中的应用飞速增长，而这些微观颗粒的使用关键在于控制其性能参数。这篇文章将解释为什么需要地对颗粒进行监测和表征，以及扫描电镜如何在这个过程中扮演重要角色，主要得益于其多功能性和的空间分辨率。

“颗粒” 指在一定尺寸范围内具有特定形状的几何体，这里所说的尺寸一般在毫米到纳米之间。实际上颗粒可以从亚原子尺寸（大小为10-15米），到微观范围的原子（0.3Å）和分子（nm-μm），再到宏观尺寸，包括尘埃粒子 ，尘土，皮肤（mm-cm）等。因此，对“颗粒”定义是相当困难的，通常可理解为颗粒在尺寸和形状方面变化很大。

微观颗粒：它们为什么如此有趣?

微观颗粒 —— 这类颗粒非常有趣，因为它们被广泛应用于陶瓷、食品工业、电子、聚合物和塑料、化妆品和制药等领域。经证明，这些颗粒的大小和形状会影响材料的性能。

纳米材料改变的不仅是光学性质，电学性质在纳米尺寸上也可能不同，一些导体材料可以变成半导体，反之亦然。因此，颗粒的尺寸作为一个重要因素，可以影响它们在许多不同应用中的性质。

例如，它可能会影响医疗应用上的传输效率，催化过程中的反应活性和溶解速率，以及陶瓷样品的孔隙率等。这类纳米颗粒由于其较高的比表面积，从而能吸收和携带多种化合物，因此在医学上用于药物输送是非常有吸引力。

除了尺寸，颗粒的形状也是决定性因素之一，会影响材料的性质，从而影响终产品的性能。与尺寸类似，形状可以改变食物的质感，以及医疗药剂的流动性和反应活性等。此外，颗粒的其它特性，如凹凸性和圆度也很重要，因为它们也会影响其性质。

获取颗粒图像

很明显，颗粒由于其性质可变及巨大的应用潜力，已经吸引了许多来自世界各地不同领域研究者们的关注。原则上，材料的性能可以通过控制尺寸和形状来调整。为了达到这一目的，人们使用了许多表征技术来获得颗粒形状和尺寸分布。

通常，输出关于颗粒特性的结果是具有挑战性的，不仅要涉及统计性，还要涉及准确性。为了达到这个目的，飞纳电镜的颗粒统计分析测量系统（图3）可以促进这个过程。它结合了高分辨率电子成像与自动分析，对所获取的颗粒图片自动统计、分析并输出测试报告，从这份测试报告中不仅可以获取颗粒的尺寸和形状，还可以得到颗粒的凹凸度、圆度、表面积和体积等许多其他特性。