X荧光测厚仪采用了磁性测厚法：是一种超小型丈量仪,X荧光测厚仪能快速,无损伤,切确地进行铁磁性金属基体上的喷涂.电镀层厚度的丈量，可普遍用于制造业,金属加工业,化工业,商检等检测领域.出格适用于工程现场丈量。
X荧光测厚仪采用二次荧光法：它的原理是物资经X射线或粒子射线照射后，由于吸收过剩的能量而酿成不稳定的状态。从不稳定状态要回到稳定状态，此物资必需将过剩的能量释放出来，而此时是以荧光或光的形态被释放出来。荧光X射线镀层厚度丈量仪或成份分析仪的原理就是丈量这被释放出来的荧光的能量及强度，来进行定性和定量分析。
在生产进程中如何选择X荧光测厚仪呢?
首先取决于你所测产物的结构.若是只是简单的涂层,铜箔使用普通的X荧光测厚仪就能够解决了.如：铜箔测厚仪,涂层测厚仪.
若是测电镀层的厚度,而且具有几层镀层,那末就要使用x-射线X荧光测厚仪.单镀层厚度年夜于0.5um的还可以采用金相法观察.
2018年6月19日，英国牛津：日立分析仪器公司（日立分析仪器），是日立高新技术公司（TSE：8036）旗下一家从事分析和测量仪器的制造与销售业务的全资子公司。今日，日立分析仪器拓展了XRF镀层测厚仪......
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