岛津X射线光电子能谱仪AXISSUPRA+进入ANTOP专家评审阶段

　　面朝大海，春暖花开，希望如期而至的不止春天，2020 ANTOP奖正在火热进行中，多家科学仪器企业竞相参与了申报。经过广大网络用户踊跃参与和热情投票，岛津Kratos X射线光电子能谱仪AXIS SUPRA+申报的“高度智能化光电子能谱技术奖”已率先进入专家评审阶段！

　　X射线光电子能谱技术（XPS）是材料与元器件显微分析中的一种先进分析技术，它不但为化学研究提供分子结构和原子价态方面的信息，还能为材料研究提供各种化合物的元素组成和含量、化学状态、分子结构、化学键方面的信息。

　　近年来，中国已成为带动全球半导体市场增长的主要动力，而失效分析对于提高半导体产品质量、技术开发、改进、产品修复及仲裁失效事故等方面具有很强的实际意义。岛津的AXIS SUPRA+已经在半导体器件的引脚迹斑分析、引脚迹斑分析中得到了证明。不仅如此，岛津AXIS SUPRA+还有以下特点：

　　卓越的自动化技术

　　● 无人值守自动进行样品传输和交换

　　● 硬件自动化控制，实时监测谱仪状态和校准

　　超强的表面分析能力

　　● 具有高性能XPS分析、快速平行化学成像分析、小束斑微区分析

　　● 利用角分辨、高能X射线源、深度剖析可以实现从超薄到超厚的深度分析

　　● 多种功能附件（惰性气体传输器、高温高压催化反应池等）和可拓展多种表面分析技术，如紫外光电子能谱（UPS），离子散射谱（ISS），反射电子能量损失谱（REELS），俄歇电子能谱和扫描俄歇电子显微镜（AES和SAM）等等

　　高效智能工作流程适合多用户环境

　　● 高吞吐量、快速队列样品分析模式实现连续分析

　　● AXIS SUPRA+采用的通用表面分析ESCApe软件系统使用户与谱仪的交互简单化和智能化，可以进行谱仪的控制、数据的采集和分析

　　关于ANTOP奖项

　　您可以是单位、也可以是个人，只要在分析测试行业取得的各类可证明的突出成绩，并满足以下几点，就可申报本奖项哦：

　　1、您的突出成绩有利于推动分析测试行业的正向发展；

　　2、该成绩必须有现实可查的证明材料；

　　3、是分析测试百科网的注册会员。

　　ANTOP频道全新升级，更大的平台，记录更好的你！

　　申报流程：

　　ANTOP申报评审流程

　　注：奖项权利人为个人，所申报的应用类奖项不收取任何费用

　　奖项简介：

　　我国分析测试行业发展迅猛，短短几十年，已从落后状态，发展为跻身世界前列。具有效数据显示，我国科技论文被引次数排名已跃至世界第二。这是无数的科研工作者不懈努力的成果。

　　铭记历史是前行的动力！分析测试百科网特别设立的“ANTOP奖”，是为了记录最被行业人士认同、对行业产生卓越贡献或独特影响的人/物/事。我们坚信，促进行业发展的每一个“标识”，都能被发现，都应被记载！

　　ANTOP奖项三大特色：

　　1、打破条框：奖项名称自主设置，人/物/事类型不限，更能彰显申报者独一无二的特色和优势；

　　2、打破暗箱：360°+交互式展示参选内容，让申报者更充分表现，接受更公开审视；

　　3、打破威权：专业评审+行业网友联合评选，既保证专业公正，又调动行业参与。

　　ANTOP奖项自2017年开启以来，已成功举办4届，得到广大同仁的热烈响应，经过紧张激烈、专业严格的奖项申报、网络评审、专家审核三大环节，各大厂商最终迎来他们的闪耀时刻。

　　ANTOP首页专区及专属频道已经正式开启，各位申报者、大众评审员及吃瓜网友都可以随时在这里看到第一手消息哦！频道链接：http://www.antpedia.com/antop/