存储器老化测试系统IT&TB3000ES共享
仪器名称：存储器老化测试系统-IT&T B3000ES仪器编号：18026683产地：156生产厂家：IT&T CO.,Ltd型号：B3000ES出厂日期：购置日期：2018/10/25所属单位：集成电路学院>微纳加工平台>高精尖放置地点：荷清大厦高精尖一层实验室固定电话：固定手机：15510039166固定email：dengmeijing@mail.tsinghua.edu.cn联系人：邓美静（010-62791168,15510039166,dengmeijing@mail.tsinghua.edu.cn）分类标签：集成电路技术指标：1、 ALPG存储器自动算法产生功能，X/Y/Z Address:为X24/Y24/Z24 bits,Data: 为36bit*2, Index Register: 为32bit*8；2、DBM: 为16Gb, AFM: 为2Mb/Dut；3、 Instructio......阅读全文
存储器老化测试系统ITT－B3000ES共享
仪器名称：存储器老化测试系统-IT&T B3000ES仪器编号：18026683产地：156生产厂家：IT&T CO.,Ltd型号：B3000ES出厂日期：购置日期：2018/10/25所属单位：集成电路学院>微纳加工平台>高精尖放置地点：荷清大厦高精尖一层实验室固定电话：固定手机：15510039