常见的粒度测试方法及其优缺点

    常用的粒度测试方法有筛分法、显微镜（动态/静态图象）法、沉降法、光阻法、电阻法、激光法、电子显微镜法、透气法、动态光散射法、X射线小角散射法等。
    1) 筛分法：优点：简单、直观、设备造价低、常用于大于40 μm的样品。缺点：结果受人为因素和筛孔变形影响较大。
    2) 显微镜（图像）法：优点：简单、直观、可进行形貌分析，适合分布窄（最大和最小粒径的比值小于10：1）的样品。缺点：代表性差，分析分布范围宽的样品比较麻烦，无法分析小于1 μm的样品。
    3) 沉降法（包括重力沉降和离心沉降）：优点：操作简便，仪器可以连续运行，价格低，准确性和重复性较好，测试范围较大。缺点：测试时间较长，操作比较繁琐。
    4) 电阻法：优点：操作简便，可测颗粒数，等效概念明确，速度快，准确性好。缺点：不适合测量小于0.1 μm的颗粒样品，对粒度分布宽的样品更换小孔管比较麻烦。
    5) 激光法：优点：操作简便，测试速度快，测试范围大，重复性和准确性好，可进行在线测量和干法测量。缺点：结果受分布模型影响较大，仪器造价较高，分辨力低。
    6) 电子显微镜法：优点：适合测试超细颗粒甚至纳米颗粒，分辨力高，可进行形貌和结构分析。缺点：样品少，代表性差，测量易受人为因素影响，仪器价格昂贵。
    7) 光阻法：优点：测试便捷快速，可测液体或气体中颗粒数，分辨力高。缺点：不适用粒径<1μm的样品，进样系统比较讲究，仅适合尘埃、污染物或已稀释好的药物进行测量，对一般粉体用的不多。
    8) 透气法：优点：仪器价格低，不用对样品进行分散，可测磁性材料粉体。缺点：只能得到平均粒度值，不能测粒度分布；不能测小于5μm细粉。
    9) X射线小角散射法：用于纳米级颗粒的粒度测量。
    10) 光子相关谱法(动态光散射法)：用于纳米级颗粒的粒度测量。