X射线衍射(X-ray diffraction)简写为XRD。通过对材料进行X射线衍射,分析其衍射图谱,获得材料的成分、材料内部原子或分子的结构或形态等信息的研究手段。
XRD可用于确定晶体的原子和分子结构。其中晶体结构导致入射X射线束衍射到许多特定方向。 通过测量这些衍射光束的角度和强度,晶体学家可以产生晶体内电子密度的三维图像。
根据该电子密度,可以确定晶体中原子的平均位置,以及它们的化学键和各种其他信息。
