发布时间:2025-10-10 09:43 原文链接: 关于MOFs表征,你想知道的都在这里!

近日,2025 年诺贝尔化学奖公布,授予北川进(Susumu Kitagawa)、理查德·罗布森(Richard Robson)和奥马尔·亚吉(Omar Yaghi),以表彰“他们对金属-有机框架的发展”。

三位获奖者创造了一种具有巨大空间的分子结构,使气体和其他化学物质能够在其中流动。这些结构被称为金属有机框架(Metal–Organic Frameworks,简称 MOFs),可用于从沙漠空气中提取水分、捕获二氧化碳、储存有毒气体,或催化化学反应。

金属有机骨架材料(Metal–Organic Frameworks,简称MOFs)是一类由金属离子或金属簇通过有机配体连接形成的多孔晶态材料(如图1)。它们的结构可视作“金属节点+有机桥梁”的三维网络,既具无机材料的稳定性,又具有机化学的可设计性。凭借这种灵活的构筑方式,MOFs 几乎可以由元素周期表中任意金属与多种类型的配体(如羧酸、咪唑、膦酸等)组成,从而实现孔径、极性及化学环境的精确调控。

图1 金属有机骨架示意图

  自20世纪90年代具永久孔隙的MOF首次问世以来,该领域已发展出数以千计的结构体系,如经典的HKUST-1、MIL-101等。它们拥有超高比表面积与孔体积,可在气体吸附、储氢、分离、催化乃至药物递送等方向展现出独特性能。部分柔性MOFs还能在吸附或温度变化下发生可逆结构转变,呈现出“呼吸效应”等动态特征。正因其多样、可调与功能化的特性,MOFs已成为多孔材料研究的核心之一,也为后续的吸附性能与表征方法研究提供了丰富的科学基础。

MOFs表征

  MOFs的基础表征数据通常包括:粉末X射线衍射(PXRD)图谱,用于确定材料的结晶性和相纯度;氮气(N2)吸附/脱附等温线,用于验证材料的孔隙结构并计算其表观比表面积。

  此外,常用的补充表征技术和方法还包括:

热重分析(TGA),用于评估MOFs的热稳定性,并在某些情况下用于估算孔体积;

  水稳定性测试,用于判断MOFs在水中及不同pH环境下的结构稳定性;

扫描电子显微镜(SEM),用于测量晶体尺寸和形貌,并可结合能量色散X射线光谱(EDS)分析元素组成与分布;

核磁共振(NMR)光谱,用于分析样品的整体纯度,并可定量混合配体MOFs中的配体比例;

电感耦合等离子体发射光谱(ICP-OES),用于测定样品纯度及元素比例;

漫反射红外傅里叶变换光谱(DRIFTS),用于确认框架中红外活性官能团的存在或缺失;

单晶X射线衍射(XRD),可提供材料的精确结构信息。

  以下将简要介绍每种表征技术的样品制备与数据分析要点。

  1.粉末X射线衍射(PXRD)

  PXRD用于判断材料的晶型与相纯度。通过将实验衍射图谱与基于单晶XRD数据模拟得到的图谱进行对比,可确认材料的相纯度。样品通常以粉末形式压片或装入毛细管中测定,并在测试过程中旋转以避免特定取向造成的峰强差异。若衍射峰明显展宽,通常表明晶粒尺寸较小而非结晶度差。

  2.氮气吸脱附等温线分析

  氮气(N2)吸脱附等温线在77 K下测定,用于确认材料的孔隙结构、计算比表面积与孔容,并辅助判断孔径分布。为保证测量可靠,测试前样品需充分活化以去除孔内溶剂,且样品用量关键——通常样品质量(克)与比表面积(m2/g)的乘积应不少于100m2。数据分析中,通常采用BET模型计算表面积,通过选取等温线的线性区并满足Rouquerol准则,可获得准确的表面积结果。选区不当可能导致比表面积偏差高达数倍(见图2、表1)。国仪量子Climber及SiCOPE系列仪器提供BET一键智能选点功能,可自动识别正确线性区,消除人为偏差,即使是MOFs材料也能获得可靠BET结果。

  孔径与孔容分析则多采用密度泛函理论(DFT)模型或BJH模型,其中DFT方法被广泛用于MOFs的孔结构分析,尤其适用于孔径约为2 nm或更小的介孔与微孔体系。国仪量子SiCOPE系列微孔分析仪配备MOFs专用NLDFT模型及多种BJH修正方法,为高精度孔径分析提供可靠保障。若实验孔径分布与晶体结构模型存在明显差异,可能提示框架缺陷、孔道堵塞或部分塌陷。吸脱附滞后环(hysteresis)亦可反映结构柔性或吸附质诱导的孔结构变化。

图2 (a) Rouquerol图,其中只有虚线左侧的数据点应被选取;(b) 氮气吸附/解吸等温线,显示用于绘制c(绿色)和d(粉色)BET图的区间;(c) BET图,取自 p/p0 = 0.17−0.27;(d) BET图,取自 p/p0 = 0.004−0.05;在c和d中,实线对应于 n(m) 时的 p/p0(Rouquerol准则(iii)),虚线对应于 1/√C + 1(Rouquerol准则(iv));在(c)中,实线未显示,因为单分子层容量高于(b)中等温线的最高点。


表1 使用图2中c部分(绿色)和d部分(粉色)拟合所得到的BET面积、斜率、截距、常数C、单分子层容量n(m)、R²、1/√C + 1以及n(m)对应的p/p0值

  3.热重分析(TGA)

  TGA用于评估材料的热稳定性及估算孔道中溶剂可及孔体积。测试载气(如N2、空气或O2)会显著影响分解行为,应在报告中说明。结合变温PXRD或吸附实验,可进一步验证热处理后结构的稳定性。对于含溶剂样品,TGA中溶剂失重部分可粗略反映孔体积,但应注意因残留或提前蒸发造成的误差。

  4.扫描电子显微镜(SEM)

  SEM用于观察晶体形貌与尺寸,并可结合能谱(EDS)分析元素组成及分布。由于MOFs多为绝缘体,易产生电荷积累导致成像伪影,通常需镀导电层(如金或锇)。电子束加速电压的选择也会影响图像分辨率与表面细节:高电压可获得更清晰的晶体轮廓,但易损失表面信息甚至引起局部结构损伤。EDS定量分析时需避免镀层元素信号干扰,如锇镀层中常含钇杂质,可能与目标金属峰重叠。

图3 PCN-222(Fe)的SEM图像,分别为有锇镀层(a和c)和无锇镀层(b和d),加速电压分别为2 kV(a和b)或15 kV(c和d)。比例尺为5 μm。

  5.其他辅助表征

  ICP-OES/MS:用于定量分析金属比例及检测杂质或浸出情况。样品需经酸消解完全溶解后再测试。NMR光谱:通过消解法测定有机配体比例、残留调节剂及溶剂去除情况;固态NMR则可探测框架中配体化学环境及分子相互作用。DRIFTS红外漫反射光谱:用于确认框架中特征官能团,并可在载气或变温条件下研究吸附行为。综上,多手段表征的结合能够从结构、孔隙及化学组成等多个维度揭示MOFs材料的完整特征,为性能分析与机理研究提供可靠依据。

参考文献:

1.Rouquerol 等,《粉体与多孔固体材料的吸附:原理、方法与应用》,第14章,Academic Press,2015。

2.Howarth等,Chem.Mater.2017,29,26-39.DOI: 10.1021/acs.chemmater.6b0262

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