分体化传感器涂层测厚仪

　功能：测量导磁物体上的非导磁涂层和非磁性金属基体上的非导电覆盖层的厚度
　　
　　测量方法：F磁感应NF涡流
　　
　　测量范围：0-1250um/0-50mil（标准量程）
　　
　　zui小曲面:F:凸1.5mm/凹25mmN:凸3mm/凹50mm
　　
　　分辨率：0.1/1
　　
　　zui小测量面积：6mm
　　
　　zui薄基底：0.3mm
　　
　　自动关机
　　
　　使用环境：温度：0-40℃湿度：10-90%RH
　　
　　准确度：±（1-3%n）或±2um
　　
　　公制/英制：可选择
　　
　　电源：4节7号电池
　　
　　电池电压指示：低电压提示
　　
　　外形尺寸：126X65X27mm重量：81g（不含电池）
　　
　　可选附件:（点击链接）
　　
　　1RS-232或联机线及软件
　　
　　2.可定制量程（大量程传感器）可选:0-200umto18000um
　　
　　应用：用磁性传感器测量钢、铁等铁磁质金属基体上的非铁磁性涂层、镀层，例如：漆、粉末、塑料、橡胶、合成材料、磷化层、铬、锌、铅、铝、锡、镉、瓷、珐琅、氧化层等。用涡流传感器测量铜、铝、锌、锡等基体上的珐琅、橡胶、油漆、塑料层等。广泛用于制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域。
　　
　　3、X荧光测厚仪（UTX650B、UTX850B）
　　
　　X荧光测厚仪是比较高阶的测厚仪，是无损检测的，可以测量电镀镀层的厚度，zui多可以测量6层，测量范围是0.01um-50um，因不同的镀种有差异。
　　
　　工作原理，原子核内部的电子被X射线激发后，逃逸出电子，为达到稳定状态，外层的电子会向内层跃迁，释放出能量，每种原子都有自己的特征的X荧光，能量色散型光谱仪是将X射线照射到样品上，通过收集其产生的X荧光的能量及强度进行定性和定量分析的。
　　
　　光谱仪同时可以做元素分析（分析材料中金属材料的成分）、镀液分析、贵金属分析，珠宝鉴定。