| 仪器名称： | 存储器老化测试系统-IT&T B3000ES |
| 仪器编号： | 18026683 |
| 产地： | 156 |
| 生产厂家： | IT&T CO.,Ltd |
| 型号： | B3000ES |
| 出厂日期： | |
| 购置日期： | 2018/10/25 |
| 所属单位： | 集成电路学院>微纳加工平台>高精尖 |
| 放置地点： | 荷清大厦高精尖一层实验室 |
| 固定电话： | |
| 固定手机： | 15510039166 |
| 固定email： | dengmeijing@mail.tsinghua.edu.cn |
| 联系人： | 邓美静（010-62791168,15510039166,dengmeijing@mail.tsinghua.edu.cn） |
| 分类标签： | 集成电路 |
| 技术指标： | 1、 ALPG存储器自动算法产生功能，X/Y/Z Address:为X24/Y24/Z24 bits,Data: 为36bit*2, Index Register: 为32bit*8； 2、DBM: 为16Gb, AFM: 为2Mb/Dut； 3、 Instruction Memory Depth: 为1KWord； 4、测试系统频率：为200Mhz/400Mbps； 5、Pin Electronics Board： VIH >=3.7V, VIL<=0.4mV, 精度±(1%+5mV)； VOH >=3.7V, VOL<=0.4mV, 精度±(1%+5mV)； 6、 PPS Board： 电压范围及精度：为 -1~4V，精度±(1%+5mV)； 满足≤1uA的电流测试； 7、 Chamber可控温度范围及精度：50℃~125℃, ±3℃； |
| 知名用户： | 吴华强（微电子） |
| 技术团队： | 测试工作由实验室资深的工程师或者技术人员进行操作和支援。 |
| 功能特色： | 这套系统可以在高温环境下进行pattern测试，测试集成电路的可靠性。 |
| 项目名称 | 计价单位 | 费用类别 | 价格 | 备注 |
|---|---|---|---|---|
| 存储器老化测试系统测试费 | 元/小时 | 自主上机机时费 | 120.0 |