日立：纳米级分析透射式电子显微镜

日立高新技术上市可进行稳定纳米级分析的透射式电子显微镜

日立高新技术（Hitachi HighTechnologies）2007年5月14日推出了新型场发射型透射式电子显微镜（FE-TEM）“HF-3300型”，分辨率为0.1nm、能够以纳米级别的分辨率稳定地分析原子水平的极微小材料。

新产品采用了冷阴极场发射电子枪，具有高亮度和高分辨率。同时通过在电子枪上结合使用300kV的高加速电压，实现了高稳定性。作为一种分析电镜，除配置能量色散型X射线分析装置（EDX）和电子能量损失谱仪（EELS）外，还支持电子束全息摄影、位置分析型EELS及纳米电子束衍射等新分析方法。

HF-3300型新型场发射型透射式电子显微镜（FE-TEM）

透射式电子显微镜的加速电压越高，分辨率和透射力就越出色。在原子序数大、电子束难以穿透的金属及陶瓷的观察方面，可发挥300kV高加速电压的优点，无论试料的厚度和构成如何，均可进行稳定的超高分辨率观察。

该产品标准价格为2亿8500万日元。预计07年度可获得5台订单。预定从07年9月开始供货。